[發明專利]電芯尺寸測量方法、裝置及系統

在審

• 申請號: 202110957261.2
• 申請日: 2021-08-20
• 公開（公告）號: CN113405475A
• 公開（公告）日: 2021-09-17
• 發明（設計）人: 吳軒;冉昌林;劉超;蔡漢鋼
• 申請（專利權）人: 武漢逸飛激光股份有限公司
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02;G01B11/08
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 張睿

本發明提供一種電芯尺寸測量方法及、裝置及系統，該方法包括：獲取待測電芯的俯視圖像；基于所述俯視圖像，獲取所述待測電芯的類型；在所述待測電芯的類型是圓柱電芯的情況下，獲取所述待測電芯的左視圖像；基于所述待測電芯的俯視圖像和所述待測電芯的左視圖像，獲取所述待測電芯的尺寸信息；其中，所述待測電芯的尺寸信息包括所述待測電芯的長度和直徑。本發明提供的電芯尺寸測量方法及、裝置及系統，基于對待測電芯的俯視圖像識別出電芯類型，若其類型是圓柱電芯，則獲取待測電芯的左視圖像，對待測電芯的俯視圖像和左視圖像進行圖像處理，得到該類型的待測電芯的長度和直徑，能夠提高電芯尺寸測量的準確度，有效規避人工測量帶來的誤差。

技術領域

本發明涉及電池技術領域，尤其涉及一種電芯尺寸測量方法及、裝置及系統。

背景技術

電芯是指單個含有正、負極的電化學電芯，一般不直接使用。區別于電池含有保護電路和外殼，可以直接使用。

電芯是充電電池中的蓄電部分，在組裝充電電池的過程中，必須要確保電芯的尺寸符合規格。通常，需要對電芯尺寸進行人工測量，但是人工測量可能會因操作人員的操作誤差導致測量出的數據不準確，以及人工測量的測量效率低。

發明內容

本發明提供一種電芯尺寸測量方法及、裝置及系統，用以解決現有技術中人工測量準確度低的缺陷，實現根據采集到的圖片，對圖片中的待測電芯進行高精度的尺寸測量。

本發明提供一種電芯尺寸測量方法，包括：

獲取待測電芯的俯視圖像；

基于所述俯視圖像，獲取所述待測電芯的類型；

在所述待測電芯的類型是圓柱電芯的情況下，獲取所述待測電芯的左視圖像；

基于所述待測電芯的俯視圖像和所述待測電芯的左視圖像，獲取所述待測電芯的尺寸信息；

其中，所述待測電芯的尺寸信息包括所述待測電芯的長度和直徑。

根據本發明提供的一種電芯尺寸測量方法，在所述基于所述俯視圖像，獲取所述待測電芯的類型之后，還包括：

在所述待測電芯的類型是軟包電芯的情況下，基于所述待測電芯的俯視圖像，獲取所述待測電芯的尺寸信息；

其中，所述待測電芯的尺寸信息包括所述待測電芯的總長度和極耳的長度。

根據本發明提供的一種電芯尺寸測量方法，在所述獲取待測電芯的俯視圖像之前，還包括：

獲取與所述待測電芯的俯視圖像對應的第一換算系數；

獲取與所述待測電芯的左視圖像對應的第二換算系數。

根據本發明提供的一種電芯尺寸測量方法，所述基于所述待測電芯的俯視圖像和所述待測電芯的左視圖像，獲取所述待測電芯的尺寸信息，具體包括：

基于所述待測電芯的俯視圖像，獲取所述待測電芯的第一像素距離，并基于所述待測電芯的左視圖像，所述待測電芯的第二像素距離；

基于所述第一像素距離和所述第一換算系數，獲取所述待測電芯的長度，并基于所述第二像素距離和所述第二換算系數，獲取所述待測電芯的直徑。

根據本發明提供的一種電芯尺寸測量方法，所述在所述待測電芯的類型是軟包電芯的情況下，基于所述待測電芯的俯視圖像，獲取所述待測電芯的尺寸信息，具體包括：

基于所述待測電芯的俯視圖像，獲取所述待測電芯的第三像素距離和第四像素距離；

基于所述第三像素距離和所述第一換算系數，獲取所述待測電芯的總長度，并基于所述第四像素距離和所述第一換算系數，獲取所述待測電芯的極耳長度。

根據本發明提供的一種電芯尺寸測量方法，所述基于所述待測電芯的俯視圖像，獲取所述待測電芯的第一像素距離，具體包括：

對所述待測電芯的俯視圖像進行輪廓提取，得到第一輪廓；

基于所述第一輪廓，獲取所述待測電芯的第一像素距離；