[發明專利]電芯尺寸測量方法、裝置及系統在審
| 申請號: | 202110957261.2 | 申請日: | 2021-08-20 |
| 公開(公告)號: | CN113405475A | 公開(公告)日: | 2021-09-17 |
| 發明(設計)人: | 吳軒;冉昌林;劉超;蔡漢鋼 | 申請(專利權)人: | 武漢逸飛激光股份有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/02 | 分類號: | G01B11/02;G01B11/08 |
| 代理公司: | 北京路浩知識產權代理有限公司 11002 | 代理人: | 張睿 |
| 地址: | 430000 湖北省武漢市東湖新技術開發區高*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 尺寸 測量方法 裝置 系統 | ||
1.一種電芯尺寸測量方法,其特征在于,包括:
獲取待測電芯的俯視圖像;
基于所述俯視圖像,獲取所述待測電芯的類型;
在所述待測電芯的類型是圓柱電芯的情況下,獲取所述待測電芯的左視圖像;
基于所述待測電芯的俯視圖像和所述待測電芯的左視圖像,獲取所述待測電芯的尺寸信息;
其中,所述待測電芯的尺寸信息包括所述待測電芯的長度和直徑。
2.根據權利要求1所述的電芯尺寸測量方法,其特征在于,在所述基于所述俯視圖像,獲取所述待測電芯的類型之后,還包括:
在所述待測電芯的類型是軟包電芯的情況下,基于所述待測電芯的俯視圖像,獲取所述待測電芯的尺寸信息;
其中,所述待測電芯的尺寸信息包括所述待測電芯的總長度和極耳的長度。
3.根據權利要求1或2所述的電芯尺寸測量方法,其特征在于,在所述獲取待測電芯的俯視圖像之前,還包括:
獲取與所述待測電芯的俯視圖像對應的第一換算系數;
獲取與所述待測電芯的左視圖像對應的第二換算系數。
4.根據權利要求3所述的電芯尺寸測量方法,其特征在于,所述基于所述待測電芯的俯視圖像和所述待測電芯的左視圖像,獲取所述待測電芯的尺寸信息,具體包括:
基于所述待測電芯的俯視圖像,獲取所述待測電芯的第一像素距離,并基于所述待測電芯的左視圖像,所述待測電芯的第二像素距離;
基于所述第一像素距離和所述第一換算系數,獲取所述待測電芯的長度,并基于所述第二像素距離和所述第二換算系數,獲取所述待測電芯的直徑。
5.根據權利要求3所述的電芯尺寸測量方法,其特征在于,所述在所述待測電芯的類型是軟包電芯的情況下,基于所述待測電芯的俯視圖像,獲取所述待測電芯的尺寸信息,具體包括:
基于所述待測電芯的俯視圖像,獲取所述待測電芯的第三像素距離和第四像素距離;
基于所述第三像素距離和所述第一換算系數,獲取所述待測電芯的總長度,并基于所述第四像素距離和所述第一換算系數,獲取所述待測電芯的極耳長度。
6.根據權利要求4所述的電芯尺寸測量方法,其特征在于,所述基于所述待測電芯的俯視圖像,獲取所述待測電芯的第一像素距離,具體包括:
對所述待測電芯的俯視圖像進行輪廓提取,得到第一輪廓;
基于所述第一輪廓,獲取所述待測電芯的第一像素距離;
并基于所述待測電芯的左視圖像,獲取所述待測電芯的第二像素距離,具體包括:
對所述待測電芯的左視圖像進行輪廓提取,得到第二輪廓;
基于所述第二輪廓,獲取所述待測電芯的第二像素距離。
7.一種電芯尺寸測量裝置,其特征在于,包括:
俯視圖像獲取模塊,用于獲取待測電芯的俯視圖像;
類型識別模塊,用于基于所述俯視圖像,獲取所述待測電芯的類型;
左視圖像獲取模塊,用于在所述待測電芯的類型是圓柱電芯的情況下,獲取所述待測電芯的左視圖像;
第一尺寸信息獲取模塊,用于基于所述待測電芯的俯視圖像和所述待測電芯的左視圖像,獲取所述待測電芯的尺寸信息;
其中,所述尺寸信息包括所述待測電芯的長度和直徑。
8.一種電芯尺寸測量系統,其特征在于,包括第一攝像頭、第二攝像頭和如權利要求7所述的電芯尺寸測量裝置;
所述第一攝像頭與所述電芯尺寸測量裝置通信連接,用于拍攝所述待測電芯的俯視圖像;
所述第二攝像頭與所述電芯尺寸測量裝置通信連接,用于拍攝所述待測電芯的左視圖像。
9.一種電子設備,包括存儲器、處理器及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的計算機程序,其特征在于,所述處理器執行所述程序時實現如權利要求1至6任一項所述的電芯尺寸測量方法的步驟。
10.一種非暫態計算機可讀存儲介質,其上存儲有計算機程序,其特征在于,所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1至6任一項所述的電芯尺寸測量方法的步驟。
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