[發明專利]芯片測試防呆方法及系統

在審

• 申請號: 202110918095.5
• 申請日: 2021-08-11
• 公開（公告）號: CN113359014A
• 公開（公告）日: 2021-09-07
• 發明（設計）人: 王庚
• 申請（專利權）人: 深圳英集芯科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 熊永強

本申請實施例公開了一種芯片測試防呆方法及系統，應用于芯片測試系統，芯片測試系統包括測試機、控制器和分類機，測試機包括多個單板自動化測試設備ATE；該方法包括：控制器分別接收來自多個單板ATE的握手信號，得到多個握手信號，每個握手信號包括第一握手ID；控制器根據第一握手ID判斷多個單板ATE是否與控制器握手成功；若多個單板ATE與控制器均握手成功，控制器進行芯片測試。本申請通過在單板ATE與控制器之間增加握手識別，當多個單板ATE與控制器均握手成功時，控制器才作為信號流通橋中轉單板ATE和分類機發送的信號，從而實現對芯片測試過程中多接口的接線方式進行防呆，避免因接線錯誤造成的損失。

技術領域

本申請涉及芯片測試技術領域，尤其涉及一種芯片測試防呆方法及系統。

背景技術

芯片，又稱微電路(microcircuit)、微芯片(microchip)、集成電路(integratedcircuit)，是指內含集成電路的硅片，體積很小，是計算機等電子設備的重要組成部分。由于芯片結構精細、制造工藝復雜、流程繁瑣，不可避免地會在生產過程中留下潛在的缺陷，使制造完成的芯片不能達到標準要求，隨時可能因為各種原因而出現故障。因此，為了確保芯片質量，通常會對芯片進行測試(包括電學參數測量和功能測試等多個測試項目)，以便將良品和不良品分開。

目前一般是采用相關的自動測試設備（Automatic Test Equipment，ATE）設備，開發相對應的測試程序進行測試。其中一個單板ATE有多個BIN信號接口，每個接口常見的接線方式包括 SOT，EOT，BIN1，BIN2，POWER，GND等。但是當前接線無論是在軟件方面還是硬件方面均難以對多BIN信號接口的接線方式進行防呆處理，因此當操作人員在接線過程中存在接線錯誤時，會給生產造成重大損失。

發明內容

本申請實施例提供了一種芯片測試防呆方法及系統，通過在單板ATE與控制器之間增加握手識別，能夠實現對芯片測試過程中多接口的接線方式進行防呆。

第一方面，本申請實施例提供一種芯片測試防呆方法，應用于芯片測試系統，所述芯片測試系統包括測試機、控制器和分類機，所述測試機包括多個單板自動化測試設備ATE，所述方法包括：

所述控制器分別接收來自所述多個單板ATE的握手信號，得到多個握手信號，每個握手信號包括第一握手ID，所述第一握手ID用于標識所述單板ATE；

所述控制器根據所述第一握手ID判斷所述多個單板ATE是否與所述控制器握手成功；

若所述多個單板ATE與所述控制器均握手成功，所述控制器進行芯片測試。

第二方面，本申請實施例提供的一種芯片測試防呆方法，應用于芯片測試系統，所述芯片測試系統包括測試機、控制器和分類機，所述測試機包括多個單板自動化測試設備ATE，所述方法包括：

所述多個單板ATE中每個單板ATE通過第一BIN信號接口向所述控制器發送握手信號，所述握手信號包括握手ID，所述握手ID用于標識所述單板ATE。

第三方面，本申請實施例提供的一種芯片測試防呆系統，所述芯片測試系統包括測試機、控制器和分類機，所述測試機包括多個單板自動化測試設備ATE，所述控制器用于執行第一方面所述的方法的步驟，所述多個單板ATE于執行上述第二方面所述的方法的步驟。

第四方面，本申請實施例提供一種電子設備，所述電子設備包括處理器、存儲器和通信接口，所述存儲器存儲有一個或多個程序，并且所述一個或多個程序由所述處理器執行，所述一個或多個程序包括用于執行上述第一方面或第二方面所述的方法中的步驟的指令。

第五方面，本申請實施例提供一種計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質存儲用于電子數據交換的計算機程序，其中，所述計算機程序使得計算機執行上述第一方面或第二方面所述的方法中所描述的部分或全部步驟。