[發明專利]芯片測試防呆方法及系統

在審

• 申請號: 202110918095.5
• 申請日: 2021-08-11
• 公開（公告）號: CN113359014A
• 公開（公告）日: 2021-09-07
• 發明（設計）人: 王庚
• 申請（專利權）人: 深圳英集芯科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 熊永強

1.一種芯片測試防呆方法，其特征在于，應用于芯片測試系統，所述芯片測試系統包括測試機、控制器和分類機，所述測試機包括多個單板自動化測試設備ATE，所述方法包括：

所述控制器分別接收來自多個單板ATE的握手信號，得到多個握手信號，每個握手信號包括第一握手ID，所述第一握手ID用于標識所述單板ATE；

所述控制器根據所述第一握手ID判斷所述多個單板ATE是否與所述控制器握手成功；

若所述多個單板ATE與所述控制器均握手成功，所述控制器進行芯片測試。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述控制器根據所述第一握手ID判斷所述多個單板ATE是否與所述控制器握手成功，包括：

所述控制器將多個所述第一握手ID分別與多個第二握手ID進行比較，每個第二握手ID為所述控制器存儲的標識所述單板ATE的握手ID；

若目標第一握手ID與目標第二握手ID相同，則確定目標單板ATE與所述控制器握手成功，否則確定所述目標單板ATE與所述控制器握手失敗，所述多個第一握手ID包括所述目標第一握手ID，所述多個第二握手ID包括所述目標第二握手ID，所述目標單板ATE為所述目標第一握手ID和所述目標第二握手ID標識的單板ATE。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述若所述多個單板ATE與所述控制器均握手成功，所述控制器進行芯片測試，包括：

若所述多個單板ATE與所述控制器均握手成功，所述控制器將接收來自所述多個單板ATE的多個BIN信號向所述分類機發送。

4.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

若所述多個單板ATE中的任一單板ATE與所述控制器握手失敗，所述控制器將接收來自所述多個單板ATE的多個BIN信號均設置為高電平。

5.一種芯片測試防呆方法，其特征在于，應用于芯片測試系統，所述芯片測試系統包括測試機、控制器和分類機，所述測試機包括多個單板自動化測試設備ATE，所述方法包括：

所述多個單板ATE中每個單板ATE通過第一BIN信號接口向所述控制器發送握手信號，所述握手信號包括握手ID，所述握手ID用于標識所述單板ATE。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

所述多個單板ATE中每個單板ATE通過所述第一BIN信號接口或第二BIN信號接口向所述控制器發送BIN信號。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

所述多個單板ATE中每個單板ATE通過所述第二BIN信號接口向所述控制器發送時鐘同步信號。

8.一種芯片測試系統，其特征在于，所述芯片測試系統包括測試機、控制器和分類機，所述測試機包括多個單板自動化測試設備ATE，所述控制器用于執行如權利要求1-4任一項所述的方法的步驟，所述多個單板ATE用于執行如權利要求5-7任一項所述的方法的步驟。

9.一種電子設備，其特征在于，所述電子設備包括處理器、存儲器和通信接口，所述存儲器存儲有一個或多個程序，并且所述一個或多個程序由所述處理器執行，所述一個或多個程序包括用于執行如權利要求1-4或如權利要求5-7任一項所述的方法中的步驟的指令。

10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質存儲用于電子數據交換的計算機程序，其中，所述計算機程序使得計算機執行如權利要求1-4或如權利要求5-7任一項所述的方法的步驟。