[發(fā)明專利]高靈敏度微壓檢測環(huán)形溝槽振膜結(jié)構(gòu)電容式微機械超聲換能器有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110911557.0 | 申請日: | 2021-08-10 |
| 公開(公告)號: | CN113714072B | 公開(公告)日: | 2022-10-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王紅亮;丁琦;何常德;張文棟;黃霄;王任鑫;王智豪 | 申請(專利權(quán))人: | 中北大學(xué) |
| 主分類號: | B06B1/02 | 分類號: | B06B1/02;B81B7/02 |
| 代理公司: | 太原科衛(wèi)專利事務(wù)所(普通合伙) 14100 | 代理人: | 朱源;曹一杰 |
| 地址: | 030051 山*** | 國省代碼: | 山西;14 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 靈敏度 檢測 環(huán)形 溝槽 膜結(jié)構(gòu) 電容 式微 機械 超聲 換能器 | ||
1.高靈敏度微壓檢測環(huán)形溝槽振膜結(jié)構(gòu)電容式微機械超聲換能器,包括金屬上電極(1)、Si振膜(2)、SiO2支撐柱(3)、真空腔(4)、SiO2絕緣層(5)以及硅襯底(6),Si振膜(2)的下方邊緣位置設(shè)置有環(huán)形的SiO2支撐柱(3),SiO2支撐柱(3)的下方設(shè)置硅襯底(6),Si振膜(2)、SiO2支撐柱(3)和硅襯底(6)所圍成的空腔為真空腔(4),真空腔(4)底部設(shè)置有SiO2絕緣層(5),Si振膜上方濺射金屬上電極(1),其特征在于:Si振膜(2)上表面刻蝕出若干條同心的環(huán)形溝槽(7);所述環(huán)形溝槽(7)的圓心位于Si振膜(2)的豎直中心線上;環(huán)形溝槽(7)的數(shù)目為3~7個;環(huán)形溝槽(7)寬度、深度相同,相鄰環(huán)形溝槽(7)之間的間距相同;環(huán)形溝槽(7)位于Si振膜(2)的邊緣區(qū)域,位于最外圍的環(huán)形溝槽(7)外側(cè)邊緣和Si振膜(2)邊緣的最短距離為15微米;環(huán)形溝槽(7)的寬度都為3.5微米,相鄰環(huán)形溝槽(7)間距為2微米,環(huán)形溝槽(7)的深度為3.5微米。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高靈敏度微壓檢測環(huán)形溝槽振膜結(jié)構(gòu)電容式微機械超聲換能器,其特征在于:所述環(huán)形溝槽(7)的數(shù)目為5個。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高靈敏度微壓檢測環(huán)形溝槽振膜結(jié)構(gòu)電容式微機械超聲換能器,其特征在于:硅襯底(6)采用低阻率硅襯底。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中北大學(xué),未經(jīng)中北大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110911557.0/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





