[發(fā)明專利]一種多插指埋柵結(jié)構(gòu)的增強(qiáng)型高壓HEMT器件及其制備方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110906419.3 | 申請(qǐng)日: | 2021-08-09 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113594232A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-11-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 尹以安;連夢(mèng)小;毛明華 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 迪優(yōu)未來(lái)科技(清遠(yuǎn))有限公司;華南師大(清遠(yuǎn))科技創(chuàng)新研究院有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L29/06 | 分類號(hào): | H01L29/06;H01L29/778;H01L21/335;H01L29/423 |
| 代理公司: | 北京清控智云知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11919 | 代理人: | 仵樂(lè)娟 |
| 地址: | 511540 廣東省清遠(yuǎn)市高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開(kāi)發(fā)區(qū)*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 多插指埋柵 結(jié)構(gòu) 增強(qiáng) 高壓 hemt 器件 及其 制備 方法 | ||
1.一種多插指埋柵結(jié)構(gòu)的增強(qiáng)型高壓HEMT器件,其特征在于,包括依次層疊的應(yīng)力釋放層、高阻緩沖層、溝道層、插入層和勢(shì)壘層;其中,
源極和漏極,位于勢(shì)壘層兩端,與所述插入層接觸;
柵極,位于勢(shì)壘層上;
柵電介質(zhì)層,位于柵極和勢(shì)壘層之間;
包含插指埋柵單元的多插指埋柵結(jié)構(gòu),沿勢(shì)壘層表面延伸至勢(shì)壘層中一定深度,沿源極指向漏極的方向上,所述多插指埋柵結(jié)構(gòu)與勢(shì)壘層之間構(gòu)成多個(gè)依次排列的PN結(jié)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的所述增強(qiáng)型高壓HEMT器件,其特征在于,所述多插指埋柵結(jié)構(gòu)包含至少三個(gè)采用離子注入工藝形成的插指埋柵單元,所述插指埋柵單元沿源極指向漏極的方向上依次間隔排列。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2的所述增強(qiáng)型高壓HEMT器件,其特征在于,所述多插指埋柵結(jié)構(gòu)沿源極指向漏極方向上的寬度等于柵極的寬度。
4.根據(jù)權(quán)利要求3的所述增強(qiáng)型高壓HEMT器件,其特征在于,所述多插指埋柵結(jié)構(gòu)的厚度小于所述勢(shì)壘層,所述勢(shì)壘層選用n型AlGaN層,其Al組分選用0.1~0.3,厚度選用30~50nm;所述多插指埋柵結(jié)構(gòu)的摻雜濃度大于等于108cm-3,厚度為10~30nm。
5.根據(jù)權(quán)利要求1、2或4的所述增強(qiáng)型高壓HEMT器件,其特征在于,所述柵電介質(zhì)層選用HfO2、Al2O3、TiO2或SiO2,其厚度為5~10nm。
6.根據(jù)權(quán)利要求1、2或4的所述增強(qiáng)型高壓HEMT器件,其特征在于,所述溝道層選用GaN溝道層,其厚度為50~70nm;所述插入層選用AlN插入層,其厚度為1~2nm。
7.根據(jù)權(quán)利要求6的所述增強(qiáng)型高壓HEMT器件,其特征在于,AlGaN勢(shì)壘層的厚度選用30nm,其Al組分選用0.24。
8.根據(jù)權(quán)利要求6的所述增強(qiáng)型高壓HEMT器件,其特征在于,所述應(yīng)力釋放層選用AlN應(yīng)力釋放層;所述高阻緩沖層選用GaN高阻層。
9.根據(jù)權(quán)利要求5的所述增強(qiáng)型高壓HEMT器件,其特征在于,還包括鈍化層,布置于源/漏極與柵極之間的勢(shì)壘層表面。
10.一種多插指埋柵結(jié)構(gòu)的增強(qiáng)型高壓HEMT器件,其特征在于,包括以下步驟:
在襯底上依次生長(zhǎng)應(yīng)力釋放層、高阻緩沖層、溝道層、插入層和勢(shì)壘層;
采用離子注入工藝在勢(shì)壘層表面的預(yù)定區(qū)域形成一定深度的多插指埋柵結(jié)構(gòu),所述多插指埋柵結(jié)構(gòu)包含多個(gè)間隔排列的插指埋柵單元,所述插指埋柵單元的導(dǎo)電類型與所述勢(shì)壘層相反;
在多插指埋柵結(jié)構(gòu)表面沉積柵電介質(zhì)層,隨后進(jìn)行高溫退火;
刻蝕所述勢(shì)壘層形成源極和漏極區(qū)域,沉積源極和漏極金屬;
在柵電介質(zhì)層上形成柵極區(qū)域,沉積柵極金屬;
沉積鈍化層覆蓋柵極與源極之間的區(qū)域,以及覆蓋柵極與漏極之間的區(qū)域;
其中,所述插指埋柵單元沿源極指向漏極的方向上依次間隔排列。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
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H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過(guò)對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過(guò)施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的
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