[發明專利]一種用于靜電放電中的場效應可控硅結構有效
| 申請號: | 202110892105.2 | 申請日: | 2021-08-04 |
| 公開(公告)號: | CN113345886B | 公開(公告)日: | 2021-11-30 |
| 發明(設計)人: | 朱偉東;趙泊然 | 申請(專利權)人: | 江蘇應能微電子有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/02 | 分類號: | H01L27/02;H01L29/74 |
| 代理公司: | 無錫市大為專利商標事務所(普通合伙) 32104 | 代理人: | 曹祖良;陳麗麗 |
| 地址: | 213000 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 靜電 放電 中的 場效應 可控硅 結構 | ||
1.一種用于靜電放電中的場效應可控硅結構,其特征在于,包括:第一導電類型襯底和設置在第一導電類型襯底上的第二導電類型外延層,所述第二導電類型外延層內設置第二導電類型阱區和第一導電類型阱區,所述第二導電類型阱區與所述第一導電類型阱區相切設置,所述第二導電類型阱區內設置有第一N+區和第一P+區,所述第一N+區和所述第一P+區相切設置,所述第一導電類型阱區內設置有第二N+區和第二P+區,所述第二N+區和所述第二P+區相切設置,所述第一P+區和所述第二N+區相鄰設置,所述第一P+區與所述第二N+區之間設置溝槽;
其中,所述溝槽內形成柵極氧化層,所述柵極氧化層上方形成多晶硅柵電極;
所述第一N+區和所述第一P+區連接后作為場效應可控硅結構的陽極,所述多晶硅柵電極、所述第二N+區和所述第二P+區三者相連后作為場效應可控硅結構的陰極;或者,
所述第一N+區和所述第一P+區連接后作為場效應可控硅結構的陽極,所述第二N+區和所述第二P+區連接后作為場效應可控硅結構的陰極,所述多晶硅柵電極作為獨立電極。
2.根據權利要求1所述的用于靜電放電中的場效應可控硅結構,其特征在于,所述第一導電類型襯底包括P型襯底,所述第二導電類型外延層包括N型外延層。
3.根據權利要求1所述的用于靜電放電中的場效應可控硅結構,其特征在于,所述第一導電類型阱區包括P型阱區,所述第二導電類型阱區包括N型阱區。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于江蘇應能微電子有限公司,未經江蘇應能微電子有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110892105.2/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:全自動可多面加工的組合機床
- 下一篇:一種靜電保護器件
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





