[發(fā)明專利]電芯極耳檢測(cè)方法、裝置、電子設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110887408.5 | 申請(qǐng)日: | 2021-08-03 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113607742B | 公開(公告)日: | 2022-11-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 不公告發(fā)明人 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廣東利元亨智能裝備股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/88 | 分類號(hào): | G01N21/88;G01N21/95;G01N21/01 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 蔣姍 |
| 地址: | 516057 廣東*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電芯極耳 檢測(cè) 方法 裝置 電子設(shè)備 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
1.一種電芯極耳檢測(cè)方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取待測(cè)電芯的待測(cè)圖像,其中,所述待測(cè)圖像為所述待測(cè)電芯的極耳兩面中所述極耳未被極耳連接片覆蓋的待檢測(cè)面的圖像;
基于所述待測(cè)圖像,確定出所述待測(cè)電芯的膠帶區(qū)域在所述待測(cè)圖像中檢測(cè)得到的檢測(cè)寬度,其中,所述檢測(cè)寬度為所述膠帶區(qū)域中的第一邊緣和待測(cè)邊緣之間的寬度,所述第一邊緣為所述膠帶區(qū)域沿著預(yù)設(shè)方向上遠(yuǎn)離所述待測(cè)電芯的邊緣,所述待測(cè)邊緣為所述預(yù)設(shè)方向上與所述第一邊緣最近的邊緣;
將所述檢測(cè)寬度與所述膠帶區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)寬度進(jìn)行對(duì)比,得到所述待測(cè)電芯的所述極耳是否翻折的檢測(cè)結(jié)果,其中,所述標(biāo)準(zhǔn)寬度為所述膠帶區(qū)域的所述第一邊緣和第二邊緣之間的寬度,所述第二邊緣為所述膠帶區(qū)域在所述預(yù)設(shè)方向上靠近所述待測(cè)電芯的邊緣。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述待測(cè)圖像,確定出所述待測(cè)電芯的膠帶區(qū)域在所述待測(cè)圖像中檢測(cè)得到的檢測(cè)寬度,包括:
將所述待測(cè)圖像與所述待測(cè)電芯對(duì)應(yīng)的圖像模板進(jìn)行匹配,得到所述膠帶區(qū)域;
確定在所述膠帶區(qū)域的所述預(yù)設(shè)方向上,與所述膠帶區(qū)域的第一邊緣最近的所述待測(cè)邊緣;
根據(jù)所述第一邊緣和所述待測(cè)邊緣,確定出所述待測(cè)電芯的檢測(cè)寬度。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)所述第一邊緣和所述待測(cè)邊緣,確定出所述待測(cè)電芯的檢測(cè)寬度,包括:
根據(jù)所述待測(cè)邊緣和所述待測(cè)圖像中的極耳轉(zhuǎn)接片,得到第一交點(diǎn)和第二交點(diǎn);
對(duì)所述第一交點(diǎn)、所述第二交點(diǎn)和所述待測(cè)邊緣進(jìn)行擬合,得到待測(cè)線段;
根據(jù)所述待測(cè)線段與所述第一邊緣之間的距離,得到檢測(cè)寬度。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
獲取待測(cè)電芯的對(duì)照?qǐng)D像,其中,所述對(duì)照?qǐng)D像為所述待測(cè)電芯中與所述待測(cè)圖像對(duì)應(yīng)的另一面圖像;
基于所述對(duì)照?qǐng)D像,確定出所述膠帶區(qū)域的所述標(biāo)準(zhǔn)寬度。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于,所述基于所述對(duì)照?qǐng)D像,確定出所述膠帶區(qū)域的所述標(biāo)準(zhǔn)寬度,包括:
將所述對(duì)照?qǐng)D像與所述待測(cè)電芯對(duì)應(yīng)的圖像模板進(jìn)行匹配,得到所述膠帶區(qū)域;
獲取所述膠帶區(qū)域的所述第一邊緣和所述第二邊緣;
根據(jù)所述第一邊緣和所述第二邊緣,確定出所述標(biāo)準(zhǔn)寬度。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)所述第一邊緣和所述第二邊緣,確定出所述標(biāo)準(zhǔn)寬度,包括:
根據(jù)所述第二邊緣和所述對(duì)照?qǐng)D像中的極耳轉(zhuǎn)接片得到第三交點(diǎn)和第四交點(diǎn);
對(duì)所述第三交點(diǎn)、所述第四交點(diǎn)和所述第二邊緣進(jìn)行擬合,得到對(duì)照線段;
根據(jù)所述對(duì)照線段和所述第一邊緣之間的距離,得到所述標(biāo)準(zhǔn)寬度。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述將所述檢測(cè)寬度與所述膠帶區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)寬度進(jìn)行對(duì)比,得到所述待測(cè)電芯的所述極耳是否翻折的檢測(cè)結(jié)果,包括:
將所述檢測(cè)寬度和所述標(biāo)準(zhǔn)寬度進(jìn)行對(duì)比;
當(dāng)所述檢測(cè)寬度大于或等于所述標(biāo)準(zhǔn)寬度,則所述檢測(cè)結(jié)果為所述待測(cè)電芯的所述極耳未翻折;
當(dāng)所述檢測(cè)寬度小于所述標(biāo)準(zhǔn)寬度,則所述檢測(cè)結(jié)果為所述待測(cè)電芯的所述極耳翻折。
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
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- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
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