[發明專利]針對繼電器過零開關實現校準檢驗的系統、方法、裝置、處理器及其計算機可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202110884762.2
• 申請日: 2021-08-03
• 公開（公告）號: CN115902598A
• 公開（公告）日: 2023-04-04
• 發明（設計）人: 羅茂峰
• 申請（專利權）人: 西蒙電氣（中國）有限公司
• 主分類號: G01R31/327
• 分類號: G01R31/327;G01R19/175
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明涉及一種針對繼電器過零開關實現校準檢驗的系統，其中，所述的系統包括：被校驗電子開關模塊，用于接收控制信號并執行驅動繼電器過零開關動作操作的處理；以及外部校準處理模塊，與所述的被校驗電子開關模塊相連接，用于向系統發送所述的控制信號，實現對所述的繼電器過零開關的控制和校準處理。本發明還涉及一種相應的方法、裝置、處理器及其計算機可讀存儲介質。采用了本發明的該系統、方法、裝置、處理器及其計算機可讀存儲介質，實現了電磁繼電器近零電壓觸點導通及關閉，可根據不同電磁繼電器開關反應速度及電源AC周期或頻率調節。有利于延長繼電器使用壽命，及減小開關時負載浪涌電流沖擊。

技術領域

本發明涉及電子開關技術領域，特別涉及繼電器過零開關技術領域，具體是指一種針對繼電器過零開關實現校準檢驗的系統、方法、裝置、處理器及其計算機可讀存儲介質。

背景技術

在現有用繼電器作開關的電子開關中，繼電器多是隨意開啟和關閉，或預置某種固定時間機制開關，或依賴于某種相位檢測加通訊機制進行校準，或將外部檢測信號專門引入電子開關控制電路中進行校準。

隨意開關可能會出現浪涌電流過大及繼電器觸點壽命降低等問題，固定時間機制的開關難以解決不同繼電器之間的開關反應時間等差異帶來的問題。相位檢測加通訊不能應對電子開關中沒有可用通訊方式的情況。將外部檢測信號專門引入電子開關控制電路中對大多數帶殼的成品有困難。

發明內容

本發明的目的是克服了上述現有技術的缺點，提供了一種結構簡單且易于實施的針對繼電器過零開關實現校準檢驗的系統、方法、裝置、處理器及其計算機可讀存儲介質。

為了實現上述目的，本發明的針對繼電器過零開關實現校準檢驗的系統、方法、裝置、處理器及其計算機可讀存儲介質如下：

該針對繼電器過零開關實現校準檢驗的系統，其主要特點是，所述的系統包括：

被校驗電子開關模塊，用于接收控制信號并執行驅動繼電器過零開關動作操作的處理；以及

外部校準處理模塊，與所述的被校驗電子開關模塊相連接，用于向系統發送所述的控制信號，實現對所述的繼電器過零開關的控制和校準處理。

較佳地，所述的控制信號具體包括：

校驗開啟信號以及基準時間信號。

較佳地，所述的被校驗電子開關模塊具體包括：

輸入電壓檢測電路處理單元，與所述的外部校準處理模塊相連接，用于接收并處理所述的外部校準處理模塊發送的所述的校驗開啟信號以及基準時間信號；

微處理器及驅動電路處理單元，與所述的輸入電壓檢測電路處理單元相連接，用于接收處理后的所述的校驗開啟信號以及基準時間信號，并根據所述的校驗開啟信號以及基準時間信號獲取被校驗電子開關的電壓周期信息以及基準時間信息；以及

繼電器開關，與所述的微處理器及驅動電路處理單元相連接，用于按照所述的基準時間信息規定的預設時長控制所述的繼電器開關。

較佳地，所述的外部校準處理模塊具體包括：

電壓檢測處理單元，與所述的繼電器開關相連接，用于檢測所述的繼電器開關的電壓通斷持續時間；

微處理器及控制電路處理單元，與所述的電壓檢測處理單元相連接，用于將檢測到的所述的繼電器開關的電壓通斷持續時間與所述的基準時間信息規定的預設時長進行對比處理，獲取所述的繼電器開關的反應時間；以及

高速開關，與所述的微處理器及控制電路處理單元相連接，用于產生所述的校驗開啟信號以及基準時間信號，并將獲取到的所述的繼電器開關的反應時間進行系列開關操作傳輸至所述的微處理器及驅動電路處理單元的微處理器中。

該基于上述系統實現針對繼電器過零開關校準檢驗的方法，其特征在于，所述的方法包括以下步驟：

（1）外部校準裝置內部的高速開關對被校驗電子開關裝置執行開關控制命令以及工作狀態檢測的操作處理；