[發明專利]針對繼電器過零開關實現校準檢驗的系統、方法、裝置、處理器及其計算機可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202110884762.2
• 申請日: 2021-08-03
• 公開（公告）號: CN115902598A
• 公開（公告）日: 2023-04-04
• 發明（設計）人: 羅茂峰
• 申請（專利權）人: 西蒙電氣（中國）有限公司
• 主分類號: G01R31/327
• 分類號: G01R31/327;G01R19/175
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種針對繼電器過零開關實現校準檢驗的系統，其特征在于，所述的系統包括：

被校驗電子開關模塊，用于接收控制信號并執行驅動繼電器過零開關動作操作的處理；以及

外部校準處理模塊，與所述的被校驗電子開關模塊相連接，用于向系統發送所述的控制信號，實現對所述的繼電器過零開關的控制和校準處理。

2.根據權利要求1所述的針對繼電器過零開關實現校準檢驗的系統，其特征在于，所述的控制信號具體包括：

校驗開啟信號以及基準時間信號。

3.根據權利要求2所述的針對繼電器過零開關實現校準檢驗的系統，其特征在于，所述的被校驗電子開關模塊具體包括：

輸入電壓檢測電路處理單元，與所述的外部校準處理模塊相連接，用于接收并處理所述的外部校準處理模塊發送的所述的校驗開啟信號以及基準時間信號；

微處理器及驅動電路處理單元，與所述的輸入電壓檢測電路處理單元相連接，用于接收處理后的所述的校驗開啟信號以及基準時間信號，并根據所述的校驗開啟信號以及基準時間信號獲取被校驗電子開關的電壓周期信息以及基準時間信息；以及

繼電器開關，與所述的微處理器及驅動電路處理單元相連接，用于按照所述的基準時間信息規定的預設時長控制所述的繼電器開關。

4.根據權利要求3所述的針對繼電器過零開關實現校準檢驗的系統，其特征在于，所述的外部校準處理模塊具體包括：

電壓檢測處理單元，與所述的繼電器開關相連接，用于檢測所述的繼電器開關的電壓通斷持續時間；

微處理器及控制電路處理單元，與所述的電壓檢測處理單元相連接，用于將檢測到的所述的繼電器開關的電壓通斷持續時間與所述的基準時間信息規定的預設時長進行對比處理，獲取所述的繼電器開關的反應時間；以及

高速開關，與所述的微處理器及控制電路處理單元相連接，用于產生所述的校驗開啟信號以及基準時間信號，并將獲取到的所述的繼電器開關的反應時間進行系列開關操作傳輸至所述的微處理器及驅動電路處理單元的微處理器中。

5.一種基于權利要求1至4中任一項所述的系統實現針對繼電器過零開關校準檢驗的方法，其特征在于，所述的方法包括以下步驟：

（1）外部校準裝置內部的高速開關對被校驗電子開關裝置執行開關控制命令以及工作狀態檢測的操作處理；

（2）所述的被校驗電子開關裝置內部設置的輸入電壓檢測電路處理單元根據接收到的開關控制命令，進而控制其內部的繼電器過零開關執行相應的控制處理；

（3）所述的外部校準裝置將接收到的所述的繼電器過零開關的控制處理結果與預設的開關控制命令中的基準信息進行對比，獲取所述的繼電器過零開關的反應時間；

（4）所述的外部校準裝置將所述的繼電器過零開關的反應時間信息通過系列開關操作方式發送給所述的被校驗電子開關；

所述的被校驗電子開關將接收到的所述的繼電器過零開關的反應時間進行自定義處理并存儲，從而完成對繼電器過零開關的校準處理。

6.根據權利要求5所述的實現針對繼電器過零開關校準檢驗的方法，其特征在于，所述的步驟（1）具體包括以下步驟：

（1.1）所述的外部校準裝置打開內部的高速開關為所述的被校驗電子開關裝置供電；

（1.2）確保所述的被校驗電子開關裝置的內部電路工作穩定后，開始執行開關控制命令以及工作狀態檢測的操作處理。

7.根據權利要求6所述的實現針對繼電器過零開關校準檢驗的方法，其特征在于，所述的開關控制命令具體為：

將所述的被校驗電子開關裝置發送特殊時間處理的系列開關操作作為所述的繼電器過零開關的校驗開啟信號以及基準時間信號。

8.根據權利要求7所述的實現針對繼電器過零開關校準檢驗的方法，其特征在于，所述的步驟（2）具體為：

所述的輸入電壓檢測電路處理單元根據接收到的校驗開啟信號，按照基準時間延長協議約定的工作時長來控制所述的繼電器過零開關的開啟或者關閉，并生成相應的電源電壓輸入信號。