[發明專利]一種X-Ray檢測方法、系統、設備以及存儲介質

在審

• 申請號: 202110877075.8
• 申請日: 2021-07-31
• 公開（公告）號: CN113640322A
• 公開（公告）日: 2021-11-12
• 發明（設計）人: 徐鉆;高鵬;劉琴;徐焱峰;楊軍鵬
• 申請（專利權）人: 瑞茂光學（深圳）有限公司
• 主分類號: G01N23/04
• 分類號: G01N23/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本申請公開了一種X?Ray檢測方法、系統、設備以及存儲介質，其中所述方法包括：獲取待測產品圖樣的檢測點參數信息；基于檢測點參數信息，生成檢測點的陣列模板；調節陣列模板與待測產品圖樣的位置關系；基于最終確定的陣列模板，形成檢測點的檢測路徑，對待測產品進行依次檢測，通過本申請所述方案，能夠針對不同的待測產品，選取陣列模板，并可調節陣列模板與待測樣品圖樣的位置關系，提高檢測效率。

技術領域

本申請涉及檢測設備領域，尤其涉及一種X-Ray檢測方法、系統、設備以及存儲介質。

背景技術

目前電路板在加工完成之后需要對齊內部線路是否斷裂進行檢測，現有的檢測方式通常是利用X光機對電路板進行拍攝，之后將拍攝的圖像與標準的電路板圖像進行比對，從而確定電路板是否達標，但是不同的電路板，大小不同，或者電路板的陳列排布不同，標準模板也不同。

因此，基于上述問題，現有技術還有待改進。

發明內容

本申請的目的是實現不同排布或大小的電路板的檢測。

本申請的上述技術目的是通過以下技術方案得以實現的：

本申請第一方面，公開了一種X-Ray檢測方法，其中，包括：

獲取待測產品圖樣的檢測點參數信息；

基于檢測點參數信息，生成檢測點的陣列模板；

調節陣列模板與待測產品圖樣的位置關系；

基于最終確定的陣列模板，形成檢測點的檢測路徑，對待測產品進行依次檢測。

本申請上述方案，通過獲取待測產品圖樣的檢測點參數信息，生成檢測點的陣列模板，對陣列模板和待測樣品圖樣的位置關系進行調節，完成后，基于最終確定的陣列模板，形成檢測路徑，對待測產品進行檢測，保證了測量精度。

可選的，所述的X-Ray檢測方法，其中，還包括：

預設檢測的標準陣列模板以及對應的陣列參數并存儲。

本申請上述方案，通過預先存儲標準陣列模板以及對應的陣列參數，方便在獲取待測圖樣的待測點參數信息后，生成陣列模板。

可選的，所述的X-Ray檢測方法，其中，獲取待測產品圖樣的檢測點參數信息的方法包括：

獲取待測產品圖樣的陳列排布信息；

設置檢測點的陣列參數。

本申請上述方案，通過獲取待測產品圖樣的陳列排布信息，以及設置檢測點陣列參數，便于生成檢測點的陣列模板，保證檢測效率。

可選的，所述的X-Ray檢測方法，其中，調節陣列模板與待測產品圖樣的位置關系的方法包括：

檢測陣列模板中的第一角檢測點與產品圖樣第一對應角是否對位，若不對位，則進行校正對位；

檢測陣列模板中與第一角相連的邊線與產品圖樣相應邊線是否對位，若不對位，則進行校正對位；

檢測第二角檢測點與產品圖樣第二對應角是否對位，若不對位，則進行校正對位。

本申請上述方案，在進行檢測之前，需要對陣列模板和待測樣品圖樣之間的位置關系進行調節，首先對角檢測點進行校正，再對邊進行校正，接著再對另一個角檢測點進行校正，從而保證陣列模板與待測樣品圖樣的位置關系對應，保證檢測精度。

本申請另一方面，公開了一種X-Ray檢測系統，其中，包括：

檢測點參數獲取模塊，用于獲取待測產品圖樣的檢測點參數信息；

陣列模板生成模塊，用于基于檢測點參數信息，生成檢測點的陣列模板；

位置關系調節模塊，用于調節陣列模板與待測產品圖樣的位置關系；

檢測模塊，用于基于最終確定的陣列模板，形成檢測點的檢測路徑，對待測產品進行依次檢測。