[發明專利]一種X-Ray檢測方法、系統、設備以及存儲介質在審
| 申請號： | 202110877075.8 | 申請日： | 2021-07-31 |
| 公開（公告）號： | CN113640322A | 公開（公告）日： | 2021-11-12 |
| 發明（設計）人： | 徐鉆;高鵬;劉琴;徐焱峰;楊軍鵬 | 申請（專利權）人： | 瑞茂光學（深圳）有限公司 |
| 主分類號： | G01N23/04 | 分類號： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 518000 廣東省深圳市龍*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 ray 檢測 方法 系統 設備 以及 存儲 介質 | ||
1.一種X-Ray檢測方法，其特征在于，包括：
獲取待測產品圖樣的檢測點參數信息；
基于檢測點參數信息，生成檢測點的陣列模板；
調節陣列模板與待測產品圖樣的位置關系；
基于最終確定的陣列模板，形成檢測點的檢測路徑，對待測產品進行依次檢測。
2.根據權利要求1所述的X-Ray檢測方法，其特征在于，還包括：
預設檢測的標準陣列模板以及對應的陣列參數并存儲。
3.根據權利要求1所述的X-Ray檢測方法，其特征在于，獲取待測產品圖樣的檢測點參數信息的方法包括：
獲取待測產品圖樣的陳列排布信息；
設置檢測點的陣列參數。
4.根據權利要求1所述的X-Ray檢測方法，其特征在于，調節陣列模板與待測產品圖樣的位置關系的方法包括：
檢測陣列模板中的第一角檢測點與產品圖樣第一對應角是否對位，若不對位，則進行校正對位；
檢測陣列模板中與第一角相連的邊線與產品圖樣相應邊線是否對位，若不對位，則進行校正對位；
檢測第二角檢測點與產品圖樣第二對應角是否對位，若不對位，則進行校正對位。
5.一種X-Ray檢測系統，其特征在于，包括：
檢測點參數獲取模塊，用于獲取待測產品圖樣的檢測點參數信息；
陣列模板生成模塊，用于基于檢測點參數信息，生成檢測點的陣列模板；
位置關系調節模塊，用于調節陣列模板與待測產品圖樣的位置關系；
檢測模塊，用于基于最終確定的陣列模板，形成檢測點的檢測路徑，對待測產品進行依次檢測。
6.根據權利要求5所述的X-Ray檢測系統，其特征在于，所述系統還包括：
參數預存模塊，用于預設檢測的標準陣列模板以及對應的陣列參數并存儲。
7.根據權利要求5所述的X-Ray檢測系統，其特征在于，所述檢測點參數獲取模塊包括：
排布信息獲取單元，用于獲取待測產品圖樣的陳列排布信息；
陣列參數設置單元，用于設置檢測點的陣列參數。
8.根據權利要求5所述的X-Ray檢測系統，其特征在于，所述位置關系調節模塊包括：
第一位置關系調節單元，用于檢測陣列模板中的第一角檢測點與產品圖樣第一對應角是否對位，若不對位，則進行校正對位；
第二位置關系調節單元，檢測陣列模板中與第一角相連的邊線與產品圖樣相應邊線是否對位，若不對位，則進行校正對位；
第三位置關系調節單元，檢測第二角檢測點與產品圖樣第二對應角是否對位，若不對位，則進行校正對位。
9.一種X-Ray檢測設備，其特征在于，包括存儲器和處理器，存儲器存儲有能夠被處理器加載并執行如權利要求1-4任一項所述的X-Ray檢測方法的計算機程序。
10.一種存儲介質，其特征在于，存儲有能夠被處理器加載并執行如權利要求1-4任一項所述的X-Ray檢測方法的計算機程序。
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