[發(fā)明專利]點(diǎn)云數(shù)據(jù)的處理方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110874434.4
• 申請(qǐng)日: 2021-07-30
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN113705617A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-11-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李娟娟;胡孟孟;劉登科
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京萬(wàn)集科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G06K9/62
• 分類號(hào): G06K9/62
• 代理公司: 北京華進(jìn)京聯(lián)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11606
• 代理人: 唐德君

本申請(qǐng)涉及一種點(diǎn)云數(shù)據(jù)的處理方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)。所述方法通過(guò)獲取原始點(diǎn)云數(shù)據(jù)集合，并對(duì)原始點(diǎn)云數(shù)據(jù)集合中的點(diǎn)進(jìn)行去除屬于平面和斜面的點(diǎn)的聚類，得到候選點(diǎn)云數(shù)據(jù)集合，再根據(jù)預(yù)設(shè)條件識(shí)別候選點(diǎn)云數(shù)據(jù)集合中的拖點(diǎn)。正是由于預(yù)先對(duì)原始點(diǎn)云數(shù)據(jù)集合中的點(diǎn)進(jìn)行去除平面和斜面的聚類，將原始點(diǎn)云數(shù)據(jù)集合中屬于真正平面和斜面的點(diǎn)進(jìn)行聚類，使聚類后得到的候選點(diǎn)云數(shù)據(jù)集合中并不包含真正平面和斜面的點(diǎn)，將不屬于拖點(diǎn)的點(diǎn)進(jìn)行了保護(hù)，使候選點(diǎn)云數(shù)據(jù)集合中包含真正的拖點(diǎn)，因此后期基于候選點(diǎn)云數(shù)據(jù)集合可以準(zhǔn)確的確定拖點(diǎn)，相比于傳統(tǒng)拖點(diǎn)檢測(cè)方法因無(wú)法正確判斷斜面上的拖點(diǎn)導(dǎo)致拖點(diǎn)誤檢，極大的降低了檢測(cè)拖點(diǎn)的誤檢率。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及激光雷達(dá)系統(tǒng)技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種點(diǎn)云數(shù)據(jù)的處理方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

激光雷達(dá)是一種主動(dòng)成像系統(tǒng)，通過(guò)向多個(gè)方向發(fā)射激光，并從發(fā)出到返回信號(hào)的時(shí)間差來(lái)計(jì)算當(dāng)前方向上目標(biāo)物體距離自身的距離，由于發(fā)出的方向較多，形成點(diǎn)云，從而達(dá)到對(duì)環(huán)境進(jìn)行一定程度的探測(cè)的目的。

目前，通過(guò)激光雷達(dá)探測(cè)得到的點(diǎn)云數(shù)據(jù)中，存在一些拖點(diǎn)，即，當(dāng)較近的物體邊緣遮擋較遠(yuǎn)物體，且兩個(gè)表面距離較小時(shí)，兩個(gè)表面之間明明沒(méi)有物體，卻顯示有點(diǎn)存在，這就是拖點(diǎn)。拖點(diǎn)會(huì)明顯影響對(duì)前方環(huán)境的判斷，會(huì)使得兩個(gè)面空空的區(qū)域像有個(gè)斜面一樣，從而影響了基于激光雷達(dá)點(diǎn)云數(shù)據(jù)探測(cè)的準(zhǔn)確性和真實(shí)性。

因此，如何而提高獲取激光雷達(dá)點(diǎn)云數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性成為了當(dāng)下激光雷達(dá)探測(cè)亟待解決的技術(shù)問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容

基于此，有必要針對(duì)上述技術(shù)問(wèn)題，提供一種能夠提高獲取激光雷達(dá)點(diǎn)云數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性的點(diǎn)云數(shù)據(jù)的處理方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)。

第一方面，一種點(diǎn)云數(shù)據(jù)的處理方法，所述方法包括：

獲取原始點(diǎn)云數(shù)據(jù)集合；

對(duì)所述原始點(diǎn)云數(shù)據(jù)集合中的點(diǎn)進(jìn)行去除屬于平面和斜面的點(diǎn)的聚類，得到候選點(diǎn)云數(shù)據(jù)集合；

根據(jù)預(yù)設(shè)條件識(shí)別所述候選點(diǎn)云數(shù)據(jù)集合中的拖點(diǎn)。

第二方面，一種點(diǎn)云數(shù)據(jù)的處理裝置，所述裝置包括：

獲取模塊，用于獲取原始點(diǎn)云數(shù)據(jù)集合；

聚類模塊，用于對(duì)所述原始點(diǎn)云數(shù)據(jù)集合中的點(diǎn)進(jìn)行去除屬于平面和斜面的點(diǎn)的聚類，得到候選點(diǎn)云數(shù)據(jù)集合；

確定模塊，用于根據(jù)預(yù)設(shè)條件識(shí)別所述候選點(diǎn)云數(shù)據(jù)集合中的拖點(diǎn)。第三方面，一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，包括存儲(chǔ)器和處理器，所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)上述點(diǎn)云數(shù)據(jù)的處理方法。

第四方面，一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)上述點(diǎn)云數(shù)據(jù)的處理方法。

上述點(diǎn)云數(shù)據(jù)的處理方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)，通過(guò)獲取原始點(diǎn)云數(shù)據(jù)集合，并對(duì)原始點(diǎn)云數(shù)據(jù)集合中的點(diǎn)進(jìn)行去除屬于平面和斜面的點(diǎn)的聚類，得到候選點(diǎn)云數(shù)據(jù)集合，再根據(jù)預(yù)設(shè)條件識(shí)別候選點(diǎn)云數(shù)據(jù)集合中的拖點(diǎn)。正是由于預(yù)先對(duì)原始點(diǎn)云數(shù)據(jù)集合中的點(diǎn)進(jìn)行去除平面和斜面的聚類，將原始點(diǎn)云數(shù)據(jù)集合中屬于真正平面和斜面的點(diǎn)進(jìn)行聚類，使聚類后得到的候選點(diǎn)云數(shù)據(jù)集合中并不包含真正平面和斜面的點(diǎn)，將不屬于拖點(diǎn)的點(diǎn)進(jìn)行了保護(hù)，使候選點(diǎn)云數(shù)據(jù)集合中包含真正的拖點(diǎn)，因此后期基于候選點(diǎn)云數(shù)據(jù)集合可以準(zhǔn)確的確定拖點(diǎn)，相比于傳統(tǒng)的拖點(diǎn)檢測(cè)方法因無(wú)法正確判斷斜面上的拖點(diǎn)導(dǎo)致拖點(diǎn)誤檢，極大的降低了點(diǎn)云數(shù)據(jù)檢測(cè)拖點(diǎn)的誤檢率。另外，先將原始點(diǎn)云數(shù)據(jù)集合進(jìn)行聚類，將屬于平面點(diǎn)和斜面點(diǎn)去除，得到候選點(diǎn)云數(shù)據(jù)集合，可以縮小后期基于候選點(diǎn)云數(shù)據(jù)集合進(jìn)行處理的數(shù)據(jù)量，提高點(diǎn)云數(shù)據(jù)處理的速度。

附圖說(shuō)明

圖1為一個(gè)實(shí)施例中點(diǎn)云數(shù)據(jù)的處理方法的應(yīng)用環(huán)境圖；

圖2為一個(gè)實(shí)施例中點(diǎn)云數(shù)據(jù)的處理方法的流程示意圖；