[發明專利]液晶玻璃基板研磨盤平坦度輔助檢測裝置及檢測方法在審
| 申請號： | 202110861503.8 | 申請日： | 2021-07-29 |
| 公開（公告）號： | CN113701674A | 公開（公告）日： | 2021-11-26 |
| 發明（設計）人： | 程秀文;張小虎 | 申請（專利權）人： | 蚌埠高華電子股份有限公司 |
| 主分類號： | G01B11/30 | 分類號： | G01B11/30;G01B11/02 |
| 代理公司： | 合肥鴻知運知識產權代理事務所(普通合伙) 34180 | 代理人： | 王昕 |
| 地址： | 233000 安徽省*** | 國省代碼： | 安徽;34 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 液晶 玻璃 研磨 平坦 輔助 檢測 裝置 方法 | ||
1.液晶玻璃基板研磨盤平坦度輔助檢測裝置，用于檢測上研磨盤(1)的上研磨面(15)、下研磨盤(2)的下研磨面(14)，所述上研磨盤(1)上安裝有主軸桿(3)，所述下研磨盤(2)上配置有位于中部位置的下盤驅動齒柱(4)和位于外邊緣位置的下盤外齒柱(5)，其特征在于：
平坦度輔助檢測裝置包括檢測長條本體(6)和外控盒(7)，所述外控盒(7)位于檢測長條本體(6)的一側端，所述檢測長條本體(6)的另一端設置有端側對徑安裝板(18)，所述端側對徑安裝板(18)的外側端面嵌入安裝有對徑傳感條(19)；
所述檢測長條本體(6)的下側面嵌入安裝有邊側可見光定位器(9)和若干依次排列的光電距離傳感探頭(17)；
所述檢測長條本體(6)的上側面固定設置有一組吸附塊(10)，所述檢測長條本體(6)的上側面嵌入安裝有位于兩個吸附塊(10)之間的水平檢測機構(11)，所述檢測長條本體(6)的上側面設置有外齒塊(12)和內齒塊(13)。
2.根據權利要求1所述的液晶玻璃基板研磨盤平坦度輔助檢測裝置，其特征在于：
所述外控盒(7)上配置有顯示屏(8)，所述外控盒(7)內置主控板，所述主控板通過控制線路與邊側可見光定位器(9)、吸附塊(10)電連接，所述主控板通過信號傳輸線路與水平檢測機構(11)、光電距離傳感探頭(17)和對徑傳感條(19)電連接；
所述外控盒(7)的主控板上配置有無線模塊，用于控制信息的獲取和傳感檢測信息的上傳；
所述外控盒(7)上配置有用于整個外控盒(7)的開關鍵、用于控制吸附塊(10)的電控確認鍵和用于開啟檢測平坦度的檢測的檢測信號鍵；
外控盒(7)內置充電電源，為外控盒(7)元器件提供電能。
3.根據權利要求2所述的液晶玻璃基板研磨盤平坦度輔助檢測裝置，其特征在于：
所述外控盒(7)的主控板上配置有數模轉換模塊，所述顯示屏(8)上顯示出經數模轉換模塊處理后的模擬軸桿邊界線(802)。
4.根據權利要求1所述的液晶玻璃基板研磨盤平坦度輔助檢測裝置，其特征在于：
所述外控盒(7)的顯示屏(8)上模擬顯示出與對徑傳感條(19)傳感檢測區段相配合的模擬對準刻度(801)，所述模擬對準刻度(801)的中心點為“0”基準點。
5.根據權利要求1所述的液晶玻璃基板研磨盤平坦度輔助檢測裝置，其特征在于：
所述對徑傳感條(19)上設置有若干光電傳感器，用于傳感檢測主軸桿(3)的遮擋區域。
6.根據權利要求1所述的液晶玻璃基板研磨盤平坦度輔助檢測裝置，其特征在于：
所述檢測長條本體(6)上側面的吸附塊(10)采用電動吸盤或電磁吸附機構。
7.根據權利要求1所述的液晶玻璃基板研磨盤平坦度輔助檢測裝置，其特征在于：
所述外齒塊(12)位于檢測長條本體(6)靠近外控盒(7)的側端位置，所述內齒塊(13)位于檢測長條本體(6)靠近端側對徑安裝板(18)的側端位置。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于蚌埠高華電子股份有限公司，未經蚌埠高華電子股份有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110861503.8/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
