[發(fā)明專利]一種切邊方法、裝置及電子設備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110853667.6
• 申請日: 2021-07-28
• 公開（公告）號: CN113344952B
• 公開（公告）日: 2021-11-19
• 發(fā)明（設計）人: 周賞;王凱;劉羽;周璐;李銘
• 申請（專利權）人: 浙江華睿科技股份有限公司
• 主分類號: G06T7/12
• 分類號: G06T7/12;G06T7/13;G01B11/00
• 代理公司: 北京樂知新創(chuàng)知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) 11734
• 代理人: 江宇

本申請?zhí)峁┝艘环N切邊方法、裝置及電子設備；方法包括：基于線激光測量儀掃描待處理對象的邊緣結構，得到所述待處理對象的邊緣結構的點云數(shù)據(jù)；基于所述邊緣結構的點云數(shù)據(jù)確定所述邊緣結構的端點集合；判斷所述端點集合中各端點的坐標在第一方向上是否連續(xù)，其中，所述第一方向為所述線激光測量儀的掃描方向；若所述端點集合中各端點的坐標在所述第一方向上不連續(xù)，則基于所述端點集合中不連續(xù)的兩個相鄰端點的坐標，在所述兩個相鄰端點之間確定至少一個變刀點；基于所述至少一個變刀點對所述待處理對象進行切邊。本申請?zhí)峁┑那羞叿椒ǎ軌蚋咝Ь珳实貙Υ幚韺ο筮M行切邊處理。

技術領域

本申請涉及圖像處理技術，尤其涉及一種切邊方法、裝置及電子設備。

背景技術

一些產(chǎn)品在生產(chǎn)時會產(chǎn)生寬度不一、長短不齊的毛邊；而產(chǎn)品在銷售或使用前，通常需要通過人工剪裁等方式對生產(chǎn)時產(chǎn)生的毛邊進行切邊處理，且要求切邊處理后的產(chǎn)品切面光滑。通常，對產(chǎn)品進行切邊處理的效率影響著產(chǎn)品的生產(chǎn)效率，對產(chǎn)品進行切邊處理的效果影響著產(chǎn)品的銷售量。因此，對產(chǎn)品進行高效、精準地切邊處理是一直追求的目標。

發(fā)明內(nèi)容

本申請實施例提供一種切邊方法、裝置及電子設備，能夠高效精準地進行切邊處理。

本申請實施例的技術方案是這樣實現(xiàn)的：

第一方面，本申請實施例提供一種切邊方法，包括：

基于線激光測量儀掃描待處理對象的邊緣結構，得到所述待處理對象的邊緣結構的點云數(shù)據(jù)；

基于所述邊緣結構的點云數(shù)據(jù)確定所述邊緣結構的端點集合；

判斷所述端點集合中各端點的坐標在第一方向上是否連續(xù)，其中，所述第一方向為所述線激光測量儀的掃描方向；

若所述端點集合中各端點的坐標在所述第一方向上不連續(xù)，則基于所述端點集合中不連續(xù)的兩個相鄰端點的坐標，在所述兩個相鄰端點之間確定至少一個變刀點；

基于所述至少一個變刀點對所述待處理對象進行切邊。

在一些實施例中，所述基于所述邊緣結構的點云數(shù)據(jù)確定所述邊緣結構的端點集合，包括：

以所述點云數(shù)據(jù)中的第一點云數(shù)據(jù)作為起點，確定所述點云數(shù)據(jù)中與所述第一點云數(shù)據(jù)之間的距離為第一距離的第二點云數(shù)據(jù)和第三點云數(shù)據(jù)；

計算第一向量與第二向量之間的角度，得到向量角度，所述第一向量由所述第一點云數(shù)據(jù)和所述第二點云數(shù)據(jù)構成，所述第二向量由所述第一點云數(shù)據(jù)和所述第三點云數(shù)據(jù)構成；

遍歷所述點云數(shù)據(jù)，得到由所述向量角度構成的向量角度集合；

基于所述向量角度集合確定第一端點集合和第二端點集合，所述第一端點集合和所述第二端點集合屬于所述端點集合。

在一些實施例中，基于所述邊緣結構的點云數(shù)據(jù)確定所述邊緣結構的端點集合，包括：

以所述點云數(shù)據(jù)中的第一點云數(shù)據(jù)作為起點，確定所述點云數(shù)據(jù)中與所述第一點云數(shù)據(jù)之間的距離為第一距離的第二點云數(shù)據(jù)和第三點云數(shù)據(jù)；

計算第一向量與第二向量之間的角度，得到向量角度，所述第一向量由所述第一點云數(shù)據(jù)和所述第二點云數(shù)據(jù)構成，所述第二向量由所述第一點云數(shù)據(jù)和所述第三點云數(shù)據(jù)構成；

遍歷所述點云數(shù)據(jù)，得到由所述向量角度構成的向量角度集合；

基于所述向量角度集合確定第一端點集合和第二端點集合；

基于所述第一端點集合和所述第二端點集合確定中心點集合，所述中心點集合屬于所述端點集合。

在一些實施例中，所述基于所述向量角度集合確定第一端點集合和所述第二端點集合，包括：