[發(fā)明專利]一種雙通道芯片檢測(cè)設(shè)備有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110852844.9 | 申請(qǐng)日: | 2021-07-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113433070B | 公開(公告)日: | 2023-02-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 晁陽(yáng)升;王琿榮 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 湖南奧創(chuàng)普科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/13 | 分類號(hào): | G01N21/13;G01N21/95 |
| 代理公司: | 北京易捷勝知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11613 | 代理人: | 張珍珍;李麗敏 |
| 地址: | 410000 湖南省長(zhǎng)沙市高新開發(fā)*** | 國(guó)省代碼: | 湖南;43 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 雙通道 芯片 檢測(cè) 設(shè)備 | ||
1.一種雙通道芯片檢測(cè)設(shè)備,其特征在于,所述雙通道芯片檢測(cè)設(shè)備包括底座、上料裝置、取料機(jī)構(gòu)、底面檢測(cè)裝置以及相對(duì)設(shè)置的第一檢測(cè)裝置和第二檢測(cè)裝置;
所述上料裝置設(shè)置于所述底座上,所述上料裝置用于放置多個(gè)芯片,所述上料裝置能夠沿x軸方向運(yùn)動(dòng);
所述第一檢測(cè)裝置和所述第二檢測(cè)裝置均包括正面檢測(cè)機(jī)構(gòu)、端面檢測(cè)機(jī)構(gòu)以及旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu),所述端面檢測(cè)機(jī)構(gòu)、所述旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)和所述正面檢測(cè)機(jī)構(gòu)均設(shè)置于所述底座上,所述第一檢測(cè)裝置和所述第二檢測(cè)裝置能夠同步工作以形成兩個(gè)檢測(cè)通道;
所述旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)能夠沿x軸和y軸方向運(yùn)動(dòng),所述旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)上水平設(shè)置有旋轉(zhuǎn)臺(tái),所述旋轉(zhuǎn)臺(tái)能夠以穿過自身對(duì)稱中心的豎直線為旋轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn);
所述端面檢測(cè)機(jī)構(gòu)能夠沿z軸方向運(yùn)動(dòng);
所述取料機(jī)構(gòu)設(shè)置于所述端面檢測(cè)機(jī)構(gòu)上,所述取料機(jī)構(gòu)均能夠沿x軸、y軸和z軸方向運(yùn)動(dòng),其中x軸、y軸和z軸中任意兩者相互垂直,所述取料機(jī)構(gòu)用于將所述上料裝置中芯片運(yùn)送至所述旋轉(zhuǎn)臺(tái)上;
所述旋轉(zhuǎn)臺(tái)能夠疊置于所述正面檢測(cè)機(jī)構(gòu)的正下方;
所述底面檢測(cè)裝置設(shè)置于所述底座上,所述底面檢測(cè)裝置位于所述第一檢測(cè)裝置的所述旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)和所述第二檢測(cè)裝置的所述旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)之間。
2.如權(quán)利要求1所述的雙通道芯片檢測(cè)設(shè)備,其特征在于,所述旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)還包括第一旋轉(zhuǎn)安裝架、第二旋轉(zhuǎn)安裝架、第一滑行驅(qū)動(dòng)組件、第二滑行驅(qū)動(dòng)組件以及旋轉(zhuǎn)組件;
所述雙通道芯片檢測(cè)設(shè)備還包括第一滑行導(dǎo)軌,所述第一滑行導(dǎo)軌沿x軸方向設(shè)置于所述底座上,所述第一旋轉(zhuǎn)安裝架與所述第一滑行導(dǎo)軌滑動(dòng)連接;
所述第二旋轉(zhuǎn)安裝架通過第二滑行導(dǎo)軌滑動(dòng)設(shè)置于所述第一旋轉(zhuǎn)安裝架上,所述第二滑行導(dǎo)軌與y軸方向平行;
所述第一滑行驅(qū)動(dòng)組件設(shè)置于所述底座上,所述第二滑行驅(qū)動(dòng)組件設(shè)置于所述第一旋轉(zhuǎn)安裝架上,所述第一滑行驅(qū)動(dòng)組件能夠驅(qū)動(dòng)所述第一旋轉(zhuǎn)安裝架沿所述第一滑行導(dǎo)軌運(yùn)動(dòng),所述第二滑行驅(qū)動(dòng)組件能夠驅(qū)動(dòng)所述第二旋轉(zhuǎn)安裝架沿所述第二滑行導(dǎo)軌運(yùn)動(dòng);
所述旋轉(zhuǎn)組件設(shè)置于所述第二旋轉(zhuǎn)安裝架上,所述旋轉(zhuǎn)臺(tái)水平設(shè)置于所述旋轉(zhuǎn)組件上。
3.如權(quán)利要求2所述的雙通道芯片檢測(cè)設(shè)備,其特征在于,所述旋轉(zhuǎn)組件包括旋轉(zhuǎn)伺服電機(jī)、旋轉(zhuǎn)機(jī)殼以及旋轉(zhuǎn)內(nèi)軸;
所述旋轉(zhuǎn)機(jī)殼設(shè)置于所述第二旋轉(zhuǎn)安裝架上,所述旋轉(zhuǎn)伺服電機(jī)設(shè)置于所述旋轉(zhuǎn)機(jī)殼上;
所述旋轉(zhuǎn)內(nèi)軸與所述旋轉(zhuǎn)機(jī)殼轉(zhuǎn)動(dòng)連接,所述旋轉(zhuǎn)內(nèi)軸豎直設(shè)置,所述旋轉(zhuǎn)內(nèi)軸與所述旋轉(zhuǎn)伺服電機(jī)的轉(zhuǎn)軸連接;
所述旋轉(zhuǎn)臺(tái)水平設(shè)置于所述旋轉(zhuǎn)內(nèi)軸的上端面。
4.如權(quán)利要求3所述的雙通道芯片檢測(cè)設(shè)備,其特征在于,所述旋轉(zhuǎn)臺(tái)上開設(shè)有多個(gè)第一通孔,所述旋轉(zhuǎn)機(jī)殼上開設(shè)有第二通孔;
所述旋轉(zhuǎn)內(nèi)軸的內(nèi)部設(shè)置有導(dǎo)氣管,所述導(dǎo)氣管的第一端與所述第一通孔連通,所述導(dǎo)氣管的第二端始終與所述第二通孔連通。
5.如權(quán)利要求1-4任意一項(xiàng)所述的雙通道芯片檢測(cè)設(shè)備,其特征在于,所述端面檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括端面檢測(cè)相機(jī)以及端面驅(qū)動(dòng)組件;
所述雙通道芯片檢測(cè)設(shè)備還包括端面安裝架,所述端面安裝架設(shè)置于所述底座上;
所述端面檢測(cè)相機(jī)通過端面導(dǎo)軌滑動(dòng)設(shè)置于所述端面安裝架上,所述端面導(dǎo)軌與z軸方向平行;
所述端面檢測(cè)相機(jī)的水平設(shè)置,且所述第一檢測(cè)裝置的所述端面檢測(cè)相機(jī)與所述第二檢測(cè)裝置的所述端面檢測(cè)相機(jī)的鏡頭相對(duì);
所述端面驅(qū)動(dòng)組件設(shè)置于所述端面安裝架,所述端面驅(qū)動(dòng)組件能夠驅(qū)動(dòng)所述端面檢測(cè)相機(jī)沿所述端面導(dǎo)軌運(yùn)動(dòng)。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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