[發明專利]觸控顯示裝置及其測試方法

有效

• 申請號: 202110852110.0
• 申請日: 2021-07-27
• 公開（公告）號: CN113485584B
• 公開（公告）日: 2022-11-01
• 發明（設計）人: 許祖釗
• 申請（專利權）人: 武漢華星光電半導體顯示技術有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/044
• 代理公司: 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570
• 代理人: 楊艇要

一種觸控顯示裝置及其測試方法。觸控顯示裝置包括顯示模組以及觸控模組。觸控模組與顯示模組相連接，且包括觸控基板、第一觸控電極、第二觸控電極、第一觸控走線、第二觸控走線、第一開關單元及第二開關單元。觸控顯示裝置的測試方法包括：將第一漏極短接；將短接后的第一漏極與第一測試焊盤電性連接；將第二漏極短接；將短接后的第二漏極與第二測試焊盤電性連接；以開關信號使第一柵極及第二柵極導通；以及測試第一測試焊盤及第二測試焊盤之間是否產生短路。

技術領域

本申請涉及觸控顯示技術領域，特別是一種觸控顯示裝置及其測試方法。

背景技術

于觸控面板中，觸控走線如果在墊彎區域(pad bending area)下方通過換線后再走線到顯示兩側，會產生大量的觸控走線。然而，該些觸控走線由于過于密集，且數量多，因此難以測試。

特別是，以自容式且具有觸控與顯示驅動集成(touch and display driverintegration,TDDI)芯片的產品而言，墊彎區域中間位置的觸控走線沒有辦法進行測試，因而無法監控制作過程中是否出現問題。

因此，需要一種觸控顯示裝置及其測試方法，以解決現有技術存在的問題。

發明內容

為解決上述技術問題，本申請提供一種觸控顯示裝置及其測試方法中。于本申請中，通過將多個第一開關單元分別與多個第一觸控走線電性連接；將多個第二開關單元分別與多個第二觸控走線電性連接；將短接后的多個第一漏極與第一測試焊盤電性連接；及將短接后的多個第二漏極與第二測試焊盤電性連接，可進行走線的檢測以檢測上述技術問題。特別是，本申請可檢測彎折至面板背面且與觸控顯示芯片綁定的墊彎區域上的走線是否異常。

基于上述目的，本申請提供一種觸控顯示裝置。觸控顯示裝置包括顯示模組以及觸控模組。觸控模組與顯示模組相連接，且包括觸控基板、多個第一觸控電極、多個第二觸控電極、多個第一觸控走線、多個第二觸控走線、多個第一開關單元及多個第二開關單元。多個第一觸控電極沿第一方向排列成多個直行設置所觸控基板上。多個第二觸控電極沿第二方向排列成多個橫列設置觸控基板上，且多個第二觸控電極與多個第一觸控電極交錯設置。多個第一觸控走線分別與多個第一觸控電極及多個第二觸控走線的一部份電性連接。多個第二觸控走線分別與多個第一觸控電極及多個第二觸控走線的另一部份電性連接。多個第一開關單元分別與多個第一觸控走線電性連接，且包括多個第一柵極、多個第一源極及多個第一漏極。多個第二開關單元分別與多個第二觸控走線電性連接，且包括多個第二柵極、多個第二源極及多個第二漏極。多個第一柵極及所述多個第二柵極接收開關信號。

優選地，觸控基板為柔性觸控基板。

優選地，觸控模組更包括多個資料走線，多個資料走線與顯示模組電性連接。

優選地，本申請之觸控顯示裝置更包含觸控顯示芯片，與顯示模組及觸控模組電性連接。

優選地，觸控顯示芯片依據多個橫列上的多個第一觸控電極及多個直行上的多個第二觸控電極的變化量運算產生觸摸座標資料。

優選地，觸控顯示芯片依據相鄰的多個第一觸控電極及多個第二觸控電極之間的電容變化量運算產生觸摸座標資料。

基于上述目的，本申請再提供一種觸控顯示裝置的測試方法，用以測試上述的觸控顯示裝置，包括：

將多個第一漏極短接；

將短接后的多個第一漏極與第一測試焊盤電性連接；

將多個第二漏極短接；

將短接后的多個第二漏極與第二測試焊盤電性連接；

以開關信號使多個第一柵極及多個第二柵極導通；以及

測試第一測試焊盤及第二測試焊盤之間是否產生短路。