[發(fā)明專利]觸控顯示裝置及其測(cè)試方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110852110.0
• 申請(qǐng)日: 2021-07-27
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN113485584B
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-11-01
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 許祖釗
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 武漢華星光電半導(dǎo)體顯示技術(shù)有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G06F3/041
• 分類(lèi)號(hào): G06F3/041;G06F3/044
• 代理公司: 深圳紫藤知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44570
• 代理人: 楊艇要

1.一種觸控顯示裝置，包括：

顯示模組；以及

觸控模組，與所述顯示模組相連接，且包括：

觸控基板；

多個(gè)第一觸控電極，沿第一方向排列成多個(gè)直行設(shè)置所述觸控基板上；

多個(gè)第二觸控電極，沿第二方向排列成多個(gè)橫列設(shè)置所述觸控基板上，且所述多個(gè)第二觸控電極與所述多個(gè)第一觸控電極交錯(cuò)設(shè)置；

多個(gè)第一觸控走線，分別與所述多個(gè)第一觸控電極及所述多個(gè)第二觸控電極的一部份電性連接；

多個(gè)第二觸控走線，分別與所述多個(gè)第一觸控電極及所述多個(gè)第二觸控電極的另一部份電性連接；

多個(gè)第一開(kāi)關(guān)單元，分別與所述多個(gè)第一觸控走線電性連接，且包括多個(gè)第一柵極、多個(gè)第一源極及多個(gè)第一漏極；

多個(gè)第二開(kāi)關(guān)單元，分別與所述多個(gè)第二觸控走線電性連接，且包括多個(gè)第二柵極、多個(gè)第二源極及多個(gè)第二漏極；以及

多個(gè)資料走線，與所述顯示模組電性連接，且與所述第一觸控電極和所述第二觸控電極電性連接；

其中，所述多個(gè)第一柵極及所述多個(gè)第二柵極接收開(kāi)關(guān)信號(hào)。

2.如權(quán)利要求1所述的觸控顯示裝置，其特征在于，所述觸控基板為柔性觸控基板。

3.如權(quán)利要求1所述的觸控顯示裝置，其特征在于，所述觸控顯示裝置更包含觸控顯示芯片，與所述顯示模組及所述觸控模組電性連接。

4.如權(quán)利要求3所述的觸控顯示裝置，其特征在于，所述觸控顯示芯片依據(jù)所述多個(gè)橫列上的所述多個(gè)第一觸控電極及所述多個(gè)直行上的所述多個(gè)第二觸控電極的變化量運(yùn)算產(chǎn)生觸摸座標(biāo)資料。

5.如權(quán)利要求3所述的觸控顯示裝置，其中所述觸控顯示芯片依據(jù)相鄰的所述多個(gè)第一觸控電極及所述多個(gè)第二觸控電極之間的電容變化量運(yùn)算產(chǎn)生觸摸座標(biāo)資料。

6.一種觸控顯示裝置的測(cè)試方法，用以測(cè)試如權(quán)利要求1所述的觸控顯示裝置，包括:

將所述多個(gè)第一漏極短接；

將短接后的所述多個(gè)第一漏極與第一測(cè)試焊盤(pán)電性連接；

將所述多個(gè)第二漏極短接；

將短接后的所述多個(gè)第二漏極與第二測(cè)試焊盤(pán)電性連接；

以所述開(kāi)關(guān)信號(hào)使所述多個(gè)第一柵極及所述多個(gè)第二柵極導(dǎo)通；以及

測(cè)試所述第一測(cè)試焊盤(pán)及所述第二測(cè)試焊盤(pán)之間是否產(chǎn)生短路；

其中，所述觸控顯示裝置的測(cè)試方法是執(zhí)行于將觸控顯示芯片與所述顯示模組及所述觸控模組電性連接之前。

7.如權(quán)利要求6所述的觸控顯示裝置的測(cè)試方法，其特征在于，所述第一測(cè)試焊盤(pán)及所述第二測(cè)試焊盤(pán)是以假壓柔性印刷電路板的方式分別與所述多個(gè)第一漏極及所述多個(gè)第二漏極電性連接。

8.如權(quán)利要求6所述的觸控顯示裝置的測(cè)試方法，其特征在于，所述第一測(cè)試焊盤(pán)及所述第二測(cè)試焊盤(pán)分別位于所述觸控模組的相對(duì)兩側(cè)。

9.如權(quán)利要求6所述的觸控顯示裝置的測(cè)試方法，其特征在于，所述觸控顯示裝置的測(cè)試方法更包括利用多個(gè)萬(wàn)用表分別測(cè)試所述第一測(cè)試焊盤(pán)及所述第二測(cè)試焊盤(pán)之間是否產(chǎn)生短路。