[發明專利]一種螺紋圈數測量方法和裝置

在審

• 申請號: 202110847803.0
• 申請日: 2021-07-27
• 公開（公告）號: CN113592803A
• 公開（公告）日: 2021-11-02
• 發明（設計）人: 趙敏;姚毅;楊藝;全煜鳴;金剛;彭斌
• 申請（專利權）人: 凌云光技術股份有限公司;深圳市凌云視迅科技有限責任公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/136;G06T7/70
• 代理公司: 北京弘權知識產權代理有限公司 11363
• 代理人: 逯長明;許偉群

本申請提供的一種螺紋圈數測量方法和裝置，獲取螺釘孔中螺紋的頂部螺紋圖像和底部螺紋圖像；分別對所述頂部螺紋圖像和所述底部螺紋圖像進行二值化處理；對二值化處理后的頂部螺紋圖像中螺紋區域進行Blob分析，確定所述頂部螺紋圖像的第一螺紋和第一螺紋數量；對二值化處理后的底部螺紋圖像中螺紋區域進行Blob分析，確定所述底部螺紋圖像的第二螺紋和第二螺紋數量；根據所述第一坐標系和所述第二坐標系的位置對應關系，確定重疊螺紋數量，其中，所述重疊螺紋數量為所述第一螺紋和所述第二螺紋的重疊區域對應的所述第二螺紋中的螺紋數；確定所述螺釘孔中總螺紋數，本申請提高螺釘孔中螺紋的測量精度，提升的螺紋測量的效率。

技術領域

本申請涉及圖像檢測技術領域，尤其涉及一種螺紋圈數測量方法和裝置。

背景技術

螺釘孔是螺釘通過孔，在工件上用來安裝螺釘，螺釘孔內壁具有螺紋，螺紋是由線型組成的圖形，螺紋在生產過程中可能存在漏攻紋、螺紋圈數不夠等。

傳統測量方式是使用螺紋塞規測量螺釘孔內螺紋尺寸的工具，測量人員將對應規格的螺紋塞規與被測的螺釘孔對正后，轉動螺紋塞規，使其在自由狀態下旋轉進螺釘孔，直到沒有可動空間為止，通過螺紋塞規判斷螺釘孔的螺紋圈數是否合格。然而，傳統方法導致螺紋圈數測量準確率低。

發明內容

本申請提供了一種螺紋圈數測量方法和裝置，以解決螺紋圈數測量準確度低的技術問題。

為了達到上述目的，本申請實施例采用以下技術方案：

第一方面，一種螺紋圈數測量方法，所述方法包括：

獲取螺釘孔中螺紋的頂部螺紋圖像和底部螺紋圖像，其中，所述頂部螺紋圖像的第一坐標系和所述底部螺紋圖像的第二坐標系存在位置對應關系；

分別對所述頂部螺紋圖像和所述底部螺紋圖像進行二值化處理；

對二值化處理后的頂部螺紋圖像中螺紋區域進行Blob分析，確定所述頂部螺紋圖像的第一螺紋和第一螺紋數量；

對二值化處理后的底部螺紋圖像中螺紋區域進行Blob分析，確定所述底部螺紋圖像的第二螺紋和第二螺紋數量；

根據所述第一坐標系和所述第二坐標系的位置對應關系，確定重疊螺紋數量，其中，所述重疊螺紋數量為所述第一螺紋和所述第二螺紋的重疊區域對應的所述第二螺紋中的螺紋數；

確定所述螺釘孔中總螺紋數，其中，所述總螺紋數為所述第一螺紋數量和所述第二螺紋數量之和，并減去所述重疊螺紋數量。

在一種可能的實現方式中，獲取螺釘孔中螺紋的頂部螺紋圖像和底部螺紋圖像的步驟中，包括：通過幾何定位模板確定螺釘孔的定位核，所述定位核為螺釘孔邊緣；

根據所述定位核獲取所述螺釘孔中螺紋的紅色通道圖像和藍色通道圖像；

對所述紅色通道圖像進行仿射變化，確定螺釘孔中螺紋的頂部螺紋圖像；

對所述藍色通道圖像進行仿射變化，確定螺釘孔中螺紋的底部螺紋圖像。

在一種可能的實現方式中，對二值化處理后的頂部螺紋圖像中螺紋區域進行Blob分析，確定所述頂部螺紋圖像的第一螺紋和第一螺紋數量的步驟中，包括：

根據Blob分析，確定頂部螺紋圖像中每個螺紋區域的信息，所述螺紋區域的信息包括螺紋區域質心坐標、高度、寬度以及游程組數量；

所述螺紋區域的高度大于預設第一高度時，對應的螺紋區域為有效螺紋區域，否則為待確定螺紋區域；

在第一坐標系中，確定高度大于預設第二高度且寬度大于預設第二寬度的待確定螺紋區域，當對應待確定螺紋區域質心坐標之間的距離大于預設距離時，將所述對應待確定螺紋區域合并為有效螺紋區域，否則為無效螺紋區域，其中，所述預設第二高度小于所述預設第一高度；