[發明專利]IC芯片分選檢測輔助系統

在審

• 申請號: 202110842430.8
• 申請日: 2021-07-26
• 公開（公告）號: CN113560202A
• 公開（公告）日: 2021-10-29
• 發明（設計）人: 魏強;鄭朝生;袁俊;鄭挺;辜詩濤
• 申請（專利權）人: 廣東利揚芯片測試股份有限公司
• 主分類號: B07C5/02
• 分類號: B07C5/02;B07C5/344
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 張艷美;趙貫杰

本發明公開了一種IC芯片分選檢測輔助系統，包括用于對重力式分選機的不同檢測檔位進行調節的輔助切換系統，分選機中的IC芯片放置架上間隔設置有若干對位置傳感器，每一檢測檔位選擇使用其中若干位置傳感器，輔助切換系統包括控制器和與電子切換開關，電子切換開關分別與若干分別屬于不同檢測檔位的位置傳感器電性連接，控制器用于根據當前進入分選機的IC芯片的類型控制電子切換開關的動作；通過本發明IC芯片分選檢測輔助系統，當待測IC芯片的批次發生變化時，可自動切換所選擇使用的位置傳感器，從而自動切換檢測檔位，中途無須停機調節，有效提高了工作效率，而且可有效避免工作人員忘記調節檢測檔位的現象發生。

技術領域

本發明涉及IC芯片分選檢測技術領域，尤其涉及一種用于IC芯片分選檢測機的IC芯片分選檢測輔助系統。

背景技術

IC芯片封裝完成后，進入測試工序，完成對IC芯片的電性測試。測試分Tray盤來料方式和料管來料方式。料管來料方式是使用重力式分選機搭配測試機進行測試，在使用重力式分選機對IC芯片進行測試時，IC芯片靠自身重力從料管中落入放置架中，對于每個檢測工位來說，一次要求只能有一個待測IC芯片，因此，現在一般在放置架中還設置有重料識別裝置。然而，對于不同批次的IC芯片來說，由于其管腳數和基體的尺寸不同，因此，一般重料識別裝置設置有多個分別與不同類型的IC芯片對應的檢測檔位，當待測IC芯片的類型發生變化時，需要先停止當前的檢測工作，手動調節重料識別裝置的檔位，調節完畢后才能開始下一批次的檢測工作，這不僅限制了IC芯片檢測工作效率的提高，而且當工作人員忘記調節重料識別裝置的檔位時，會造成重料無法識別，影響檢測質量，當發現重料識別裝置的檔位錯誤時還要返工，浪費工時。

發明內容

本發明的目的是為解決上述技術問題的不足而提供一種可根據當前待檢測IC芯片的類型自動調節檢測檔位以確保對重料準確識別并提高工作效率的IC芯片分選檢測輔助系統。

為了實現上述目的，本發明公開了一種IC芯片分選檢測輔助系統，包括用于對重力式分選機的不同檢測檔位進行調節的輔助切換系統，所述分選機中的IC芯片放置架上間隔設置有若干對位置傳感器，所述位置傳感器用于檢測IC芯片到位與否，每一所述檢測檔位選擇使用其中若干所述位置傳感器，所述輔助切換系統包括控制器和與所述控制器電性連接的電子切換開關，所述電子切換開關分別與若干分別屬于不同所述檢測檔位的所述位置傳感器電性連接，所述控制器用于根據當前進入分選機的IC芯片的類型控制所述電子切換開關的動作，以使得所述電子切換開關自動切換所選擇使用的所述位置傳感器。

較佳的，所述位置傳感器包括與檢測位正中心對應的一常態傳感器和與所述常態傳感器依次間隔設置的兩可選傳感器，所述電子切換開關分別與兩所述可選傳感器電性連接，以選擇其中一所述可選擇傳感器進入檢測工作狀態。

較佳的，所述位置傳感器包括光電開關。

較佳的，所述電子切換開關包括多觸頭繼電器。

較佳的，所述控制器與裝載有待測IC芯片的資料的服務器通信連接，以從所述服務器中自動獲取當前所要分選的IC芯片的資料。

較佳的，所述位置傳感器的輸出端電性連接在一電壓比較器的同相輸入端，所述電壓比較器的反向輸入端還通過以滑動變阻器電性連接有一比較電壓源。