[發明專利]IC芯片分選檢測輔助系統

在審

• 申請號: 202110842430.8
• 申請日: 2021-07-26
• 公開（公告）號: CN113560202A
• 公開（公告）日: 2021-10-29
• 發明（設計）人: 魏強;鄭朝生;袁俊;鄭挺;辜詩濤
• 申請（專利權）人: 廣東利揚芯片測試股份有限公司
• 主分類號: B07C5/02
• 分類號: B07C5/02;B07C5/344
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 張艷美;趙貫杰

1.一種IC芯片分選檢測輔助系統，其特征在于，包括用于對重力式分選機的不同檢測檔位進行調節的輔助切換系統，所述分選機中的IC芯片放置架上間隔設置有若干對位置傳感器，所述位置傳感器用于檢測IC芯片到位與否，每一所述檢測檔位選擇使用其中若干所述位置傳感器，所述輔助切換系統包括控制器和與所述控制器電性連接的電子切換開關，所述電子切換開關分別與若干分別屬于不同所述檢測檔位的所述位置傳感器電性連接，所述控制器用于根據當前進入分選機的IC芯片的類型控制所述電子切換開關的動作，以使得所述電子切換開關自動切換所選擇使用的所述位置傳感器。

2.根據權利要求1所述的IC芯片分選檢測輔助系統，其特征在于，所述位置傳感器包括與檢測位正中心對應的一常態傳感器和與所述常態傳感器依次間隔設置的兩可選傳感器，所述電子切換開關分別與兩所述可選傳感器電性連接，以選擇其中一所述可選擇傳感器進入檢測工作狀態。

3.根據權利要求1所述的IC芯片分選檢測輔助系統，其特征在于，所述位置傳感器包括光電開關。

4.根據權利要求1所述的IC芯片分選檢測輔助系統，其特征在于，所述電子切換開關包括多觸頭繼電器。

5.根據權利要求1所述的IC芯片分選檢測輔助系統，其特征在于，所述控制器與裝載有待測IC芯片的資料的服務器通信連接，以從所述服務器中自動獲取當前所要分選的IC芯片的資料。

6.根據權利要求1所述的IC芯片分選檢測輔助系統，其特征在于，所述位置傳感器的輸出端電性連接在一電壓比較器的同相輸入端，所述電壓比較器的反向輸入端還通過以滑動變阻器電性連接有一比較電壓源。

7.根據權利要求1所述的IC芯片分選檢測輔助系統，其特征在于，所述分選機上設置有若干檢測工位，每一所述檢測工位通過一路信號線與其中一測試板通信連接，所述測試板與測試機通信連接，每一所述檢測工位上設置有用于固定并將所述IC芯片的管腳與所述測試板建立電性連接的治具，所述IC芯片分選檢測輔助系統還包括用于檢測不同所述檢測工位的接線是否正確的輔助自檢系統，所述輔助自檢系統包括狀態定義模塊、狀態檢測模塊、自檢信號生成模塊和判斷模塊；所述狀態定義模塊，用于根據所述IC芯片在所述治具上是否與所述測試板建立連接將每一所述檢測工位的治具定義為第一狀態和第二狀態；所述狀態檢測模塊，用于檢測所述治具的當前狀態；所述自檢信號生成模塊，用于生成向所述治具發出的使其連續N次由所述第二狀態進入所述第一狀態的指令；所述判斷模塊用于根據所述自檢信號生成模塊發出的指令和所述狀態檢測模塊的反饋判斷當前所述檢測工位接線是否正確，N≥1。

8.根據權利要求7所述的IC芯片分選檢測輔助系統，其特征在于，所述治具包括可自動開合的金手指。

9.根據權利要求7所述的IC芯片分選檢測輔助系統，其特征在于，所述第一狀態為松開所述治具對所述IC芯片的管腳的夾持以使其斷開與所述測試板電性連接的狀態，所述第二狀態為所述治具將所述IC芯片的管腳夾緊以使其與所述測試板電性連接的狀態。