[發(fā)明專利]一種薄液膜下電偶腐蝕的評(píng)價(jià)方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110826481.1
• 申請日: 2021-07-21
• 公開（公告）號(hào): CN113533187B
• 公開（公告）日: 2022-05-31
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 齊葉龍;付益平;秦興國;劉昱;李勇
• 申請（專利權(quán)）人: 東風(fēng)汽車集團(tuán)股份有限公司
• 主分類號(hào): G01N17/00
• 分類號(hào): G01N17/00
• 代理公司: 武漢開元知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 42104
• 代理人: 俞鴻;王虹

1.一種薄液膜下電偶腐蝕的評(píng)價(jià)方法，其特征在于，

包括以下步驟：

（1）制備搭接試樣

將待評(píng)價(jià)電偶腐蝕的A、B兩種材料分別制成待測試樣A和待測試樣B，兩待測試樣邊緣分別作密封絕緣處理后，共同制作成搭接試樣，制作成搭接試樣具體為：

待測試樣A和待測試樣B的長度相同，將兩待測試樣并排放置且長邊重合，再取一整塊導(dǎo)電膠帶將兩待測試樣背面完全貼附使二者連接導(dǎo)電，將帶有導(dǎo)電膠帶的兩待測試樣背面整體進(jìn)行密封絕緣處理，得到搭接試樣；

（2）制備對照試樣

將待評(píng)價(jià)電偶腐蝕的A、B兩種材料分別制成對照試樣A₀和對照試樣B₀，對照試樣A₀和對照試樣B₀尺寸分別與步驟（1）中待測試樣A和待測試樣B相同，兩對照試樣邊緣分別按步驟（1）中待測試樣邊緣作同樣密封絕緣處理，間隔放置，將兩對照試樣背面分別按步驟（1）中待測試樣背面作同樣密封絕緣處理；

（3）鹽霧試驗(yàn)

將搭接試樣和對照試樣A₀、對照試樣B₀進(jìn)行大氣暴露試驗(yàn)或人工加速鹽霧試驗(yàn)，期滿取樣，去除試樣上覆蓋物后清洗去除腐蝕產(chǎn)物；

（4）腐蝕評(píng)價(jià)

測定得到待測試樣A、待測試樣B、對照試樣A₀、對照試樣B₀各自的平均腐蝕深度，分別為Z_tst-A、Z_tst-B、Z_{ref- A}、Z_ref-B，根據(jù)統(tǒng)計(jì)學(xué)t檢驗(yàn)判斷Z_tst-A是否顯著區(qū)別于Z_ref-A、Z_tst-B是否顯著區(qū)別于Z_ref-B，根據(jù)統(tǒng)計(jì)學(xué)t檢驗(yàn)判斷Z_tst-A是否顯著區(qū)別于Z_{ref- A}具體為：

取對照試樣A₀的n個(gè)腐蝕深度數(shù)據(jù)，確定置信水平 p=1-α，α為檢驗(yàn)水準(zhǔn)，α≤10%，自由度v=n-1，查表得到臨界值t_α/v，計(jì)算對照試樣A₀的n個(gè)腐蝕深度數(shù)據(jù)的樣本標(biāo)準(zhǔn)差SD_A，則Z_{ref- A}的置信區(qū)間為（Z_{ref- A}-t_α/v*SD_A/，Z_{ref- A}+t_α/v*SD_A/），

若Z_tst-A不在Z_{ref- A}的置信區(qū)間內(nèi)，則Z_tst-A顯著區(qū)別于Z_{ref- A}；

根據(jù)統(tǒng)計(jì)學(xué)t檢驗(yàn)判斷Z_tst-B是否顯著區(qū)別于Z_{ref- B}具體為：

取對照試樣B₀的n個(gè)腐蝕深度數(shù)據(jù)，確定置信水平 p=1-α，α為檢驗(yàn)水準(zhǔn)，α≤10%，自由度v=n-1，查表得到臨界值t_α/v，計(jì)算對照試樣B₀的n個(gè)腐蝕深度數(shù)據(jù)的樣本標(biāo)準(zhǔn)差SD_B，則Z_{ref- B}的置信區(qū)間為（Z_{ref- B}-t_α/v*SD_B/，Z_{ref- B}+t_α/v*SD_B/），

若Z_tst-B不在Z_{ref- B}的置信區(qū)間內(nèi)，則Z_tst-B顯著區(qū)別于Z_{ref- B}；

若有Z_tst-A顯著區(qū)別于Z_ref-A且Z_tst-B顯著區(qū)別于Z_ref-B，則按下式計(jì)算材料A和材料B各自的電偶效應(yīng)值，

電偶效應(yīng)值β=（Z_tst -Z_ref）/（Z_tst +Z_ref）

其中：Z_tst、Z_ref分別為同種材料待測試樣的平均腐蝕深度以及對照試樣的平均腐蝕深度，單位均為μm。