[發明專利]自動維護方法

在審

• 申請號: 202110800438.8
• 申請日: 2021-07-15
• 公開（公告）號: CN113494994A
• 公開（公告）日: 2021-10-12
• 發明（設計）人: 李漫鐵;趙敏;陳小超;王旭東;羅國華;周杰
• 申請（專利權）人: 惠州雷曼光電科技有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01N21/84;B23K26/362
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 李輝

1.一種自動維護方法，用于對LED發光模組進行維護，其特征在于，所述自動維護方法包括如下步驟：

提供信息存儲單元；

通過檢測機構檢測所述LED發光模組上存在異常的不良元件所對應的異常坐標位置，并將所述異常坐標位置的信息添加至所述存儲單元；

根據所述存儲單元中的所述異常坐標位置的信息去除所述不良元件；及

在所述異常坐標位置設置新元件，并通過所述檢測機構以檢測所述新元件是否存在異常。

2.根據權利要求1所述的自動維護方法，其特征在于，所述檢測機構采集全部待檢測元件的外觀圖片，并將所述外觀圖片與存儲在所述檢測機構內的標準圖片相比較，當所述外觀圖片與所述標準圖片的差異值大于設定閾值時，則判定所述待檢測元件為所述不良元件。

3.根據權利要求2所述的自動維護方法，其特征在于，所述檢測機構包括自動光學檢測機，所述自動光學檢測機通過立體相機采集所述待檢測元件的所述外觀圖片。

4.根據權利要求1所述的自動維護方法，其特征在于，所述檢測機構檢測待檢測元件是否發光，并將能發光的所述待檢測元件的發光亮度與標準亮度相比較，當所述待檢測元件無法發光，或者所述待檢測元件的發光亮度與所述標準亮度的差異值大于設定閾值時，則判定所述待檢測元件為所述不良元件。

5.根據權利要求1所述的自動維護方法，其特征在于，所述存儲單元為二維碼，通過激光打碼器在所述LED發光模組的支架上形成所述二維碼。

6.根據權利要求1所述的自動維護方法，其特征在于，所述新元件包括晶片，先將剔除所述不良元件后的所述LED發光模組的支架進行清洗和干燥，然后將所述晶片通過導電膠或絕緣膠固定在所述支架上。

7.根據權利要求6所述的自動維護方法，其特征在于，將所述導電膠、絕緣膠通過涂覆或絲印的方式設置在所述支架上。

8.根據權利要求6所述的自動維護方法，其特征在于，將固定有所述晶片的所述支架通過100℃至200℃的溫度烘烤5min至180min。

9.根據權利要求6所述的自動維護方法，其特征在于，所述新元件還包括焊線，將所述焊線的一端焊接在其中一個所述晶片上，將所述焊線的另一端焊接在所述支架上或另一個所述晶片上。

10.根據權利要求9所述的自動維護方法，其特征在于，在所述焊線的焊接過程中，對所述焊線噴出惰性氣體以使所述惰性氣體覆蓋所述焊線。