[發明專利]自動維護方法

在審

• 申請號: 202110800438.8
• 申請日: 2021-07-15
• 公開（公告）號: CN113494994A
• 公開（公告）日: 2021-10-12
• 發明（設計）人: 李漫鐵;趙敏;陳小超;王旭東;羅國華;周杰
• 申請（專利權）人: 惠州雷曼光電科技有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01N21/84;B23K26/362
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 李輝

本發明涉及一種自動維護方法，用于對LED發光模組進行維護，所述自動維護方法包括如下步驟：提供信息存儲單元。通過檢測機構檢測所述LED發光模組上存在異常的不良元件所對應的異常坐標位置，并將所述異常坐標位置的信息添加至所述存儲單元。根據所述存儲單元中的所述異常坐標位置的信息去除所述不良元件。及在所述異常坐標位置設置新元件，并通過所述檢測機構以檢測所述新元件是否存在異常。檢測機構一方面可以提高不良元件的檢測效率，從而提高LED發光模組的維護效率；另一方面檢測機構的檢測準確度相對人工肉眼檢測有大幅提高，可以提高不良元件的檢測準確度，從而提高LED發光模組的維護品質。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，特別是涉及一種自動維護方法。

背景技術

對于LED發光模組的加工，通常涉及到對不良元件的檢測和維護，對于傳統的的檢測和維護方法，通常采用肉眼觀察的方式對不良元件的外觀和發光情況進行檢測。即便在檢測人員經驗較高的情況下，仍然出現判斷不準確的現象，導致將不良元件誤判為正常元件，從而難以保證LED發光模組的維護品質。同時，檢測人員檢測效率相對較低，從而影響LED發光模組的維護效率。并且，隨著時間的延長，檢測人員產生疲倦，會更進一步降低LED發光模組的維護品質和維護效率。

發明內容

本發明解決的一個技術問題是如何提高維護效率和維護品質。

一種自動維護方法，用于對LED發光模組進行維護，所述自動維護方法包括如下步驟：

提供信息存儲單元；

通過檢測機構檢測所述LED發光模組上存在異常的不良元件所對應的異常坐標位置，并將所述異常坐標位置的信息添加至所述存儲單元；

根據所述存儲單元中的所述異常坐標位置的信息去除所述不良元件；及

在所述異常坐標位置設置新元件，并通過所述檢測機構以檢測所述新元件是否存在異常。

在其中一個實施例中，所述檢測機構采集全部待檢測元件的外觀圖片，并將所述外觀圖片與存儲在所述檢測機構內的標準圖片相比較，當所述外觀圖片與所述標準圖片的差異值大于設定閾值時，則判定所述待檢測元件為所述不良元件。

在其中一個實施例中，所述檢測機構包括自動光學檢測機，所述自動光學檢測機通過立體相機采集所述待檢測元件的所述外觀圖片。

在其中一個實施例中，所述檢測機構檢測待檢測元件是否發光，并將能發光的所述待檢測元件的發光亮度與標準亮度相比較，當所述待檢測元件無法發光，或者所述待檢測元件的發光亮度與所述標準亮度的差異值大于設定閾值時，則判定所述待檢測元件為所述不良元件。

在其中一個實施例中，所述存儲單元為二維碼，通過激光打碼器在所述LED發光模組的支架上形成所述二維碼。

在其中一個實施例中，所述新元件包括晶片，先將剔除所述不良元件后的所述LED發光模組的支架進行清洗和干燥，然后將所述晶片通過導電膠或絕緣膠固定在所述支架上。

在其中一個實施例中，將所述導電膠、絕緣膠通過涂覆或絲印的方式設置在所述支架上。

在其中一個實施例中，將固定有所述晶片的所述支架通過100℃至200℃的溫度烘烤5min至180min。

在其中一個實施例中，所述新元件還包括焊線，將所述焊線的一端焊接在其中一個所述晶片上，將所述焊線的另一端焊接在所述支架上或另一個所述晶片上。

在其中一個實施例中，在所述焊線的焊接過程中，對所述焊線噴出惰性氣體以使所述惰性氣體覆蓋所述焊線。