[發(fā)明專利]晶圓承載座及研磨機在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110798095.6 | 申請日: | 2021-07-14 |
| 公開(公告)號: | CN113370073A | 公開(公告)日: | 2021-09-10 |
| 發(fā)明(設計)人: | 崔凱;田國軍 | 申請(專利權(quán))人: | 北京爍科精微電子裝備有限公司 |
| 主分類號: | B24B37/27 | 分類號: | B24B37/27 |
| 代理公司: | 北京三聚陽光知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11250 | 代理人: | 王鍇 |
| 地址: | 100176 北京市*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 承載 研磨機 | ||
本發(fā)明公開了一種晶圓承載座及研磨機,其中,晶圓承載座包括基座本體和支撐件,基座本體形成有供晶圓放置的放置位;支撐件設于基座本體上,以用于支撐位于放置位上的晶圓。本發(fā)明改進了晶圓承載座的結(jié)構(gòu),減少了承載座與晶圓之間的接觸面積,降低了表面張力的影響,方便卸載處于放置位上的晶圓,以便將晶圓裝載到研磨頭,提升了晶圓的裝載和卸載的便利性,進而降低了機臺報警的發(fā)生頻率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及研磨機技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種晶圓承載座及研磨機。
背景技術(shù)
隨著半導體芯片制造技術(shù)的發(fā)展,200mm及以上晶圓的化學機械平坦化工藝(Chemical Mechanical Planarization,簡稱CMP)在芯片生產(chǎn)中的作用和要求也就越來越高。芯片器件越來越小,線寬越來越窄和電性隔離的要求越來越高,這對CMP研磨機臺的穩(wěn)定性能要求也是越來越嚴格,越來越多的客戶通過減少機臺報警頻率,提高的機臺利用率來降低生產(chǎn)晶圓的成本。
目前,晶圓在經(jīng)過承載座裝載時,由于晶圓和承載座之間有水的存在而形成表面張力,這個表面張力使晶圓不太容易從承載座上卸載下來裝到研磨頭上,只有克服表面張力才可以成功將晶圓裝載到研磨頭。然而,現(xiàn)有研磨機臺的承載座與晶圓之間的張力較大,這使得晶圓的裝載和卸載較為困難,機臺報警的情況頻發(fā)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于提供一種晶圓承載座及研磨機,旨在減少承載座與晶圓之間的接觸面積,降低表面張力的影響,以提升晶圓的裝載和卸載的便利性。
為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提出一種晶圓承載座,所述晶圓承載座包括:
基座本體,形成有供所述晶圓放置的放置位;以及
支撐件,設于所述基座本體上,以用于支撐位于所述放置位上的晶圓。
可選地,所述支撐件為設于所述基座本體上的立柱。
可選地,所述立柱可拆卸地設于所述基座本體的表面上。
可選地,所述立柱的長度為0.1mm至5.00cm。
可選地,所述立柱的數(shù)量為多個,各所述立柱的底部相互連接。
可選地,所述晶圓承載座還包括調(diào)節(jié)件,所述調(diào)節(jié)件設于所述基座本體上并與所述支撐件連接,以用于驅(qū)動所述支撐件沿其長度方向移動。
可選地,所述調(diào)節(jié)件為螺栓或頂絲;或者
所述調(diào)節(jié)件包括驅(qū)動件及與所述驅(qū)動件傳動連接的升降機構(gòu),所述支撐件設于所述升降機構(gòu)上,所述驅(qū)動件用于驅(qū)動所述升降機構(gòu)做升降運動,以帶動所述支撐件沿其長度方向移動。
可選地,所述立柱的徑向截面呈圓形、三角形、多邊形或不規(guī)則形狀。
可選地,所述支撐件為設于所述基座本體表面上的凸起,所述凸起的數(shù)量為至少一個。
為了實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明還提出一種研磨機,包括如上所述的晶圓承載座,所述晶圓承載座包括:
基座本體;以及
支撐件,設于所述基座本體上,以用于與支撐所述晶圓。
在本發(fā)明的技術(shù)方案中,由于該晶圓承載座包括基座本體和支撐件,基座本體形成有供晶圓放置的放置位,支撐件設于基座本體上,以用于支撐位于放置位上的晶圓,避免了晶圓與承載座面接觸,減少了承載座與晶圓之間的接觸面積,降低了表面張力的影響,方便卸載處于放置位上的晶圓,以便將晶圓裝載到研磨頭,提升了晶圓的裝載和卸載的便利性,進而減少了機臺報警的發(fā)生頻率。
附圖說明
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