[發明專利]用于生成地圖的方法、裝置、電子設備和介質

在審

• 申請號: 202110793097.6
• 申請日: 2021-07-13
• 公開（公告）號: CN113506369A
• 公開（公告）日: 2021-10-15
• 發明（設計）人: 劉奇勝;李友浩;邵曉東;王玉斌
• 申請（專利權）人: 阿波羅智能技術（北京）有限公司
• 主分類號: G06T17/05
• 分類號: G06T17/05;G06T7/73;G06K9/46;G06K9/62
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 趙林琳

1.一種用于生成地圖的方法，包括：

基于圖像集合，生成三維坐標點的集合，其中所述圖像集合中的圖像包括特征點，并且所述三維坐標點與所述圖像集合中的至少一個圖像的特征點相對應；

針對每個三維坐標點，基于具有與所述三維坐標點對應的特征點的至少一個圖像，確定所述三維坐標點的質量度量；以及

基于所述三維坐標點的所述質量度量滿足預定條件，確定所述三維坐標點被選擇，以用于生成地圖。

2.根據權利要求1所述的方法，還包括：

獲取所述圖像的集合，所述圖像的集合包括多個圖像子集，其中所述多個圖像子集中的各個圖像子集中包括至少一個相同的物理對象。

3.根據權利要求1所述的方法，其中，生成三維坐標點的集合包括，針對每個圖像子集：

確定所述圖像子集中的各個圖像的特征點，所述特征點具有對應的特征描述子；

通過比較各個圖像的所述特征點的所述特征描述子來確定匹配的特征點；

基于所述匹配的特征點和在獲取所述圖像子集時的運動信息，生成對應的三維坐標點和具有與所述三維坐標點對應的特征點的圖像的位姿信息。

4.根據權利要求3所述的方法，其中，生成三維坐標點的集合還包括：

確定所生成的三維坐標點的特征描述子，所述三維坐標點的所述特征描述子基于對應的特征點的特征描述子而得到；

通過比較所生成的三維坐標點的特征描述子來確定匹配的三維坐標點；以及

如果所述匹配的三維坐標點之間的距離小于預定閾值，將所述匹配的三維坐標點融合為一個三維坐標點。

5.根據權利要求2所述的方法，確定所述三維坐標點的質量度量包括：

確定在所述多個圖像子集中的一個圖像子集中，具有與所述三維坐標點對應的特征點的至少一個圖像的最大數目。

6.根據權利要求2所述的方法，其中，確定所述三維坐標點的質量度量還包括：

確定如下圖像子集的數目，所述圖像子集包括具有與所述三維坐標點對應的特征點的至少一個圖像。

7.根據權利要求1所述的方法，其中，所述圖像集合中的圖像具有相關聯的時間信息，并且其中確定所述三維坐標點的質量度量包括：

基于所述圖像集合中具有與所述三維坐標點對應的特征點的至少一個圖像的時間信息，確定關于所述三維坐標點的時間分布度量。

8.根據權利要求1所述的方法，其中，確定所述三維坐標點的質量度量包括：

基于具有與所述三維坐標點對應的特征點的至少一個圖像的位姿信息和所述三維坐標點的三維坐標，確定所述三維坐標點在所述至少一個圖像上的重投影位置；以及

計算所述重投影位置與對應于所述三維坐標點的特征點的位置之間的距離的平均值。

9.根據權利要求5所述的方法，其中，所述三維坐標點的所述質量度量滿足預定條件，具體包括：所確定的所述最大數目大于或等于第一閾值。

10.根據權利要求6所述的方法，其中所述三維坐標點的所述質量度量滿足預定條件，具體包括：所確定的所述圖像子集的數目大于或等于第二閾值。

11.根據權利要求1所述的方法，其中所述質量度量包括至少一個度量，所述方法還包括根據所述至少一個度量的優先次序，對三維坐標點進行排序，并且

所述三維坐標點的所述質量度量滿足預定條件具體包括所述三維坐標點的排序在第三閾值之前。