[發(fā)明專利]一種工業(yè)圖形計(jì)算機(jī)輔助制造的圖文印刷數(shù)據(jù)的分析方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110790561.6 | 申請(qǐng)日: | 2021-07-13 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113468852A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-10-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 周梅文;趙敏;雍秉洋 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 蘇州悅譜半導(dǎo)體有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F30/398 | 分類號(hào): | G06F30/398 |
| 代理公司: | 北京盛凡智榮知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11616 | 代理人: | 曹利華 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 工業(yè) 圖形 計(jì)算機(jī)輔助制造 圖文 印刷 數(shù)據(jù) 分析 方法 | ||
1.一種工業(yè)圖形計(jì)算機(jī)輔助制造的圖文印刷數(shù)據(jù)的分析方法,其特征在于,分析方法步驟如下:
S1步驟:電腦首先確認(rèn)與PCB圖文印刷良率有關(guān)的層別數(shù)據(jù)皆已導(dǎo)入;分別有防焊開(kāi)窗層、訊號(hào)線路層、孔層、成型層、圖文印刷層本身;
S2步驟:分析圖文印刷層與防焊開(kāi)窗層的關(guān)系,表列出A;
S3步驟:分析圖文印刷層與訊號(hào)線路層的關(guān)系,表列出B、C;
S4步驟:分析圖文印刷層與孔層的關(guān)系,表列出D;
S5步驟:分析圖文印刷層與成型層的關(guān)系,表列出E;
S6步驟:分析圖文印刷層本身數(shù)據(jù),表列出F。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的工業(yè)圖形計(jì)算機(jī)輔助制造的圖文印刷數(shù)據(jù)的分析方法,其特征在于,所述A表示為SM Clearance與防焊開(kāi)窗過(guò)近風(fēng)險(xiǎn);所述B表示為與貼件焊盤SMD過(guò)近風(fēng)險(xiǎn);所述C表示為Pads Clearance與非貼件焊盤Pad過(guò)近風(fēng)險(xiǎn);所述D表示為HoleClearance與孔過(guò)近風(fēng)險(xiǎn);所述E表示為Rout Clearance與成型過(guò)近風(fēng)險(xiǎn);所述F表示為TextWidth印刷圖文層本身設(shè)計(jì)風(fēng)險(xiǎn)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的工業(yè)圖形計(jì)算機(jī)輔助制造的圖文印刷數(shù)據(jù)的分析方法,其特征在于,所述Pads Clearance與非貼件焊盤Pad過(guò)近風(fēng)險(xiǎn)包括:PTH Pads Clearance與鍍通孔墊盤過(guò)近;NPTH Pads Clearance與非鍍通孔墊盤過(guò)近;VIA Pads Clearance與導(dǎo)通孔墊盤過(guò)近;Non-drill Pads Clearance與非孔墊盤過(guò)近。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的工業(yè)圖形計(jì)算機(jī)輔助制造的圖文印刷數(shù)據(jù)的分析方法,其特征在于,所述Hole Clearance與孔過(guò)近風(fēng)險(xiǎn)包括:PTH clearance與鍍通孔過(guò)近;NPTHclearance與非鍍通孔過(guò)近;Via clearance與導(dǎo)通孔過(guò)近。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的工業(yè)圖形計(jì)算機(jī)輔助制造的圖文印刷數(shù)據(jù)的分析方法,其特征在于,所述Text Width印刷圖文層本身設(shè)計(jì)風(fēng)險(xiǎn)包括:Line Width直線物件尺寸;ArcWidth弧線物件尺寸;Pad Width墊盤物件尺寸;Surface Width銅面物件尺寸;SS to SSSpacing圖文到圖文邊緣間距;Shaved Line被負(fù)資料覆蓋后的直線尺寸;Shaved Arc被負(fù)資料覆蓋后的弧線尺寸;Shaved Pad被負(fù)資料覆蓋后的墊盤物件尺寸;Shaved Surface被負(fù)資料覆蓋后的銅面物件尺寸。
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