[發(fā)明專利]半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)及半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的形成方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110787179.X | 申請(qǐng)日: | 2021-07-13 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113241347B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-10-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 駱中偉;華文宇;丁瀟 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 芯盟科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L27/108 | 分類號(hào): | H01L27/108;H01L21/8242 |
| 代理公司: | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 徐文欣 |
| 地址: | 314400 浙江省嘉興市海寧市海*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 結(jié)構(gòu) 形成 方法 | ||
1.一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其特征在于,包括:
若干溝道柱,若干所述溝道柱沿第一方向和第二方向陣列分布,所述溝道柱垂直于第一方向和第二方向構(gòu)成的平面表面,不包括初始襯底(100);
若干柵極層,若干所述柵極層平行于第一方向且沿第二方向排列,所述柵極層環(huán)繞在第一方向排列的若干溝道柱側(cè)壁表面,且所述柵極層暴露出所述溝道柱相對(duì)的兩面;
分別位于溝道柱相對(duì)兩面的若干電容結(jié)構(gòu)和若干位線結(jié)構(gòu),各電容結(jié)構(gòu)與一個(gè)所述溝道柱電連接,若干所述位線結(jié)構(gòu)平行于第二方向且沿第一方向排列,各位線結(jié)構(gòu)與在第二方向排列的若干溝道柱電連接。
2.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其特征在于,還包括:第一隔離層,所述溝道柱和柵極層位于所述第一隔離層內(nèi),所述第一隔離層暴露出所述溝道柱相對(duì)的兩面。
3.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其特征在于,還包括:位于溝道柱側(cè)壁表面的柵介質(zhì)層,所述柵介質(zhì)層位于溝道柱和柵極層之間。
4.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其特征在于,還包括:分別位于溝道柱相對(duì)兩面頂部表面的第一摻雜區(qū)和第二摻雜區(qū)。
5.如權(quán)利要求4所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其特征在于,各電容結(jié)構(gòu)分別與一個(gè)第一摻雜區(qū)電連接;各位線結(jié)構(gòu)與在第二方向排列的若干溝道柱上的第二摻雜區(qū)電連接。
6.如權(quán)利要求5所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其特征在于,所述電容結(jié)構(gòu)在第一方向和第二方向構(gòu)成的平面表面的投影至少與部分所述第一摻雜區(qū)重合。
7.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其特征在于,所述溝道柱在第一方向和第二方向構(gòu)成的平面表面的投影形狀包括:圓形、橢圓形、矩形、梯形或菱形。
8.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其特征在于,所述第一方向和第二方向之間具有夾角,所述夾角范圍為:小于或等于90度。
9.如權(quán)利要求8所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其特征在于,若干所述電容結(jié)構(gòu)沿第三方向和第四方向陣列排布,所述第三方向和第四方向平行于第一方向和第二方向構(gòu)成的平面表面,所述第三方向平行于第一方向,所述第四方向平行于第二方向。
10.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其特征在于,若干所述電容結(jié)構(gòu)的排布方式與溝道柱的排布方式不相同,若干所述電容結(jié)構(gòu)沿第三方向和第四方向陣列排布,所述第三方向和第四方向平行于第一方向和第二方向構(gòu)成的平面,所述第三方向和第四方向之間的夾角為60度。
11.一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的形成方法,其特征在于,包括:
提供初始襯底,所述初始襯底包括相對(duì)的第一面和第二面;
刻蝕所述初始襯底形成若干溝道柱,所述溝道柱垂直于初始襯底表面,若干所述溝道柱沿第一方向和第二方向陣列分布,所述第一方向平行于初始襯底表面,所述第二方向平行于初始襯底表面,所述溝道柱頂部表面為所述第一面;
在初始襯底上形成若干柵極層,若干所述柵極層平行于第一方向且沿第二方向排列,所述柵極層環(huán)繞在第一方向排列的若干溝道柱側(cè)壁表面,且所述柵極層暴露出所述溝道柱頂部表面;
在初始襯底第一面形成若干電容結(jié)構(gòu),各電容結(jié)構(gòu)與一個(gè)所述溝道柱電連接,并對(duì)所述初始襯底第二面進(jìn)行減薄處理直至暴露出所述溝道柱底部表面,在溝道柱底部表面形成若干位線結(jié)構(gòu),若干所述位線結(jié)構(gòu)平行于第二方向且沿第一方向排列,各位線結(jié)構(gòu)與在第二方向排列的若干溝道柱電連接,若干所述電容結(jié)構(gòu)和若干所述位線結(jié)構(gòu)分別位于溝道柱相對(duì)的兩面;
或者,在初始襯底第一面形成若干位線結(jié)構(gòu),若干所述位線結(jié)構(gòu)平行于第二方向且沿第一方向排列,各位線結(jié)構(gòu)與在第二方向排列的若干溝道柱電連接,并且刻蝕所述初始襯底,形成若干電容結(jié)構(gòu),各電容結(jié)構(gòu)與一個(gè)所述溝道柱電連接,若干所述位線結(jié)構(gòu)和若干所述電容結(jié)構(gòu)分別位于溝道柱相對(duì)的兩面。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于芯盟科技有限公司,未經(jīng)芯盟科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110787179.X/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無(wú)源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無(wú)源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過(guò)這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的
- 卡片結(jié)構(gòu)、插座結(jié)構(gòu)及其組合結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)平臺(tái)結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)支撐結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)支撐結(jié)構(gòu)
- 單元結(jié)構(gòu)、結(jié)構(gòu)部件和夾層結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)扶梯結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)隔墻結(jié)構(gòu)
- 鋼結(jié)構(gòu)連接結(jié)構(gòu)
- 螺紋結(jié)構(gòu)、螺孔結(jié)構(gòu)、機(jī)械結(jié)構(gòu)和光學(xué)結(jié)構(gòu)
- 螺紋結(jié)構(gòu)、螺孔結(jié)構(gòu)、機(jī)械結(jié)構(gòu)和光學(xué)結(jié)構(gòu)
- 一種數(shù)據(jù)庫(kù)讀寫分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測(cè)試終端的測(cè)試方法
- 一種服裝用人體測(cè)量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測(cè)程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





