[發(fā)明專利]一種半導(dǎo)體器件的制備方法及半導(dǎo)體器件在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110785513.8 | 申請日: | 2021-07-12 |
| 公開(公告)號: | CN113506770A | 公開(公告)日: | 2021-10-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王素麗 | 申請(專利權(quán))人: | 長鑫存儲技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/768 | 分類號: | H01L21/768;H01L23/48;H01L23/528;H01L23/532 |
| 代理公司: | 北京中政聯(lián)科專利代理事務(wù)所(普通合伙) 11489 | 代理人: | 鄭久興 |
| 地址: | 230000 安徽省合肥市*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 半導(dǎo)體器件 制備 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種半導(dǎo)體器件的制備方法及半導(dǎo)體器件,其制備方法包括:在襯底表面形成隔絕層;在隔絕層形成凹槽,凹槽貫穿隔絕層;在凹槽內(nèi)和隔絕層上形成保護層;在保護層上形成介質(zhì)層;形成接觸孔,接觸孔分別貫穿保護層和介質(zhì)層至襯底表面。本發(fā)明的半導(dǎo)體器件的制備方法不僅可用于化學(xué)氣相沉積也可用于物理氣相沉積中金屬導(dǎo)線短路的工藝中。本發(fā)明的制備方法簡單、易操作,還可以避免金屬前介電層結(jié)構(gòu)中的隔絕層與形成的磷酸接觸,保護金屬前介電層結(jié)構(gòu)的完整性,從而防止隔絕層易被腐蝕導(dǎo)致半導(dǎo)體器件短路。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種半導(dǎo)體器件的制備方法及半導(dǎo)體器件。
背景技術(shù)
在半導(dǎo)體器件生產(chǎn)過程中,目前廣泛應(yīng)用四乙基硅酸鹽(TEOS)摻雜硼磷,通過CVD(化學(xué)氣相沉積)方法形成硼磷硅玻璃(BPSG)作為金屬前介電層(PMD),BPSG(硼磷硅玻璃)在高溫回流后具有良好的臺階覆蓋的能力,有益于后續(xù)金屬層的平坦化。BPSG(硼磷硅玻璃)吸收水汽的能力很強,在一定的磷濃度下,磷容易從BPSG(硼磷硅玻璃)薄膜中析出,以五氧化二磷的形式存在,遇到環(huán)境中的水汽,易結(jié)合形成磷酸,特別在有化學(xué)清洗劑的工序或者薄膜長時間暴露空氣中,析出的磷與水結(jié)合形成磷酸的幾率更大。即便是采用其他材料作為金屬介電層,也會形成其他種類的酸性物質(zhì),酸會腐蝕隔絕層,造成PMD結(jié)構(gòu)缺失,金屬填充導(dǎo)致器件短路失效。
發(fā)明內(nèi)容
為解決上述問題,本發(fā)明的第一方面提供了一種半導(dǎo)體器件的制備方法,包括:在襯底表面形成隔絕層;在所述隔絕層形成凹槽,所述凹槽貫穿所述隔絕層,且所述凹槽靠近所述襯底一側(cè)的截面積到遠離所述襯底一側(cè)的截面積逐漸增大;在所述凹槽內(nèi)和所述隔絕層上形成保護層;在所述保護層上形成介質(zhì)層;形成接觸孔,所述接觸孔分別貫穿所述保護層和所述介質(zhì)層至所述襯底表面。
進一步地,在所述接觸孔內(nèi)形成導(dǎo)電栓塞;在所述導(dǎo)電栓塞上和所述介質(zhì)層上形成金屬導(dǎo)電層,制得半導(dǎo)體器件。
進一步地,所述隔絕層的厚度為20-50nm。
進一步地,所述保護層的厚度大于200nm。
進一步地,所述在所述凹槽內(nèi)和所述隔絕層上形成保護層之后,還包括:高溫回流。
進一步地,所述形成接觸孔之后,還包括:超聲波清洗。
進一步地,所述超聲波清洗包括:使用體積比例為2-8:1的硫酸和雙氧水混合液去除殘留光刻膠有機物;使用體積比例為1:1:3-8的氫氧化銨、雙氧水和純水的混合液去除雜質(zhì)微粒和部分聚合物。
進一步地,所述在所述保護層上形成介質(zhì)層之后,還包括:使用化學(xué)機械拋光技術(shù)對所述介質(zhì)層的表面進行打磨。
進一步地,所述在所述導(dǎo)電栓塞上和所述介質(zhì)層上形成金屬導(dǎo)電層包括:在所述導(dǎo)電栓塞上和所述介質(zhì)層上利用物理氣相沉積法濺鍍鋁金屬層。
進一步地,所述在所述接觸孔內(nèi)形成導(dǎo)電栓塞包括:使用物理氣相淀積法淀積金屬鎢薄膜,直至各所述接觸孔完全填滿金屬鎢。
根據(jù)本發(fā)明的另一個方面,提供一種半導(dǎo)體器件,通過采用上述方案任一項所述的制備方法所制備。
根據(jù)本發(fā)明的又一個方面,提供一種半導(dǎo)體器件,包括:襯底;在所述襯底表面依次層疊設(shè)置的介質(zhì)層、保護層和隔絕層,所述隔絕層直接覆蓋在所述襯底表面;接觸孔,其貫穿所述介質(zhì)層、所述保護層和隔絕層層,所述隔絕層與所述接觸孔的連接處被所述保護層覆蓋。
進一步地,還包括:導(dǎo)電栓塞,其填充滿所述接觸孔。
進一步地,還包括:金屬導(dǎo)電層,其設(shè)在所述介質(zhì)層遠離所述襯底的表面上,且覆蓋所述導(dǎo)電栓塞和所述介質(zhì)層。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





