[發明專利]偏振光探測器及其制備方法在審
| 申請號: | 202110779857.8 | 申請日: | 2021-07-09 |
| 公開(公告)號: | CN113488552A | 公開(公告)日: | 2021-10-08 |
| 發明(設計)人: | 于雅俐;魏鐘鳴;楊玨晗;劉岳陽;宗易昕;文宏玉 | 申請(專利權)人: | 中國科學院半導體研究所 |
| 主分類號: | H01L31/0352 | 分類號: | H01L31/0352;B82Y40/00;H01L31/032;H01L31/09;H01L31/18 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 吳夢圓 |
| 地址: | 100083 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 偏振光 探測器 及其 制備 方法 | ||
本發明提供了一種偏振光探測器及其制備方法,其中,該偏振光探測器包括:襯底;源電極和漏電極,設置于襯底上;一維硒硫化銻(Sb2(SxSe1?x)3)合金納米線,作為偏振光探測器的有源層,設置于襯底上的源電極和漏電極之間,其中,硒硫化銻(Sb2(SxSe1?x)3)合金納米線中組分比例可調節,x介于0~1之間。
技術領域
本發明屬于新興偏振光學器件技術領域,尤其涉及一種偏振光探測器及其制備方法。
背景技術
偏振敏感的光電探測器已廣泛應用于大氣遙感、目標探測、天文、生物醫學診斷等諸多領域。傳統的偏振光探測器由透鏡和檢測系統構成,具有體積大、工作距離長等限制。與傳統偏振光電探測器相比,近年來基于具有良好面內各向異性的二維(2D)材料的偏振敏感的光電探測器,由于其具有體積小、功耗低和性能好等優勢,因此引起了廣泛的研究。以Sb2Se3和Sb2S3為典型代表的V-VI族二元硫族化合物M2X3,因其優異的性能而引起了廣泛的關注。
Sb2Se3作為一種被廣泛研究的材料,其具有較高的光吸收系數,因此被廣泛應用于太陽能電池領域。而在光電探測器領域,由Sb2Se3制作形成的光電探測器的響應度可達5A/W,但響應速度較慢,響應時間在“ms”級;由Sb2S3制作形成的光電探測器的響應時間較短,但響應度較低。
發明內容
(一)要解決的技術問題
針對當前基于V-VI族二元硫族化合物M2X3(Sb2Se3和Sb2S3)制備形成的偏振敏感的光電探測器的性能發展受到了限制,本發明提供了一種偏振光探測器及其制備方法,實現對偏振敏感的光電探測器的性能進行人為調控。
(二)技術方案
為了實現上述的技術目的,本發明提供了一種偏振光探測器及其制備方法,其中,該偏振光探測器包括:襯底;源電極和漏電極,設置于襯底上;一維硒硫化銻(Sb2(SxSe1-x)3)合金納米線作為偏振光探測器的有源層,設置于襯底上的源電極和漏電極之間,其中,硒硫化銻(Sb2(SxSe1-x)3)合金納米線中組分比例可調節,x介于0~1之間。
根據本發明的實施例,其中,襯底包括硅層和設置在硅層上的二氧化硅層;硅層厚度為350~450μm;二氧化硅層厚度為250~350nm;硅層和二氧化硅層的晶向均為100。
根據本發明的實施例,其中,源電極和漏電極的材料均包括以下之一:金、鈦金或鉻金。
根據本發明的實施例,其中,源電極和漏電極的厚度均為30~50nm;一維硒硫化銻(Sb2(SxSe1-x)3)合金納米線的厚度為100~300nm。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





