[發明專利]一種DFT測試裝置、測試系統及DFT測試方法

有效

• 申請號: 202110775080.8
• 申請日: 2021-07-09
• 公開（公告）號: CN113238143B
• 公開（公告）日: 2021-11-12
• 發明（設計）人: 李仲勛
• 申請（專利權）人: 成都愛旗科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京知迪知識產權代理有限公司 11628
• 代理人: 王勝利

1.一種DFT測試裝置，其特征在于，用于對芯片的待測邏輯單元進行測試，包括：掃描寄存模塊、數據選擇模塊以及時鐘門控單元，其中：

所述掃描寄存模塊的掃描輸入端與掃描輸入信號端電連接，所述掃描寄存模塊的掃描使能端與掃描使能信號端電連接，所述掃描寄存模塊的輸出端與所述數據選擇模塊的第一輸入端電連接；

所述數據選擇模塊的選擇端，和所述數據選擇模塊的第二輸入端均與所述掃描使能信號端電連接，所述數據選擇模塊的輸出端與所述時鐘門控單元的測試使能端電連接；

所述時鐘門控單元的使能端與功能邏輯信號端電連接；

在移位階段，所述掃描使能信號端向所述掃描寄存模塊和所述數據選擇模塊提供第一信號，所述數據選擇模塊輸出第一控制信號，在所述第一控制信號的控制下，所述時鐘門控單元打開；

在捕獲階段，所述掃描使能信號端向所述掃描寄存模塊和所述數據選擇模塊提供第二信號，所述數據選擇模塊輸出第二控制信號，所述功能邏輯信號端向所述時鐘門控單元提供功能邏輯信號，在所述第二控制信號和所述功能邏輯信號的控制下，所述時鐘門控單元打開或關閉。

2.根據權利要求1所述的DFT測試裝置，其特征在于，所述掃描寄存模塊為第一掃描寄存器，所述第一掃描寄存器的輸出端與所述第一掃描寄存器的數據輸入端電連接。

3.根據權利要求1所述的DFT測試裝置，其特征在于，所述掃描寄存模塊包括第一數據選擇器和D觸發器，其中：所述第一數據選擇器的第一輸入端與所述D觸發器的輸出端電連接，所述第一數據選擇器的第二輸入端與所述掃描輸入信號端電連接，所述第一數據選擇器的選擇端與所述掃描使能信號端電連接，所述第一數據選擇器的輸出端與所述D觸發器的數據輸入端電連接；所述D觸發器的時鐘輸入端與時鐘信號端電連接；

所述第一數據選擇器用于在所述掃描使能信號端提供的所述掃描使能信號的作用下，將所述D觸發器的輸出信號或所述掃描輸入信號傳輸至所述D觸發器的輸入端。

4.根據權利要求1所述的DFT測試裝置，其特征在于，所述掃描寄存模塊的輸出端還與掃描鏈電連接，所述掃描鏈包括串聯的至少一個第二掃描寄存器。

5.根據權利要求1所述的DFT測試裝置，其特征在于，所述數據選擇模塊為第二數據選擇器。

6.根據權利要求1所述的DFT測試裝置，其特征在于，所述時鐘門控單元為時鐘門控器。

7.根據權利要求6所述的DFT測試裝置，其特征在于，在所述捕獲階段：

當所述第二控制信號或所述功能邏輯信號為所述第一信號時，所述時鐘門控器開啟；當所述第二控制信號和所述功能邏輯信號均為所述第二信號時，所述時鐘門控器關閉。

8.一種測試系統，其特征在于，包括權利要求1-7任一項所述DFT測試裝置。

9.一種DFT測試方法，其特征在于，應用于權利要求1-7任一項所述DFT測試裝置，所述DFT測試方法包括：

在所述移位階段，控制所述掃描使能信號端向所述掃描寄存模塊和所述數據選擇模塊提供所述第一信號，控制所述數據選擇模塊輸出所述第一控制信號，在所述第一控制信號的控制下，所述時鐘門控單元打開；

在所述捕獲階段，控制所述掃描使能信號端向所述掃描寄存模塊和所述數據選擇模塊提供所述第二信號，控制所述數據選擇模塊輸出所述第二控制信號，所述功能邏輯信號端向所述時鐘門控單元提供功能邏輯信號，在所述第二控制信號和所述功能邏輯信號的控制下，所述時鐘門控單元打開或關閉。