[發明專利]測試電路、顯示面板及其測試方法

有效

• 申請號: 202110771432.2
• 申請日: 2021-07-08
• 公開（公告）號: CN113553225B
• 公開（公告）日: 2022-08-05
• 發明（設計）人: 李飛
• 申請（專利權）人: 武漢華星光電半導體顯示技術有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G06F11/273;G06F3/041;G06F3/044
• 代理公司: 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570
• 代理人: 蔡艾瑩

1.一種測試電路，其特征在于，所述測試電路包括至少一個子測試電路；

每一個所述子測試電路包括分別用于輸入和輸出測試信號的測試信號輸入端和測試信號輸出端，分別用于輸入和輸出一個測試信號；每一所述子測試電路包括多個測試晶體管，相鄰設置的兩個所述測試晶體管中的其中一個所述測試晶體管的輸入端與另一個所述測試晶體管的輸出端連接，多個所述測試晶體管的控制端分別對應連接不同的觸控走線，每一所述觸控走線施加使得對應的所述測試晶體管導通的控制信號，所述測試電路用于根據所述測試信號在所述測試信號輸入端的輸入波形和所述測試信號在所述測試信號輸出端的輸出波形來檢查顯示面板的多條所述觸控走線。

2.根據權利要求1所述的測試電路，其特征在于，每一所述子測試電路還包括多個上拉單元，多個所述上拉單元分別對應連接不同的所述測試晶體管；

其中，每一所述上拉單元包括上拉輸入端、上拉輸出端和設于所述上拉輸入端和所述上拉輸出端的上拉電阻，所述上拉輸入端接入第一電源電壓，所述上拉輸出端連接對應的所述觸控走線和所述測試晶體管的所述控制端。

3.根據權利要求2所述的測試電路，其特征在于，每一所述子測試電路還包括至少一個放大單元，每一所述放大單元與一個所述測試晶體管的輸入端或輸出端連接。

4.根據權利要求3所述的測試電路，其特征在于，所述放大單元包括放大信號輸入端、放大信號輸出端、第一放大晶體管和第二放大晶體管，所述第一放大晶體管為N型晶體管，所述第二放大晶體管為P型晶體管；

所述放大信號輸入端連接所述第一放大晶體管的控制端、所述第二放大晶體管的控制端，所述放大信號輸出端連接所述第一放大晶體管的第一端和所述第二放大晶體管的第一端，所述第一放大晶體管的第二端接入所述第一電源電壓，所述第二放大晶體管的第二端接入第二電源電壓。

5.根據權利要求1所述的測試電路，其特征在于，至少一所述子測試電路包括第一子測試電路和第二子測試電路，所述第一子測試電路用于輸入和輸出第一測試信號，所述第二子測試電路用于輸入和輸出第二測試信號；

多條所述觸控走線包括多條奇數列觸控走線和多條偶數列觸控走線，所述第一子測試電路的所述測試晶體管的所述控制端分別對應連接一條所述奇數列觸控走線，所述第二子測試電路的所述測試晶體管的所述控制端分別對應連接一條所述偶數列觸控走線。

6.一種顯示面板，其特征在于，包括權利要求1～5任一項所述的測試電路，所述顯示面板包括顯示區和圍繞所述顯示區的非顯示區，所述測試電路位于所述非顯示區。

7.根據權利要求6所述的顯示面板，其特征在于，所述顯示面板還包括至少一條控制走線和多個控制晶體管，在同一個所述子測試電路中，每一條所述觸控走線通過對應的所述控制晶體管連接于同一所述控制走線，多個所述控制晶體管的控制端連接同一使能信號。

8.根據權利要求6所述的顯示面板，其特征在于，所述顯示面板還包括集成電路芯片，所述非顯示區包括設于所述顯示區相對兩側的第一非顯示區和第二非顯示區，所述集成電路芯片設于所述第一非顯示區，所述測試電路設于所述第二非顯示區。

9.根據權利要求6所述的顯示面板，其特征在于，所述顯示面板還包括多個觸控電極，多個所述觸控電極與多條所述觸控走線一一對應連接。

10.一種如權利要求6～9任一項所述的顯示面板的測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

向每一觸控走線提供可使與所述觸控走線對應連接的子測試電路的測試晶體管導通的觸控信號；

向每一所述子測試電路的測試電路輸入端輸入測試信號，從與所述測試電路輸入端對應的測試電路輸出端獲取所述測試電路的輸出波形；以及

判斷所述測試信號的輸入波形與所述測試信號的所述輸出波形是否一致，當所述測試信號的輸入波形和所述測試信號的輸出波形一致時，確定所述顯示面板正常，反之，則異常。