[發明專利]測試電路、顯示面板及其測試方法

有效

• 申請號: 202110771432.2
• 申請日: 2021-07-08
• 公開（公告）號: CN113553225B
• 公開（公告）日: 2022-08-05
• 發明（設計）人: 李飛
• 申請（專利權）人: 武漢華星光電半導體顯示技術有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G06F11/273;G06F3/041;G06F3/044
• 代理公司: 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570
• 代理人: 蔡艾瑩

本發明公開了一種測試電路、顯示面板及其測試方法，測試電路用于檢查顯示面板的多條觸控走線，測試電路包括至少一個子測試電路，每一個子測試電路用于輸入并輸出一個測試信號；每一子測試電路包括多個彼此串聯連接的測試晶體管，多個測試晶體管的控制端分別對應連接不同的觸控走線，每一觸控走線施加使得對應的測試晶體管導通的控制信號，當測試信號的輸入波形與測試信號的輸出波形一致時，確定顯示面板的多條觸控走線正常；反之，則異常。本發明在綁定集成電路芯片之前，通過測試電路對顯示面板的觸控走線進行檢查，避免造成產品報廢，有利于降低成本。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，尤其涉及一種測試電路、顯示面板及其測試方法。

背景技術

隨著多媒體信息查詢設備和移動設備的與日俱增，觸摸屏的應用范圍越來越廣泛，現有的內嵌(In cell)式觸摸屏主要分為互電容式觸摸屏和自電容式觸摸屏。自電容式觸摸屏通常為三層結構，觸控走線通常位于底層，中間為絕緣層，上層為有金屬網格組成的TRX電極，被隔斷的TRX電極透過中間絕緣層的過孔，與下方的觸控走線連接在一起，從而保持連續導通。

當有觸控走線在制程中出現問題，會導致與之連接的觸控電極失去功能，導致整個顯示裝置報廢，而在沒有綁定驅動芯片之前，由于觸控通道太多及觸控面板空間限制，無法對每個通道進行電性測試。

綜上，亟需提供一種新的測試電路、顯示面板及其測試方法，來解決上述技術問題。

發明內容

本發明實施例提供一種測試電路、顯示面板及其測試方法，以解決現有的顯示面板在綁定集成電路芯片之前，無法對觸控走線進行電性測試的技術問題。

為解決上述問題，本發明提供的技術方案如下：

本發明提供一種測試電路，所述測試電路包括至少一個子測試電路，用于檢查顯示面板的多條觸控走線；

每一個所述子測試電路包括分別用于輸入和輸出測試信號的測試信號輸入端和測試信號輸出端，每一所述子測試電路包括多個彼此串聯連接的測試晶體管，多個所述測試晶體管的控制端分別對應連接不同的所述觸控走線，每一所述觸控走線施加使得對應的所述測試晶體管導通的控制信號。

根據本發明提供的測試電路，每一所述子測試電路還包括多個上拉單元，多個所述上拉單元分別對應連接不同的所述測試晶體管；

其中，每一所述上拉單元包括上拉輸入端、上拉輸出端和設于所述上拉輸入端和所述上拉輸出端的上拉電阻，所述上拉輸入端接入第一電源電壓，所述上拉輸出端連接對應的所述觸控走線和所述測試晶體管的所述控制端。

根據本發明提供的測試電路，每一所述子測試電路還包括至少一個放大單元，每一所述放大單元與一個所述測試晶體管的輸入端或輸出端連接。

根據本發明提供的測試電路，所述放大單元包括放大信號輸入端、放大信號輸出端、第一放大晶體管和第二放大晶體管，所述第一放大晶體管為N型晶體管，所述第二放大晶體管為P型晶體管；

所述放大信號輸入端連接所述第一放大晶體管的控制端、所述第二放大晶體管的控制端，所述放大信號輸出端連接所述第一放大晶體管的第一端和所述第二放大晶體管的第一端，所述第一放大晶體管的第二端接入所述第一電源電壓，所述第二放大晶體管的第二端接入第二電源電壓。

根據本發明提供的測試電路，至少一所述子測試電路包括第一子測試電路和第二子測試電路，所述第一子測試電路用于輸入和輸出第一測試信號，所述第二子測試電路用于輸入和輸出第二測試信號；

多條所述觸控走線包括多條奇數列觸控走線和多條偶數列觸控走線，所述第一子測試電路的所述測試晶體管的所述控制端分別對應連接一條所述奇數列觸控走線，所述第二子測試電路的所述測試晶體管的所述控制端分別對應連接一條所述偶數列觸控走線。