[發明專利]試紙帶精準定位的判定方法、裝置、存儲介質及終端

在審

• 申請號: 202110770945.1
• 申請日: 2021-07-07
• 公開（公告）號: CN113689378A
• 公開（公告）日: 2021-11-23
• 發明（設計）人: 王飛;鄭悅聞;李青;李鵬飛
• 申請（專利權）人: 杭州未名信科科技有限公司;浙江省北大信息技術高等研究院
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/66;G06T3/40;G06T5/00
• 代理公司: 北京辰權知識產權代理有限公司 11619
• 代理人: 李小朋

本發明公開了一種試紙帶精準定位的判定方法，包括：生成包含比色板的圖像后進行預處理得到二值化圖像，提取二值化圖像中包含的多個輪廓與各輪廓的嵌套層次關系信息；根據多個輪廓與各輪廓的嵌套層次關系信息生成多組第一嵌套輪廓；根據預設面積比例從多組第一嵌套輪廓中確定出多組第二嵌套輪廓；當第二嵌套輪廓的數量符合預設輪廓數量時，計算每組第二嵌套輪廓的質心后生成多個質心；根據多個質心篩選得到固定位置標識點，并根據多個固定位置標識點的位置對包含比色板的圖像進行透視變換后生成透視變換后的圖像；根據透視變換后的圖像判定試紙帶是否精準定位。因此，本申請解決了以往由定位點特征不足帶來的定位不準，降低了無定位校驗所致的低準確度風險。

技術領域

本發明涉及圖像處理技術領域，特別涉及一種試紙帶精準定位的判定方法、裝置、存儲介質及終端。

背景技術

試紙帶的定位與檢測是試紙帶自動化檢測的基礎，目前常見的試紙帶定位方式需要使用者以特定的角度進行拍攝，再經過圖像處理技術提取試紙帶的邊緣和試紙帶上少量的特征點進行定位，這種方式特征點不足，定位能力弱，容易出現錯檢和漏檢的情況。

而基于特征點的定位方式中，二維碼識別的定位方案是最常用的，通常需要對整個圖像的像素進行遍歷，計算垂直方向和水平方向的黑白線段長度的比例。若圖像有一些透視變換，就會導致比例不正確；或者當圖像模糊時，逐像素點的方式就會導致難以定位。

同時，圖像定位通常基于二值化后的圖像，二值化的優劣將直接影響定位的結果。常見定位使用的二值化為全局均值二值化，需要在光照均勻的環境下進行照片的拍攝，全局的均值二值化根據整個圖像的均值來進行二值化。當光線較暗、對比度低時會導致二值化的結果不夠準確。

除了二值化以外，定位的準確度還會受到環境中其他相似定位點的干擾，干擾點的存在會使得試紙帶的定位不準確，并且會耗費較多的時間去進行定位，使得圖像難以進行實時的定位。且大多數的定位技術在進行定位之后并沒有對定位的結果進行檢驗，無法確保定位結果的準確度。

發明內容

本申請實施例提供了一種試紙帶精準定位的判定方法、裝置、存儲介質及終端。為了對披露的實施例的一些方面有一個基本的理解，下面給出了簡單的概括。該概括部分不是泛泛評述，也不是要確定關鍵/重要組成元素或描繪這些實施例的保護范圍。其唯一目的是用簡單的形式呈現一些概念，以此作為后面的詳細說明的序言。

第一方面，本申請實施例提供了一種試紙帶精準定位的判定方法，方法包括：

針對預置在比色板的預設卡槽內的待測試紙帶進行任意角度的拍攝，生成包含比色板的圖像；

預處理包含比色板的圖像后生成二值化圖像，并采用輪廓檢測技術提取二值化圖像中所包含的多個輪廓與每個輪廓的嵌套層次關系信息；

根據多個輪廓與每個輪廓的嵌套層次關系信息生成多組第一嵌套輪廓；

根據預設面積比例從多組第一嵌套輪廓中確定出多組第二嵌套輪廓；

當多組第二嵌套輪廓的數量符合預設輪廓數量時，計算多組第二嵌套輪廓中每組第二嵌套輪廓的質心后生成多個質心；

根據多個質心篩選得到多個固定位置標識點，并根據多個固定位置標識點的位置對包含比色板的圖像進行透視變換后生成透視變換后的圖像；

根據透視變換后的圖像判定試紙帶是否精準定位。

可選的，預處理包含比色板的圖像后生成二值化圖像，包括：

縮放包含比色板的圖像，生成縮放后的圖像；

灰度化縮放圖像，生成灰度化圖像；

將灰度化圖像進行均值平滑濾波，生成降噪圖像；

將降噪圖像進行滑動窗口二值化，生成二值化圖像。