[發明專利]一種電極模型坐標系點的自動解析方法、系統及裝置

在審

• 申請號: 202110763978.3
• 申請日: 2021-07-06
• 公開（公告）號: CN113342354A
• 公開（公告）日: 2021-09-03
• 發明（設計）人: 王金再
• 申請（專利權）人: 西安米索軟件有限公司
• 主分類號: G06F8/41
• 分類號: G06F8/41
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明涉及一種電極模型坐標系點的自動解析方法、系統及裝置，所述檢測方法包括：確定電極的模型文件中的底座圖形；對所述底座圖形內部的基準要素進行解析，得到解析后的多個平面點；根據所述平面點的坐標和所述底座圖形確定坐標系幾何要素點的坐標；所述坐標系幾何要素點包括所述坐標系幾何要素點包括上頂面幾何要素點和側面幾何要素點。本發明按電極加工和使用工藝要求結合CAD模型對電極底座的坐標系點進行解析，并根據解析后的平面點確定出坐標系幾何要素點的坐標，從而實現了電極的加工過程的自動解析過程。

技術領域

本發明涉及數據解析技術領域，特別是涉及一種電極模型坐標系點的自動解析方法、系統及裝置。

背景技術

在模具制造過程中，一個精密模具的生產需要用上百個電極進行加工；電極產品的加工原材料是一整塊立方體的銅或者石墨，先將整個立方體的長和寬的尺寸加工成預設加工電極基臺的長和寬的尺寸，高度是電極加工尺寸和基臺高度，然后裝置在CNC車床上按電極CAD圖紙加工出電極使用輪廓。

由于批量大，所有對于電極的加工和使用都有嚴格的工藝要求，尤其是電極底座，它必須是正六面體并且有一個切角(標識底座基臺的正面)：加工時它是電極加工的裝置方式，并以其中心為加工的中心位置進行輪廓的加工；在使用時又以其中心為對位中心位置進行裝置和使用。所以實際電極產品的底座基臺上坐標系點的檢驗是非常重要的。現有技術中并沒有對底座基臺上坐標系點進行自動解析和檢驗的方法。基于此，研發一種成熟的對底座基臺上坐標系點進行自動解析的技術成為了亟待解決的問題。

發明內容

本發明的目的是提供一種電極模型坐標系點的自動解析方法、系統及裝置，能夠對底座基臺上坐標系點進行自動解析。

為實現上述目的，本發明提供了如下方案：

一種電極模型坐標系點的自動解析方法，包括：

確定電極的模型文件中的底座圖形；

對所述底座圖形內部的基準要素進行解析，得到解析后的多個平面點；

根據所述平面點的坐標和所述底座圖形確定坐標系幾何要素點的坐標；所述坐標系幾何要素點包括所述坐標系幾何要素點包括上頂面幾何要素點和側面幾何要素點。

優選地，所述確定電極的模型文件中的底座圖形，包括：

根據所述電極的模型文件得到CAD圖形；

確定所述CAD圖形的最小外接立方體圖形；所述最小外接立方體圖形由6個包圍平面圖形組成；

對所述CAD圖形幾何信息進行遍歷，確定所述CAD圖形中的所有的第一平面圖形；

獲取所述第一平面圖形的平面法矢量；

確定所述平面法矢量與各個所述包圍平面圖形的法矢量同向的具有面積極值的平面，得到平面集合；

確定所述平面集合中的平面面積與和該平面的方向一致的包圍平面圖形的面積最接近的第二平面圖形；所述第二平面圖形為所述底座圖形的下底面圖形；

根據所述下底面圖形確定所述底座圖形的5個側面圖形；

根據任意一個所述側面圖形確定所述底座圖形的上頂面圖形。

優選地，所述確定電極的模型文件中的底座圖形之后還包括：

存儲所述底座圖形；

判斷根據所述底座圖形的圖形個數與所述模型文件中的底座的實際圖形個數是否相同，若不相同，則結束檢測過程。

優選地，所述根據所述平面點的坐標和所述底座圖形確定坐標系幾何要素點的坐標，包括：