[發明專利]一種探針壽命預測方法、系統、裝置和存儲介質

有效

• 申請號: 202110763723.7
• 申請日: 2021-07-06
• 公開（公告）號: CN113408221B
• 公開（公告）日: 2022-04-15
• 發明（設計）人: 費保興;劉達;沈峰
• 申請（專利權）人: 太倉比泰科自動化設備有限公司
• 主分類號: G06F30/30
• 分類號: G06F30/30;G06K9/62;G06Q10/04;G06F115/12;G06F119/02;G06F119/08
• 代理公司: 成都七星天知識產權代理有限公司 51253
• 代理人: 袁春曉

本說明書實施例提供一種探針壽命預測方法、系統、裝置和存儲介質，所述壽命預測方法包括：將基于待預測探針對受測對象的性能進行測試的數據與基于參照探針對相同受測對象的性能進行測試的數據進行比較，從待預測探針的各項性能指標中確定出與壽命相關的性能指標(記作相關性能指標)，獲取相關性能指標對應的性能測試數據，基于相關性能指標對應的性能測試數據，預測待預測探針的壽命。

技術領域

本說明書涉及電子元件測試領域，特別涉及一種探針壽命預測方法、系統、裝置和存儲介質。

背景技術

在電子電路的研發和生產過程中，經常需要利用探針對各種電路板和/或芯片中的信號傳遞以及信號質量(例如，電流/電壓/電平量)進行高精密測試。具體地，將探針的針頭與待測物(例如，電路板和/或芯片)相抵接，探針的針尾與測試分析系統電性連接，以將從待測物中接取出的電信號盡可能無損地傳導至測試分析系統中，供測試分析系統根據接收到的電信號對待測物的性能進行分析。即，探針其實是一種高精密電子元件。

但是，在經過一段時間的測試使用后，探針的壽命逐漸衰弱，例如探針的針頭磨損嚴重，與待測物接觸不良，導致不能穩定地從待測物中接取電信號，影響待測物的性能測試的準確性，此時需要更換探針。因此，如何準確預測探針的壽命，以為提前更換探針提供參考是目前亟待解決的問題。

發明內容

本說明書實施例之一提供一種探針壽命預測方法。所述探針壽命預測方法包括：獲取多個受測對象的實驗組數據和參照組數據，所述實驗組數據是基于待預測探針對所述多個受測對象的性能進行測試得到的數據，所述參照組數據是基于參照探針對所述多個受測對象的性能進行測試得到的數據；基于所述實驗組數據和所述參照組數據，確定所述待預測探針的至少一個相關性能指標，所述至少一個相關性能指標與所述待預測探針的壽命相關；獲取所述至少一個相關性能指標的性能測試數據；基于所述性能測試數據，預測所述待預測探針的壽命。

本說明書實施例之一提供一種探針壽命預測系統。所述探針壽命預測系統，包括：第一獲取模塊，用于獲取多個受測對象的實驗組數據和參照組數據，所述實驗組數據是基于待預測探針對所述多個受測對象的性能進行測試得到的數據，所述參照組數據是基于參照探針對所述多個受測對象的性能進行測試得到的數據；相關性確定模塊，基于所述實驗組數據和所述參照組數據，確定所述待預測探針的至少一個相關性能指標，所述至少一個相關性能指標與所述待預測探針的壽命相關；第二獲取模塊，用于獲取所述至少一個相關性能指標的性能測試數據；壽命預測模塊，用于基于所述至少一個相關性能指標的性能測試數據，預測所述待預測探針的壽命。

本說明書實施例之一提供一種探針壽命預測裝置，包括處理器，所述處理器用于執行探針壽命預測方法。

本說明書實施例之一提供一種計算機可讀存儲介質，所述存儲介質存儲計算機指令，當計算機讀取存儲介質中的計算機指令后，計算機執行探針壽命預測方法。

附圖說明

本說明書將以示例性實施例的方式進一步說明，這些示例性實施例將通過附圖進行詳細描述。這些實施例并非限制性的，在這些實施例中，相同的編號表示相同的結構，其中：

圖1a是根據本說明書一些實施例所示的探針壽命預測方法的示例性流程圖；

圖1b是根據本說明書一些實施例所示的探針壽命預測方法中數據的流轉示意圖；

圖2是根據本說明書一些實施例所示的探針壽命預測方法中步驟S120的示例性流程圖；

圖3是根據本說明書一些實施例所示的探針壽命預測方法中步驟S140的示例性流程圖；

圖4是根據本說明書一些實施例所示的探針壽命預測方法中相關性預測模型以及壽命預測模型的示例性結構圖；

圖5是根據本說明書一些實施例所示的探針壽命預測系統的示例性結構圖。

具體實施方式