[發明專利]一種探針壽命預測方法、系統、裝置和存儲介質

有效

• 申請號: 202110763723.7
• 申請日: 2021-07-06
• 公開（公告）號: CN113408221B
• 公開（公告）日: 2022-04-15
• 發明（設計）人: 費保興;劉達;沈峰
• 申請（專利權）人: 太倉比泰科自動化設備有限公司
• 主分類號: G06F30/30
• 分類號: G06F30/30;G06K9/62;G06Q10/04;G06F115/12;G06F119/02;G06F119/08
• 代理公司: 成都七星天知識產權代理有限公司 51253
• 代理人: 袁春曉

1.一種探針壽命預測方法，包括：

獲取多個受測對象的實驗組數據和參照組數據，所述實驗組數據是基于待預測探針對所述多個受測對象的性能進行測試得到的數據，所述參照組數據是基于參照探針對所述多個受測對象的性能進行測試得到的數據；

基于所述實驗組數據和所述參照組數據，確定所述待預測探針的至少一個相關性能指標，所述至少一個相關性能指標與所述待預測探針的壽命相關，其中，所述基于所述實驗組數據和所述參照組數據，確定所述待預測探針的至少一個相關性能指標包括：

基于所述實驗組數據中的至少一個實驗測試數據和所述參照組數據中的至少一個參照測試數據，構建至少一對測試數據對，所述至少一對測試數據對中的參照測試數據和實驗測試數據的類型相同；

將所述至少一對測試數據對輸入預先訓練的相關性預測模型，得到所述至少一個相關性能指標；

獲取所述至少一個相關性能指標的性能測試數據；

基于所述性能測試數據，預測所述待預測探針的壽命。

2.如權利要求1所述的探針壽命預測方法，預先訓練好的相關性預測模型包括排序模型；

將所述至少一對測試數據對輸入預先訓練的相關性預測模型，得到至少一個相關性能指標，包括：

將所述至少一對測試數據對輸入所述排序模型，得到至少一個相關性能指標的排序結果，所述排序結果表征所述至少一個相關性能指標中每個相關性能指標與所述待預測探針的壽命的相關度。

3.如權利要求2所述的探針壽命預測方法，基于所述性能測試數據，預測所述待預測探針的壽命，包括：

基于所述排序結果，確定所述至少一個相關性能指標的權重；

結合所述至少一個相關性能指標的權重，將所述至少一個相關性能指標的性能測試數據輸入預先訓練好的壽命預測模型，確定所述待預測探針的壽命。

4.一種探針壽命預測系統，包括：

第一獲取模塊，用于獲取多個受測對象的實驗組數據和參照組數據，所述實驗組數據是基于待預測探針對所述多個受測對象的性能進行測試得到的數據，所述參照組數據是基于參照探針對所述多個受測對象的性能進行測試得到的數據；

相關性確定模塊，基于所述實驗組數據和所述參照組數據，確定所述待預測探針的至少一個相關性能指標，所述至少一個相關性能指標與所述待預測探針的壽命相關，其中，所述相關性確定模塊進一步包括：

數據對構建子模塊，用于基于所述實驗組數據中的至少一個實驗測試數據和所述參照組數據中的至少一個參照測試數據，構建至少一對測試數據對，所述至少一對測試數據對中的參照測試數據和實驗測試數據的類型相同；

相關性確定子模塊，用于將所述至少一對測試數據對輸入預先訓練的相關性預測模型，得到所述至少一個相關性能指標；

第二獲取模塊，用于獲取所述至少一個相關性能指標的性能測試數據；

壽命預測模塊，用于基于所述至少一個相關性能指標的性能測試數據，預測所述待預測探針的壽命。

5.如權利要求4所述的探針壽命預測系統，預先訓練好的相關性預測模型包括排序模型；

所述相關性確定子模塊，包括：

排序單元，用于將所述至少一對測試數據對輸入所述排序模型，得到至少一個相關性能指標的排序結果，所述排序結果表征所述至少一個相關性能指標中每個相關性能指標與所述待預測探針的壽命的相關度。

6.如權利要求5所述的探針壽命預測系統，所述壽命預測模塊，包括：

權重確定子模塊，用于基于所述排序結果，確定所述至少一個相關性能指標的權重；

壽命預測子模塊，用于結合所述至少一個相關性能指標的權重，將所述至少一個相關性能指標的性能測試數據輸入預先訓練好的壽命預測模型，確定所述待預測探針的壽命。

7.一種探針壽命預測裝置，包括處理器，所述處理器用于執行權利要求1～3中任一項所述的探針壽命預測方法。

8.一種計算機可讀存儲介質，所述存儲介質存儲計算機指令，當計算機讀取存儲介質中的計算機指令后，計算機執行如權利要求1～3任一項所述的探針壽命預測方法。