[發(fā)明專利]半導(dǎo)體設(shè)備的加熱器及半導(dǎo)體設(shè)備在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110762248.1 | 申請日: | 2021-07-06 |
| 公開(公告)號: | CN113604786A | 公開(公告)日: | 2021-11-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 韓為鵬;黃其偉;鄧斌 | 申請(專利權(quán))人: | 北京北方華創(chuàng)微電子裝備有限公司 |
| 主分類號: | C23C14/54 | 分類號: | C23C14/54;C23C16/46;C23C16/52;H01L21/67 |
| 代理公司: | 深圳市嘉勤知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44651 | 代理人: | 董琳 |
| 地址: | 100176 北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體設(shè)備 加熱器 | ||
本申請公開一種半導(dǎo)體設(shè)備的加熱器和一種半導(dǎo)體設(shè)備,上述加熱器包括:加熱盤,用于設(shè)置在所述半導(dǎo)體設(shè)備的腔體中,所述加熱盤具有第一空腔以及相對的載物平面和底面,所述底面具有開口,所述第一空腔通過所述開口與大氣環(huán)境連通;第一冷卻元件,固定于所述第一空腔內(nèi),所述第一冷卻元件用于向所述第一空腔內(nèi)通入冷卻氣體。上述加熱器在半導(dǎo)體設(shè)備的工藝過程中,加熱盤溫度穩(wěn)定。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種半導(dǎo)體設(shè)備的加熱器及半導(dǎo)體設(shè)備。
背景技術(shù)
膜層沉積是半導(dǎo)體工藝中的一種常見工藝,例如大部分功率器件為滿足工藝需求,會需要沉積較厚的金屬薄膜,而膜層的沉積時(shí)間與膜層厚度成正比,與產(chǎn)能成反比。為提高產(chǎn)能,需要大幅度提高薄膜沉積速率,以降低沉積時(shí)間。
目前提高薄膜沉積速率常用的方法,就是提高沉積時(shí)所施加的電源功率。但是提高功率以及延長沉積時(shí)間均會帶來大量的熱量累積,使得整個(gè)半導(dǎo)體工藝過程中,承載并控制晶圓工藝溫度的加熱器的溫度難以穩(wěn)定,導(dǎo)致工藝腔室內(nèi)的溫度超出合適溫度,并且隨著處理的晶圓片數(shù)的增加,加熱器的溫度還會不斷升高。
加熱器溫度的持續(xù)升高,會對半導(dǎo)體工藝處理結(jié)果造成不良影響?,F(xiàn)有技術(shù)中,為了控制溫度的穩(wěn)定性,當(dāng)溫度上升超過設(shè)定范圍時(shí),只能停止工藝過程,停止加熱,讓加熱器的溫度下降至起始溫度后,才能繼續(xù)工藝。上述降溫過程會浪費(fèi)大量的時(shí)間,嚴(yán)重影響設(shè)備產(chǎn)能,同時(shí)在工藝過程中,不斷的停止、啟動,增加了工藝控制的繁瑣性。目前,對于加熱器的溫度調(diào)節(jié)尤其是輔助冷卻功能的要求越來也高。
發(fā)明內(nèi)容
鑒于此,本申請?zhí)峁┮环N半導(dǎo)體設(shè)備的加熱器及半導(dǎo)體設(shè)備,以解決現(xiàn)有的半導(dǎo)體設(shè)備的溫度不穩(wěn)定的問題。
本申請?zhí)峁┑囊环N半導(dǎo)體設(shè)備的加熱器,包括,加熱盤,設(shè)置在所述半導(dǎo)體設(shè)備的腔體中,所述加熱盤具有第一空腔以及相對的載物平面和底面,所述底面具有開口,所述第一空腔通過所述開口與大氣環(huán)境連通;第一冷卻元件,固定于所述第一空腔內(nèi),所述第一冷卻元件用于向所述第一空腔內(nèi)通入冷卻氣體。
可選的,所述第一冷卻元件內(nèi)具有氣路,所述氣路的進(jìn)氣口用于與外部氣源連通,所述氣路的出氣口連通所述第一空腔。
可選的,所述第一冷卻元件的高度小于所述第一腔體的高度,所述第一冷卻元件的底面固定于所述第一腔體的底部。
可選的,所述第一空腔為圓柱形,所述第一冷卻元件為圓環(huán)柱形,,且所述第一冷卻元件的外徑小于所述第一空腔的直徑,所述開口位于所述第一冷卻元件的內(nèi)環(huán)壁所圍成的空間中。
可選的,所述加熱器還包括一支撐組件,所述支撐組件內(nèi)部中空,所述支撐組件的一端與所述加熱盤底面的開口連通,所述支撐組件的另一端貫穿所述腔體底部連通至大氣環(huán)境;所述支撐組件中設(shè)置有進(jìn)氣管路,所述進(jìn)氣管路用于連通所述氣路的進(jìn)氣口與所述外部氣源。
可選的,所述加熱盤還具有設(shè)置在所述第一空腔的上方且與所述第一空腔連通的第二空腔,所述加熱器還包括位于所述二空腔中且與所述加熱盤固定設(shè)置的第二冷卻元件,所述第二冷卻元件內(nèi)具有液體管路,所述液體管路用于冷卻所述加熱盤。
可選的,所述第一冷卻元件與所述第二冷卻元件之間具有預(yù)設(shè)間隙。
可選的,所述支撐組件包括支撐軸、第一法蘭、波紋管和第二法蘭,所述支撐軸內(nèi)部中空,一端可升降的固定于所述第一法蘭底部,另一端穿過所述第二法蘭,連通至大氣環(huán)境;所述波紋管套設(shè)于所述支撐軸外部,所述波紋管的一端通過所述第一法蘭與所述加熱盤底部固定連接,所述波紋管的另一端連接至所述第二法蘭;所述第二法蘭用于固定于所述半導(dǎo)設(shè)備的腔體底部。
可選的,所述進(jìn)氣管路上設(shè)置有質(zhì)量流量控制器,所述質(zhì)量流量控制器用于控制進(jìn)去所述第一冷卻元件內(nèi)的氣體流量。
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C23C 對金屬材料的鍍覆;用金屬材料對材料的鍍覆;表面擴(kuò)散法,化學(xué)轉(zhuǎn)化或置換法的金屬材料表面處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆
C23C14-00 通過覆層形成材料的真空蒸發(fā)、濺射或離子注入進(jìn)行鍍覆
C23C14-02 .待鍍材料的預(yù)處理
C23C14-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物
C23C14-06 .以鍍層材料為特征的
C23C14-22 .以鍍覆工藝為特征的
C23C14-58 .后處理
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