[發(fā)明專利]一種電加熱式半導體廢氣處理設(shè)備及其降溫的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110757916.1 | 申請日: | 2021-07-05 |
| 公開(公告)號: | CN113426240B | 公開(公告)日: | 2022-08-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 楊春濤;楊春水;張坤;陳彥崗 | 申請(專利權(quán))人: | 北京京儀自動化裝備技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號: | B01D53/00 | 分類號: | B01D53/00;B01D53/74;B01D53/34 |
| 代理公司: | 北京乾成律信知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11927 | 代理人: | 王月春;蘇捷 |
| 地址: | 100176 北京市大興區(qū)經(jīng)*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 加熱 半導體 廢氣 處理 設(shè)備 及其 降溫 方法 | ||
1.一種用于控制電加熱式半導體廢氣處理設(shè)備降溫的方法,其特征在于,包括:
S1:將電加熱式半導體廢氣處理設(shè)備停止工作進入冷卻運行模式;
S2:將低溫氣體輸送至所述電加熱式半導體廢氣處理設(shè)備的氣冷腔內(nèi),使得所述低溫氣體由所述電加熱式半導體廢氣處理設(shè)備的底部輸入,所述氣冷腔內(nèi)的低溫氣體從所述電加熱式半導體廢氣處理設(shè)備的頂部陸續(xù)流入所述電加熱式半導體廢氣處理設(shè)備的反應(yīng)腔內(nèi)部,進行降溫,低溫氣體最終由所述反應(yīng)腔內(nèi)部流入回收裝置中,經(jīng)處理后排入大氣中;
S3:將低溫液體輸送至所述電加熱式半導體廢氣處理設(shè)備的水冷腔內(nèi),使得所述低溫液體由所述電加熱式半導體廢氣處理設(shè)備的底部輸入,直至低溫液體充滿所述水冷腔,從而加快降溫;
S4:當所述反應(yīng)腔內(nèi)部和外壁的溫度同時小于35℃時,關(guān)閉水冷腔的進水調(diào)節(jié)閥,同時打開水冷腔的出水調(diào)節(jié)閥,將所述水冷腔內(nèi)的低溫液體排出,當監(jiān)測不到反應(yīng)腔內(nèi)部的低溫液體時,降溫完成;其中,
當在S2中進行測量所述反應(yīng)腔外壁的溫度,當所述氣冷腔內(nèi)通入低溫氣體后,所述反應(yīng)腔外壁的溫度小于95℃時,繼續(xù)S3和S4;或,當在S2中進行測量所述反應(yīng)腔外壁的溫度,當所述氣冷腔內(nèi)通入低溫氣體后,所述反應(yīng)腔外壁的溫度大于95℃時,終止S3,繼續(xù)S2,直至所述反應(yīng)腔外壁的溫度小于95℃時,繼續(xù)S3和S4。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述電加熱式半導體廢氣處理設(shè)備包括:
反應(yīng)腔,用于使半導體廢氣在其內(nèi)反應(yīng);
第一冷卻器,所述第一冷卻器環(huán)繞設(shè)置于所述反應(yīng)腔的外壁上,且連通于所述反應(yīng)腔內(nèi)部,對所述反應(yīng)腔降溫;
第二冷卻器,所述第二冷卻器環(huán)繞設(shè)置于所述第一冷卻器的外壁上,對所述第一冷卻器降溫。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述電加熱式半導體廢氣處理設(shè)備還包括:
隔熱腔,環(huán)繞設(shè)置于所述第一冷卻器和所述反應(yīng)腔的外壁之間。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,所述第一冷卻器包括:
氣冷腔,所述氣冷腔環(huán)繞設(shè)置于所述隔熱腔的外壁上;
進氣管,所述進氣管連通所述氣冷腔,且設(shè)置于靠近所述電加熱式半導體廢氣處理設(shè)備的底壁;
連通管,所述連通管的一端連通所述氣冷腔,且設(shè)置于靠近所述電加熱式半導體廢氣處理設(shè)備的頂壁,所述連通管的另一端設(shè)置于所述電加熱式半導體廢氣處理設(shè)備的頂壁,且連通于所述電加熱式半導體廢氣處理設(shè)備的內(nèi)部。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于,所述電加熱式半導體廢氣處理設(shè)備還包括:
回收裝置,所述回收裝置連通所述反應(yīng)腔內(nèi)部。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,所述回收裝置包括:
密閉箱體,所述密閉箱體連通所述反應(yīng)腔內(nèi)部;
氣體處理組件,所述氣體處理組件設(shè)置于所述密閉箱體上,用于回收處理所述第一冷卻器的氣體。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,所述第二冷卻器包括:
水冷腔,所述水冷腔環(huán)繞設(shè)置于所述氣冷腔的外壁上;
進水管,所述進水管連通所述水冷腔,且設(shè)置于靠近所述電加熱式半導體廢氣處理設(shè)備的底壁;
第一出水管,所述第一出水管的一端連通所述水冷腔,且設(shè)置于靠近所述電加熱式半導體廢氣處理設(shè)備的底壁,所述第一出水管的另一端連通所述回收裝置;
第二出水管,所述第二出水管的一端連通所述水冷腔,且設(shè)置于靠近所述電加熱式半導體廢氣處理設(shè)備的頂壁,所述第二出水管的另一端連通所述回收裝置。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法,其特征在于,所述反應(yīng)腔內(nèi)部和反應(yīng)腔外壁上設(shè)置溫度傳感器,所述進水管包括進水調(diào)節(jié)閥,所述第一出水管包括出水調(diào)節(jié)閥,所述進氣管包括進氣調(diào)節(jié)閥。
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