[發明專利]一種工件尺寸的測量方法及裝置

有效

• 申請號: 202110746876.0
• 申請日: 2021-06-30
• 公開（公告）號: CN113514007B
• 公開（公告）日: 2022-04-19
• 發明（設計）人: 雷偉莊
• 申請（專利權）人: 微見智能封裝技術（深圳）有限公司
• 主分類號: G01B11/24
• 分類號: G01B11/24
• 代理公司: 深圳市智享知識產權代理有限公司 44361
• 代理人: 王琴

1.一種工件尺寸的測量方法，其特征在于：所述測量方法包括以下步驟：

獲取待測工件的圖像；

對圖像的像素進行標定，具體為：獲取所述圖像中每個像素的像素尺寸大小；

通過標定的像素結合預設對比標準對圖像進行匹配測量，具體步驟為：根據預設的對比標準結合標定的像素尺寸大小在所述待測工件的圖像上生成若干對比柵格；對比標準為對比柵格尺寸與標定的像素尺寸之間的對應關系；

調整所述對比柵格以使多個所述對比柵格組成的圖像輪廓或任一所述對比柵格的圖像輪廓與所述待測工件的輪廓相重合；

根據所述待測工件內所述對比柵格的數量及尺寸得到所述待測工件的尺寸大小。

2.如權利要求1所述工件尺寸的測量方法，其特征在于：當多個所述對比柵格組成的圖像輪廓或任一所述對比柵格的圖像輪廓與所述待測工件的輪廓相重合時，所述對比柵格與所述待測工件相匹配。

3.如權利要求1所述工件尺寸的測量方法，其特征在于：對待測工件的圖像進行匹配測量之前還包括：根據所述待測工件的輪廓形狀確定所述對比柵格的形狀。

4.如權利要求1所述工件尺寸的測量方法，其特征在于：通過對所述對比柵格進行拉伸或縮放調整所述對比柵格，或通過改變所述對比標準調整所述對比柵格以匹配所述待測工件。

5.如權利要求1所述工件尺寸的測量方法，其特征在于：所述對比柵格與所述待測工件相匹配時，所述待測工件內對應的對比柵格的數量少于10。

6.如權利要求1所述工件尺寸的測量方法，其特征在于：更換待測工件時，獲取待測工件圖像的位置保持不變。

7.一種工件尺寸的測量裝置，用于執行如權利要求1～6 任意一項所述的測量方法，其特征在于：所述測量裝置包括拍攝裝置及分析裝置，所述拍攝裝置與所述分析裝置通信連接；

所述拍攝裝置獲取待測工件的圖像，所述分析裝置對所述拍攝裝置的像素進行標定并結合預設對比標準對所述圖像進行匹配測量，以獲取所述待測工件的尺寸大小。

8.如權利要求7所述工件尺寸的測量裝置，其特征在于：所述分析裝置進一步包括顯示屏幕及操作平臺，所述操作平臺與所述顯示屏幕通信連接，所述顯示屏幕與所述拍攝裝置通信連接以顯示待測工件的圖像；

對待測工件進行測量時，所述顯示屏幕根據對比標準結合標定的像素尺寸大小在所述待測工件的圖像上生成若干對比柵格；通過所述操作平臺調整所述對比柵格以使所述對比柵格與所述待測工件相匹配；根據所述待測工件內所述對比柵格的數量及尺寸得到所述待測工件的尺寸大小；對比標準為對比柵格尺寸與標定的像素尺寸之間的對應關系。