[發明專利]用于分析被測設備的測試和測量系統

在審

• 申請號: 202110733579.2
• 申請日: 2021-06-30
• 公開（公告）號: CN113868066A
• 公開（公告）日: 2021-12-31
• 發明（設計）人: S·J·斯特里克林;D·S·弗雷利奇;M·L·鮑德溫;J·桑;陳霖永
• 申請（專利權）人: 特克特朗尼克公司
• 主分類號: G06F11/26
• 分類號: G06F11/26;G06F11/263
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 鐘茂建;陳嵐

用于分析被測設備的測試和測量系統。一種用于分析被測設備的測試和測量系統，包括：數據庫，其被配置成存儲與用一個或多個先前被測設備執行的測試相關的測試結果；接收器，用于接收關于新的被測設備的新的測試結果；數據分析儀，其被配置成基于存儲的測試結果來分析新的測試結果；以及健康分數生成器，其被配置成基于來自數據分析儀的分析針對新的被測設備生成健康分數。

優先權

本公開要求于2020年6月30日提交的題為“BIG SILICON DATA ANDCOORDINATION”的美國臨時申請第63/046,595號的權益，該美國臨時申請通過引用被整體地并入本文中。

技術領域

本公開涉及與測試和測量系統相關的系統和方法，并且特別地涉及可以基于與由測試和測量系統執行的其他測試相關的數據來分析被測設備（DUT）的測試和測量系統。

背景技術

電氣設備的設計者和制造商需要測試和測量儀器以及適當的測試程序來確保電氣設備正常運轉。這樣的測試可以在設計新設備的工程表征階段進行，以例如將設備的實際電氣性能與模擬性能進行比較，以確保設備按設計運行（perform）。

通常，為了測試符合性（compliance），用戶將把設備連接到比特誤碼率測試儀（BERT）和/或矢量網絡分析儀（VNA）以測試設備的實際電氣性能。然而，這樣的測試設置不僅可能是非常昂貴的，而且還可能花費大量的人工勞動（manual labor）。如果新設備最終未通過測試，則必須重新設計設備并重復測試。有時，即使模擬性能通過了測試，設備也可能未通過測試，并且用戶必須花時間調試他們的新設計的設備，以確定實際設備測試為什么與模擬不同。

本公開的示例解決了現有技術的這些和其他缺陷。

附圖說明

根據參考附圖的示例的以下描述，本公開的示例的方面、特征和優點將變得顯而易見，在附圖中：

圖1是根據本公開的一些示例的裕度測試儀（margin tester）的框圖。

圖2是根據本公開的一些示例的測試和測量系統的框圖。

圖3是根據本公開的一些示例的用于分析被測設備的流程圖。

描述

裕度測試儀或系統是測試和測量儀器，其可以對DUT執行高速電氣裕度測試。裕度測試儀可以建立DUT的單通道或多通道高速輸入/輸出鏈路，以評估單通道或多通道高速輸入/輸出鏈路的每個通道在發射方向或接收方向中的任何一個或兩者上的電氣裕度。

各自2020年1月31日提交的美國專利申請第16/778,249號和美國專利申請第16/778,262號公開了用于對DUT執行高速電氣裕度測試的系統和方法，所述美國專利申請中的每個都通過引用被整體地并入。這樣的裕度測試儀對于測試采用多通道通信協議（諸如例如外圍組件互連（PCI）快速）的DUT可能是特別有用的。

圖1是圖示根據本公開的示例的具有多個接口102的裕度測試儀100的框圖，該接口102被配置成例如經由一根或多根線纜被連接到至少一個測試固定裝置，以評估DUT的多通道高速I/O鏈路在發射和接收方向中的任何一個或兩個方向上的電氣裕度。

裕度測試儀100包括控制器104和相關聯的存儲器106，存儲器106可以存儲控制器104可以讀取、使用和/或執行以執行本文中描述的功能的指令和其他數據。裕度測試儀100可以包括一些數量的通道，所述通道可以經由接口102被連接（例如，線纜連接）到標準測試固定裝置、線纜或適配器，以在控制器104的控制下執行裕度測試。裕度測試儀100包括連接到接口102的發射器和/或接收器（未示出）。