[發明專利]用于分析被測設備的測試和測量系統

在審

• 申請號: 202110733579.2
• 申請日: 2021-06-30
• 公開（公告）號: CN113868066A
• 公開（公告）日: 2021-12-31
• 發明（設計）人: S·J·斯特里克林;D·S·弗雷利奇;M·L·鮑德溫;J·桑;陳霖永
• 申請（專利權）人: 特克特朗尼克公司
• 主分類號: G06F11/26
• 分類號: G06F11/26;G06F11/263
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 鐘茂建;陳嵐

1.一種測試和測量系統，包括：

存儲器，其被配置成存儲與用一個或多個先前被測設備執行的測試相關的測試結果的數據庫；

輸入端，其被配置成接收關于新的被測設備的新的測試結果；

數據分析儀，其被配置成基于存儲的測試結果來分析新的測試結果；以及

健康分數生成器，其被配置成基于來自數據分析儀的分析針對新的被測設備生成健康分數。

2.如權利要求1所述的測試和測量系統，其中，新的測試結果包括來自測試和測量儀器的新的被測設備的測試結果。

3.如權利要求2所述的測試和測量系統，其中，測試和測量儀器是裕度測試儀。

4.如權利要求1所述的測試和測量系統，其中，新的測試結果包括測試系統信息。

5.如權利要求1所述的測試和測量系統，其中，新的測試結果包括模擬數據。

6.如權利要求1所述的測試和測量系統，其中，健康分數生成器被進一步配置成生成符合性測試結果。

7.如權利要求1所述的測試和測量系統，其中，存儲的測試結果包括來自先前被測設備中的至少一個的修訂數據。

8.如權利要求7所述的測試和測量系統，其中，數據分析儀被進一步配置成基于分析來確定針對新的被測設備的建議改進，并且健康分數生成器被進一步配置成輸出具有健康分數的建議改進。

9.一種用于分析新的被測設備的方法，包括：

存儲與用一個或多個先前被測設備執行的測試相關的測試結果；

接收關于新的被測設備的新的測試結果；

基于存儲的測試結果來分析新的測試結果；以及

基于分析針對新的被測設備生成健康分數。

10.如權利要求9所述的方法，其中，新的測試結果包括來自測試和測量儀器的新的被測設備的測試結果。

11.如權利要求10所述的方法，其中，測試和測量儀器是裕度測試儀。

12.如權利要求9所述的方法，其中，新的測試結果包括測試系統信息。

13.如權利要求9所述的方法，其中，新的測試結果包括模擬數據。

14.如權利要求9所述的方法，進一步包括基于分析來生成符合性測試結果。

15.如權利要求9所述的方法，其中，存儲的測試結果包括來自先前被測設備中的至少一個的修訂數據。

16.如權利要求15所述的方法，進一步包括基于分析來確定針對新的被測設備的建議改進并且輸出具有健康分數的建議改進。

17.一種或多種非暫時性計算機可讀存儲介質，其包括指令，所述指令當由測試和測量系統的一個或多個處理器執行時，使測試和測量儀器：

接收關于新的被測設備的新的測試結果；

基于一個或多個先前被測設備的存儲的測試結果來分析新的結果；以及

基于分析針對新的被測設備生成健康分數。

18.如權利要求17所述的一種或多種非暫時性計算機可讀存儲介質，其中新的測試結果包括來自測試和測量儀器的新的被測設備的測試結果。

19.如權利要求18所述的一種或多種非暫時性計算機可讀存儲介質，其中測試和測量儀器是裕度測試儀。

20.如權利要求17所述的一種或多種非暫時性計算機可讀存儲介質，其中新的測試結果包括模擬數據。