[發明專利]讀重試測試方法、裝置、可讀存儲介質及電子設備

有效

• 申請號: 202110724696.2
• 申請日: 2021-06-29
• 公開（公告）號: CN113470723B
• 公開（公告）日: 2023-07-14
• 發明（設計）人: 孫成思;孫日欣;王營許;高嵊昊;胡偉;朱渝林
• 申請（專利權）人: 成都佰維存儲科技有限公司
• 主分類號: G11C29/08
• 分類號: G11C29/08
• 代理公司: 深圳市博銳專利事務所 44275
• 代理人: 歐陽燕明

1.一種讀重試測試方法，其特征在于，包括：

根據接收的待測閃存的讀重試功能的測試請求，以塊為單位對所述待測閃存的目標操作模式進行遍歷，直至遍歷完所述目標操作模式中的所有塊；

對于遍歷到的目標塊中的預設目標頁進行讀操作，得到目標原始數據；

基于所述目標原始數據對所述預設目標頁的數據進行位翻轉，得到位翻轉后的預設目標頁；

讀取所述位翻轉后的預設目標頁的數據，得到讀取結果，并根據所述讀取結果得到所述讀重試功能的測試結果。

2.根據權利要求1所述的一種讀重試測試方法，其特征在于，還包括：

根據所述測試請求對所述待測閃存的多個操作模式進行遍歷，直至遍歷完所述待測閃存的所有操作模式；

對于遍歷到的目標操作模式執行所述根據接收的待測閃存的讀重試功能的測試請求，以塊為單位對所述待測閃存的目標操作模式進行遍歷步驟。

3.根據權利要求1所述的一種讀重試測試方法，其特征在于，所述對于遍歷到的目標塊中的預設目標頁進行讀操作，得到目標原始數據之前還包括步驟：

對所述目標塊的數據進行擦除操作；

根據預設數據模板向所述目標塊寫入數據；

根據所述目標塊中的數據生成預設目標頁的原始數據；

所述對于遍歷到的目標塊中的預設目標頁進行讀操作，得到目標原始數據包括：

讀取遍歷到的目標塊中的預設目標頁的原始數據，得到目標原始數據。

4.根據權利要求1所述的一種讀重試測試方法，其特征在于，所述測試請求還包括當前隨機選取次數；

所述基于所述目標原始數據對所述預設目標頁的數據進行位翻轉，得到位翻轉后的預設目標頁之前還包括步驟：

根據所述目標原始數據確定隨機選取總次數；

判斷所述當前隨機選取次數是否大于或等于所述隨機選取總次數，若是，則結束測試，并輸出提示信息，若否，則將所述當前隨機選取次數加一，并執行所述基于所述目標原始數據對所述預設目標頁的數據進行位翻轉步驟；

所述基于所述目標原始數據對所述預設目標頁的數據進行位翻轉，得到位翻轉后的預設目標頁包括：

從所述目標原始數據中隨機選取任一位，得到目標位；

判斷所述目標位的數據是否為第一預設值，若否，則返回執行所述判斷所述當前隨機選取次數是否大于或等于所述隨機選取總次數步驟，若是，則將所述目標位的數據翻轉為第二預設值，得到位翻轉后的目標原始數據，并將所述位翻轉后的目標原始數據寫入所述預設目標頁，得到位翻轉后的預設目標頁。

5.根據權利要求4所述的一種讀重試測試方法，其特征在于，所述讀取所述位翻轉后的預設目標頁的數據之前還包括步驟：

接收與所述測試請求對應的讀重試功能查看指令；

根據所述讀重試功能查看指令獲取所述讀重試功能的觸發狀態；

判斷所述讀重試功能的觸發狀態是否為已觸發，若是，則執行所述讀取所述位翻轉后的預設目標頁的數據步驟，若否，則返回執行所述判斷所述當前隨機選取次數是否大于或等于所述隨機選取總次數步驟。

6.根據權利要求4所述的一種讀重試測試方法，其特征在于，所述讀取所述位翻轉后的預設目標頁的數據，得到讀取結果，并根據所述讀取結果得到所述讀重試功能的測試結果包括：

讀取所述位翻轉后的預設目標頁的數據，得到讀取結果；

判斷所述讀取結果是否讀失敗，若是，則所述讀重試功能異常，若否，則所述讀重試功能正常，并返回執行所述判斷所述當前隨機選取次數是否大于或等于所述隨機選取總次數步驟。

7.根據權利要求1至6中任一項所述的一種讀重試測試方法，其特征在于，所述待測閃存包括NAND?flash。