[發明專利]一種光學圖像法測量Zeta電位及粒子尺寸的儀器

在審

• 申請號: 202110714855.0
• 申請日: 2021-06-26
• 公開（公告）號: CN114910393A
• 公開（公告）日: 2022-08-16
• 發明（設計）人: 柳鐘麗;楊濤
• 申請（專利權）人: 蘇州胤煌精密儀器科技有限公司
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了一種光學圖像法測量Zeta電位及粒子尺寸的儀器，包括外殼體和可編程控制器，所述外殼體的內部設置有觀測流動池，且觀測流動池的頂底兩部均開設有安裝滑槽，所述安裝滑槽的內部連接有安裝滑塊，所述連接環架一側的底部連接有第一電動推桿，所述外殼體的頂部安裝有保護殼，所述安裝架的上方連接有調節滑動體，且調節滑動體的外表面連接有調節滑動槽，所述調節滑動體的一側端面連接有第二電動推桿，所述可編程控制器位于外殼體的內底部。該光學圖像法測量Zeta電位及粒子尺寸的儀器通過設置的可編程控制器能夠讓其對第二電動推桿和第一電動推桿形成控制，從而進行自動化控制，方便裝置的使用。

技術領域

本發明涉及光學圖像法測量設備技術領域，具體為一種光學圖像法測量Zeta電位及粒子尺寸的儀器。

背景技術

光學測量的被測件進行分類，主要分為3類：有源器件，無源器件，高速通信，有源器件主要有：調制器，發送器，接收機，放大器，MUX/DEMUX，光電和電光轉換器，以及激光源。

現有的光學圖像法測量的儀器，在使用時對觀測池不能進行良好的更換導致使用不是很方便，且無法根據需要對鏡片進行距離調節，不能很好的滿足人們的使用需求，針對上述情況，在現有的光學圖像法測量的儀器基礎上進行技術創新。

發明內容

本發明的目的在于提供一種光學圖像法測量Zeta電位及粒子尺寸的儀器，以解決上述背景技術中提出現有的光學圖像法測量的儀器，在使用時對觀測池不能進行良好的更換導致使用不是很方便，且無法根據需要對鏡片進行距離調節，不能很好的滿足人們的使用需求問題。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：一種光學圖像法測量Zeta電位及粒子尺寸的儀器，包括外殼體和可編程控制器，所述外殼體的內部設置有觀測流動池，且觀測流動池的頂底兩部均開設有安裝滑槽，所述安裝滑槽的內部連接有安裝滑塊，所述觀測流動池的上方連接有連通管，且連通管的外表面連接有連接環架，所述連接環架一側的底部連接有第一電動推桿，所述外殼體的頂部安裝有保護殼，所述觀測流動池的一側設置有成像鏡片，且成像鏡片的上方連接有安裝架，所述安裝架的上方連接有調節滑動體，且調節滑動體的外表面連接有調節滑動槽，所述調節滑動體的一側端面連接有第二電動推桿，所述成像鏡片的一側設置有光電轉換器，所述可編程控制器位于外殼體的內底部。

優選的，所述觀測流動池與安裝滑槽之間為固定連接，且觀測流動池通過安裝滑槽與安裝滑塊之間構成滑動結構。

優選的，所述連通管與觀測流動池之間為活動連接，且觀測流動池通過連通管與保護殼之間構成連通結構。

優選的，所述連通管與連接環架之間為套接，且第一電動推桿與連接環架之間為螺紋連接，并且第一電動推桿與連接環架之間構成伸縮結構。

優選的，所述成像鏡片與安裝架之間為螺紋連接，且成像鏡片與光電轉換器在同一水平線上。

優選的，所述安裝架與調節滑動體之間為固定連接，且安裝架通過調節滑動體和調節滑動槽與外殼體之間構成滑動結構，并且第二電動推桿與調節滑動體之間為螺紋連接，同時第二電動推桿與調節滑動體之間構成伸縮結構。

優選的，所述可編程控制器與外殼體之間為螺紋連接，且第二電動推桿和第一電動推桿均與可編程控制器之間為電性連接。

與現有技術相比，本發明的有益效果如下：

1、通過滑動的觀測流動池能夠讓觀測流動池進行快速的移動，從而方便觀測流動池移動更換，進而方便觀測流動池的使用；通過活動的連通管能夠讓其進行上下伸縮移動，從而在觀測流動池進行移動更換時避免阻礙的情況，從而方便觀測流動池的更換；