[發明專利]一種光學圖像法測量Zeta電位及粒子尺寸的儀器

在審

• 申請號: 202110714855.0
• 申請日: 2021-06-26
• 公開（公告）號: CN114910393A
• 公開（公告）日: 2022-08-16
• 發明（設計）人: 柳鐘麗;楊濤
• 申請（專利權）人: 蘇州胤煌精密儀器科技有限公司
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種光學圖像法測量Zeta電位及粒子尺寸的儀器，包括外殼體(1)和可編程控制器(15)，其特征在于：所述外殼體(1)的內部設置有觀測流動池(2)，且觀測流動池(2)的頂底兩部均開設有安裝滑槽(3)，所述安裝滑槽(3)的內部連接有安裝滑塊(4)，所述觀測流動池(2)的上方連接有連通管(5)，且連通管(5)的外表面連接有連接環架(6)，所述連接環架(6)一側的底部連接有第一電動推桿(7)，所述外殼體(1)的頂部安裝有保護殼(8)，所述觀測流動池(2)的一側設置有成像鏡片(9)，且成像鏡片(9)的上方連接有安裝架(10)，所述安裝架(10)的上方連接有調節滑動體(11)，且調節滑動體(11)的外表面連接有調節滑動槽(12)，所述調節滑動體(11)的一側端面連接有第二電動推桿(13)，所述成像鏡片(9)的一側設置有光電轉換器(14)，所述可編程控制器(15)位于外殼體(1)的內底部。

2.根據權利要求1所述的一種光學圖像法測量Zeta電位及粒子尺寸的儀器，其特征在于：所述觀測流動池(2)與安裝滑槽(3)之間為固定連接，且觀測流動池(2)通過安裝滑槽(3)與安裝滑塊(4)之間構成滑動結構。

3.根據權利要求1所述的一種光學圖像法測量Zeta電位及粒子尺寸的儀器，其特征在于：所述連通管(5)與觀測流動池(2)之間為活動連接，且觀測流動池(2)通過連通管(5)與保護殼(8)之間構成連通結構。

4.根據權利要求1所述的一種光學圖像法測量Zeta電位及粒子尺寸的儀器，其特征在于：所述連通管(5)與連接環架(6)之間為套接，且第一電動推桿(7)與連接環架(6)之間為螺紋連接，并且第一電動推桿(7)與連接環架(6)之間構成伸縮結構。

5.根據權利要求1所述的一種光學圖像法測量Zeta電位及粒子尺寸的儀器，其特征在于：所述成像鏡片(9)與安裝架(10)之間為螺紋連接，且成像鏡片(9)與光電轉換器(14)在同一水平線上。

6.根據權利要求1所述的一種光學圖像法測量Zeta電位及粒子尺寸的儀器，其特征在于：所述安裝架(10)與調節滑動體(11)之間為固定連接，且安裝架(10)通過調節滑動體(11)和調節滑動槽(12)與外殼體(1)之間構成滑動結構，并且第二電動推桿(13)與調節滑動體(11)之間為螺紋連接，同時第二電動推桿(13)與調節滑動體(11)之間構成伸縮結構。

7.根據權利要求1所述的一種光學圖像法測量Zeta電位及粒子尺寸的儀器，其特征在于：所述可編程控制器(15)與外殼體(1)之間為螺紋連接，且第二電動推桿(13)和第一電動推桿(7)均與可編程控制器(15)之間為電性連接。