[發明專利]一種電能表存儲器壽命測試方法及裝置

有效

• 申請號: 202110707758.9
• 申請日: 2021-06-24
• 公開（公告）號: CN113421605B
• 公開（公告）日: 2023-08-25
• 發明（設計）人: 趙聞;張捷;錢斌;招景明;肖勇;李嘉杰;羅鴻軒;宋鵬;李倩
• 申請（專利權）人: 廣東電網有限責任公司計量中心;南方電網科學研究院有限責任公司
• 主分類號: G11C29/08
• 分類號: G11C29/08;G11C29/12
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 彭東威

1.一種電能表存儲器壽命測試方法，其特征在于，所述存儲器與預設測試機的探針卡接觸；所述方法包括：

對所述存儲器執行電特性測試，判斷所述存儲器與所述探針卡是否接觸良好；

若是，對所述存儲器執行初始化測試，確定所述存儲器的數據保持能力測試數據；

對所述存儲器進行循環擦寫，得到擦寫測試數據；

在循環擦寫過程中執行功能校驗測試、擦寫速度測試和編程窗口測試，獲取循環測試數據；

根據所述數據保持能力測試數據、所述擦寫測試數據和所述循環測試數據，確定所述存儲器的壽命；

所述在循環擦寫過程中執行功能校驗測試、擦寫速度測試和編程窗口測試，獲取循環測試數據的步驟，包括：

當累次擦寫次數小于第一預設閾值時，按照第一執行間隔執行功能校驗測試，得到第一功能校驗數據；

當累計擦寫次數大于或等于所述第一預設閾值，且小于第二預設閾值時，按照第二執行間隔執行所述功能校驗測試，得到第二功能校驗數據；

當累計擦寫次數大于或等于所述第二預設閾值時，按照所述第一執行間隔執行所述功能校驗測試，得到第三功能校驗數據；

當累計擦寫次數等于預設數值時，執行編程窗口測試，得到編程窗口測試數據；

在每次得到所述編程窗口測試數據后，執行擦除速度測試，得到擦除速度測試數據；

在每次得到所述擦除速度測試數據后，執行所述功能校驗測試，得到第四功能校驗數據；

采用所述第一功能校驗數據、所述第二功能校驗數據、所述第三功能校驗數據、第四功能校驗數據、所述編程窗口測試數據和所述擦除速度測試數據生成循環測試數據。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述存儲器具有多個存儲單元；所述對所述存儲器執行初始化測試，確定所述存儲器的數據保持能力測試數據的步驟，包括：

按照多個預設外接讀電壓分別對所述存儲器的每個所述存儲單元進行讀取確認，確定每個所述存儲單元在不同的外接讀電壓下的數據狀態；

將數據狀態發生反轉的存儲單元確定為失效存儲單元，并記錄失效讀電壓；

統計所述失效存儲單元和對應的失效讀電壓，得到所述存儲器的數據保持能力測試數據。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述對所述存儲器進行循環擦寫，得到擦寫測試數據的步驟，包括：

在所述存儲器中寫入預設長度的第一數據；

若寫入不成功，則判定寫入錯誤，并返回在所述存儲器中寫入預設長度的第一數據的步驟；

若寫入成功，則在所述存儲器中讀取預設長度的第二數據；

若讀取不成功，則判斷讀取錯誤，并返回在所述存儲器中寫入預設長度的第一數據的步驟；

若讀取成功，則判定所述第一數據與所述第二數據是否一致；

若一致，則判定讀寫成功，返回在所述存儲器中寫入預設長度的第一數據的步驟；

若不一致，則返回在所述存儲器中讀取預設長度的第二數據的步驟；

統計所述第一數據與所述第二數據的連續不一致次數；

當所述連續不一致次數達到預設次數閾值時，獲取所述連續不一致次數中每次讀取的第二數據的長度；

當每次讀取的第二數據的長度一致時，判定寫入錯誤，并返回在所述存儲器中寫入預設長度的第一數據的步驟；

當每次讀取的第二數據的長度不一致時，則判定讀取錯誤，并返回在所述存儲器中寫入預設長度的第一數據的步驟；

統計所有讀取錯誤和寫入錯誤，得到擦寫測試數據。