[發明專利]一種螺絲整列機的光耦控制檢測設備

有效

• 申請號: 202110700982.5
• 申請日: 2021-06-23
• 公開（公告）號: CN113504747B
• 公開（公告）日: 2023-02-21
• 發明（設計）人: 陸菊妹;高明華;陳友鳳
• 申請（專利權）人: 犇暢電子科技（蘇州）有限公司
• 主分類號: G05B19/042
• 分類號: G05B19/042
• 代理公司: 合肥洪雷知識產權代理事務所(普通合伙) 34164
• 代理人: 徐贛林

本發明公開了一種螺絲整列機的光耦控制檢測設備，包括MCU、三級管Q1、電阻R1、發射管、電源端VCC、接地端GND、電阻R2和接收管；MCU的IO1口通過導線與三極管的基級電性連接，所述三極管的發射極上連接有電源端VCC，所述三極管的集電極上通過導線與電阻R1電性連接；本發明通過相應設置，在發射光耦工作電流變大之后，對應發射功率也隨之加大，對接收光耦來說，自然接收到發射光耦的值就越多，降低了光耦上有灰塵堆積對檢測的影響；使接受光耦的反應更加靈敏，從而檢測螺絲的值更加穩定，解決了檢測端口有灰塵堆積時的誤判問題；而且更改之后檢測范圍擴大到0?5V，判定門限大于1V，使MCU的判定更為穩定。

技術領域

本發明屬于光耦控制領域，涉及螺絲整列機的螺絲檢測技術，具體是一種螺絲整列機的光耦控制檢測設備。

背景技術

在螺絲整列機控制領域，使用紅外發射和接收光耦來檢測特定位置有沒有螺絲到位。現有的方案是直接給發射光耦通過電阻降壓后通電，然后檢測接收光耦的電壓來判定有沒有螺絲到相應位置的方法來實現對螺絲的檢測。現有方案的不足在于：1，直接通電的方式導致發射光耦的壽命減短，衰減加快。2，為了保證光耦的使用壽命，就必須加大電阻值，降低光耦的電流，從而導致設備長期運行過程中有灰塵堆積的狀態下檢測螺絲錯位，不準確。

為了解決這一技術問題，現提供一種解決方案。

發明內容

本發明的目的在于提供一種螺絲整列機的光耦控制檢測設備。

本發明的目的可以通過以下技術方案實現：

一種螺絲整列機的光耦控制檢測設備，包括包括MCU、三級管Q1、電阻R1、發射管、電源端VCC、接地端GND、電阻R2和接收管；

MCU的IO1口通過導線與三極管的基級電性連接，所述三極管的發射極上連接有電源端VCC，所述三極管的集電極上通過導線與電阻R1電性連接；所述電阻R1的另一端通過導線電性連接有發射管，所述發射管另一端連接接地端GND；

MCU的IO2口連接在節點一上，該節點一位于電阻R2和接收管的集電極之間，接收管另一端接地，即為通過導線與接地端GND電性連接；電阻R2另一端與電源VCC電性連接。

進一步地，所述MCU用于對電源進行占空分析操作，具體操作步驟為：

步驟一：借助MCU的控制端口IO1發出占空比方波，占空比具體數值為預設值一；

步驟二：MCU對光耦的電源進行對應的占空比控制，此時在發射光耦的工作時間存在對應占空比部分的停止狀態，即在三極管打開的時間段光耦工作，關閉的時間段光耦是不通電狀態；

步驟三：使發射光耦工作在開關狀態，降低光耦電源的電阻R1的電阻值來加大發射光耦的電流；

步驟四：接收管接收到發射光耦的值，根據接收到的值進行螺絲檢測分析，具體分析步驟為：

在兩個光耦之間有螺絲遮擋的時候，發射管即發射光耦發射的紅外光被螺絲擋住，當接收光耦即為接收管接收到的光耦值，比發射光耦的光耦值低且差值超過X1時，判定存在螺絲；X1預設數值，且0X1發射光耦的光耦值。

進一步地，預設值一具體取值選用50％。

進一步地，步驟三中的R1的取值為未采用占空比控制之前的三分之一。

進一步地，所述MCU用于對電源進行占空分析操作之前還會進行占空比試驗分析，具體分析操作為：

S1：選定初始占空比一為Z1，初始占空比二為Z2；Z1和Z2均為預設數值；

S2：根據初始占空比一進行工作，此時采用核定電阻值的電阻R1；在VCC＝5V的情況下，計算發射光耦的電流值；并持續采用該狀態下工作，得到發射光耦的發熱值，發熱值具體為：