[發明專利]一種螺絲整列機的光耦控制檢測設備

有效

• 申請號: 202110700982.5
• 申請日: 2021-06-23
• 公開（公告）號: CN113504747B
• 公開（公告）日: 2023-02-21
• 發明（設計）人: 陸菊妹;高明華;陳友鳳
• 申請（專利權）人: 犇暢電子科技（蘇州）有限公司
• 主分類號: G05B19/042
• 分類號: G05B19/042
• 代理公司: 合肥洪雷知識產權代理事務所(普通合伙) 34164
• 代理人: 徐贛林

1.一種螺絲整列機的光耦控制檢測設備，其特征在于，包括MCU、三級管(Q1)、第一 電阻(R1)、發射管、電源端(VCC)、接地端(GND)、第二 電阻(R2)和接收管；

MCU的IO1口通過導線與三極管的基級電性連接，所述三極管的發射極上連接有電源端(VCC)，所述三極管的集電極上通過導線與第一電阻(R1)電性連接；所述第一電阻(R1)的另一端通過導線電性連接有發射管，所述發射管另一端連接接地端(GND)；

MCU的IO2口連接在節點一上，該節點一位于第二電阻(R2)和接收管的集電極之間，接收管另一端接地，即為通過導線與接地端(GND)電性連接；第二電阻(R2)另一端與電源(VCC)電性連接；

所述MCU用于對電源進行占空分析操作，具體操作步驟為：

步驟一：借助MCU的控制端口IO1發出占空比方波，占空比具體數值為預設值一；

步驟二：MCU對光耦的電源進行對應的占空比控制，此時在發射光耦的工作時間存在對應占空比部分的停止狀態，即在三極管打開的時間段光耦工作，關閉的時間段光耦是不通電狀態；

步驟三：使發射光耦工作在開關狀態，降低光耦電源的第一電阻(R1)的電阻值來加大發射光耦的電流；

步驟四：接收管接收到發射光耦的值，根據接收到的值進行螺絲檢測分析，具體分析步驟為：

在兩個光耦之間有螺絲遮擋的時候，發射管即發射光耦發射的紅外光被螺絲擋住，當接收光耦即為接收管接收到的光耦值，比發射光耦的光耦值低且差值超過X1時，判定存在螺絲；X1預設數值，且0X1發射光耦的光耦值；

所述MCU用于對電源進行占空分析操作之前還會進行占空比試驗分析，具體分析操作為：

S1：選定初始占空比一為Z1，初始占空比二為Z2；Z1和Z2均為預設數值；

S2：根據初始占空比一進行工作，此時采用核定電阻值的第一電阻(R1)；在VCC＝5V的情況下，計算發射光耦的電流值；并持續采用VCC＝5V狀態下工作，得到發射光耦的發熱值，發熱值具體為：

測定初始時發射光耦的溫度，當其升高的溫度達到T1時，T1為預設值，得到升高T1溫度的時間，將其數值標記為發熱值；

S3：之后進行螺絲檢測分析，并核驗結果，當結果錯誤時，自動排出本條占空比；

S4：之后采用初始占空比一進行工作，采用步驟S2-S3的原理完成檢測；

S5：之后利用將初始占空比一和初始占空比二的均值作為新的實時占空比；

S6：重新代入S4的原理完成檢測；當三條結果都未排出時自動將發熱值高的兩個重新標記為初始占空比一和初始占空比二；直到最終得到的最高的發熱值位于預設值X2到X3之間時，且X2X3。

2.根據權利要求1所述的一種螺絲整列機的光耦控制檢測設備，其特征在于，預設值一具體取值選用50％。

3.根據權利要求1所述的一種螺絲整列機的光耦控制檢測設備，其特征在于，步驟三中的第一電阻(R1)的取值為未采用占空比控制之前的三分之一。