[發明專利]SSD的自動化測試系統及方法

在審

• 申請號: 202110694639.4
• 申請日: 2021-06-22
• 公開（公告）號: CN113407402A
• 公開（公告）日: 2021-09-17
• 發明（設計）人: 鄔東東;蔣能軍;閔艷鵬
• 申請（專利權）人: 深圳豪杰創新電子有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G06F11/26
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 徐麗

1.一種SSD的自動化測試系統，其特征在于，所述SSD自動化測試系統包括工控機，以及與所述工控機連接的至少一個PC機和PLC控制系統；所述工控機預先存儲有每個所述PC機的標識；所述PLC控制系統還包括PLC設備，以及與所述PLC設備連接的傳動設備；

所述工控機用于響應作用于所述SSD的自動化測試系統的啟動操作，向所述PLC設備發送觸發信號，以觸發所述PLC設備控制所述傳動設備將待測試SSD從預設的放置區域傳動到預設的測試區，以使所述待測試SSD與所述PC機電連接；

所述PLC設備用于監測所述待測試SSD放置到所述測試區的確認信號，并在監測到所述確認信號之后向所述工控機發送連接指令；

所述工控機還用于在接收到所述連接指令時，向至少一個所述PC機發送測試指令；

所述PC機用于在接收到所述測試指令之后，按照預設的測試邏輯啟動預先存儲的測試算法，以對所述測試區的所述待測試SSD進行自動化測試。

2.根據權利要求1所述的SSD的自動化測試系統，其特征在于，預設的所述放置區用于放置多個按照預設陣列排布的所述待測試SSD；所述測試區配置有用于固定所述待測試SSD的固定治具；

所述固定治具包括互相配合的第一測試治具和第二測試治具，其中，所述第一測試治具用于固定所述待測試SSD，所述第二測試治具用于當所述待測試SSD固定在所述第一測試治具時，使所述待測試SSD與對應的所述PC機電連接。

3.根據權利要求2所述的SSD的自動化測試系統，其特征在于，所述第一測試治具包括至少一個用于固定所述待測試SSD的測試槽；

每個所述測試槽配置有第一測試接口，當所述待測試SSD放置到所述測試槽時，所述第一測試接口與所述待測試SSD電連接。

4.根據權利要求3所述的SSD的自動化測試系統，其特征在于，所述第二測試治具包括至少一個與所述第一測試接口對應的第二測試接口；

所述第二測試接口還與所述PC機的測試接口連接，以便于當所述待測試SSD固定在所述第一測試治具時，通過所述第一測試接口和所述第二測試接口使所述待測試SSD與對應的所述PC機電連接。

5.根據權利要求2所述的SSD的自動化測試系統，其特征在于，所述SSD的自動化測試系統還配置有與所述PLC設備連接的高溫測試系統；

所述第二測試治具設置在所述高溫測試系統對應的區域內，用于在所述PLC設備的控制下對所述待測試SSD進行高溫可靠性測試。

6.根據權利要求1所述的SSD的自動化測試系統，其特征在于，所述SSD的自動化測試系統還配置有自動回收裝置；

所述PC機還用于在所述待測試SSD進行自動化測試過程中，如果監測到測試失敗信號，將所述測試失敗信號發送至所述工控機；

所述工控機還用于在接收到所述測試失敗信號之后，觸發所述PLC設備控制所述傳動設備將發送所述測試失敗信號的所述PC機對應的所述待測試SSD傳動至所述自動回收裝置。

7.根據權利要求6所述的SSD的自動化測試系統，其特征在于，所述PC機中預先存儲的測試算法包括以下測試算法至少之一：預設邏輯的開卡算法、高溫可靠性測試算法、常溫測試算法；

所述PC機還用于在啟動任一測試算法時，如果監測到測試失敗信號，則將所述測試失敗信號發送至所述工控機；或者，在所述開卡算法對應的任一開卡過程中，如果監測到測試失敗信號，則將所述測試失敗信號發送至所述工控機。

8.根據權利要求7所述的SSD的自動化測試系統，其特征在于，所述SSD的自動化測試系統還配置有合格品放置區；

所述PC機還用于在所述待測試SSD的自動化測試過程結束之后，向所述工控機發送測試完成信號；

所述工控機還用于在接收到所述測試完成信號之后，觸發所述PLC設備控制所述傳動設備將發送所述測試完成信號的所述PC機對應的所述待測試SSD傳動至所述合格品放置區。