[發(fā)明專利]SSD的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)及方法

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110694639.4
• 申請(qǐng)日: 2021-06-22
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN113407402A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-09-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 鄔東東;蔣能軍;閔艷鵬
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳豪杰創(chuàng)新電子有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/22
• 分類號(hào): G06F11/22;G06F11/26
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 徐麗

本發(fā)明提供了一種SSD的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)及方法，涉及SSD測(cè)試的技術(shù)領(lǐng)域，SSD自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)包括工控機(jī)以及與工控機(jī)連接的至少一個(gè)PC機(jī)和PLC控制系統(tǒng)；PLC控制系統(tǒng)還包括PLC設(shè)備，以及與PLC設(shè)備連接的傳動(dòng)設(shè)備；本發(fā)明提供的SSD的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)及方法，工控機(jī)可以通過(guò)PLC設(shè)備控制傳動(dòng)設(shè)備將待測(cè)試SSD傳動(dòng)到測(cè)試區(qū)與PC機(jī)電連接，以使PC機(jī)在接收到測(cè)試指令之后對(duì)固定治具上固定的所述待測(cè)試SSD進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試，整個(gè)自動(dòng)化測(cè)試過(guò)程無(wú)需人工干預(yù)，既可簡(jiǎn)化SSD的生產(chǎn)工藝，又能提高生產(chǎn)效率，同時(shí)降低了生產(chǎn)成本及人力成本，不僅實(shí)用性強(qiáng)，也進(jìn)一步提高了SSD的測(cè)試效率。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及SSD測(cè)試的技術(shù)領(lǐng)域，尤其是涉及一種SSD的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)

SSD(Solid State Disk，固態(tài)硬盤)相比機(jī)械硬盤，在速度上的優(yōu)勢(shì)非常明顯，在加載軟件和日常操作時(shí)的響應(yīng)速度非常快；通常，SSD由一塊PCB板，及安置在PCB板上的控制芯片，緩存芯片和用于存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的閃存芯片及一些電子物料組成，所以SSD相比機(jī)械硬盤擁有更輕的構(gòu)造，能讓PC機(jī)的重量以及體積進(jìn)一步降低；且，SSD相比機(jī)械硬盤還具有耐摔耐撞、無(wú)噪音等多數(shù)優(yōu)點(diǎn)。

隨著半導(dǎo)體技術(shù)快速發(fā)展，3D堆疊技術(shù)不斷創(chuàng)新，工藝良品率的提升等原因，使目前閃存顆粒價(jià)格下滑，也直接導(dǎo)致了SSD的價(jià)格下降，SSD現(xiàn)在已成為被終端客戶在配置PC時(shí)的首選硬盤；而隨著SSD需求量的提高，SSD廠家若想做出高性價(jià)比的產(chǎn)品，就必須盡可能的降低生產(chǎn)成本。

目前，SSD的生產(chǎn)測(cè)試工藝流程所占時(shí)間及成本較高，且，目前SSD的測(cè)試流程多為人工進(jìn)行測(cè)試，使得SSD對(duì)人力成本要求較多，人工測(cè)試時(shí)各工段銜接流程也比較繁瑣，不僅浪費(fèi)了大量的時(shí)間成本，也降低了SSD的測(cè)試效率。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本發(fā)明的目的在于提供一種SSD的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)及方法，以緩解上述技術(shù)問(wèn)題。

第一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種SSD的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，所述SSD自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)包括工控機(jī)，以及與所述工控機(jī)連接的至少一個(gè)PC機(jī)和PLC控制系統(tǒng)；所述工控機(jī)預(yù)先存儲(chǔ)有每個(gè)所述PC機(jī)的標(biāo)識(shí)；所述PLC控制系統(tǒng)還包括PLC設(shè)備，以及與所述PLC設(shè)備連接的傳動(dòng)設(shè)備；所述工控機(jī)用于響應(yīng)作用于所述SSD的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的啟動(dòng)操作，向所述PLC設(shè)備發(fā)送觸發(fā)信號(hào)，以觸發(fā)所述PLC設(shè)備控制所述傳動(dòng)設(shè)備將待測(cè)試SSD從預(yù)設(shè)的放置區(qū)域傳動(dòng)到預(yù)設(shè)的測(cè)試區(qū)，以使所述待測(cè)試SSD與所述PC機(jī)電連接；所述PLC設(shè)備用于監(jiān)測(cè)所述待測(cè)試SSD放置到所述測(cè)試區(qū)的確認(rèn)信號(hào)，并在監(jiān)測(cè)到所述確認(rèn)信號(hào)之后向所述工控機(jī)發(fā)送連接指令；所述工控機(jī)還用于在接收到所述連接指令時(shí)，向至少一個(gè)所述PC機(jī)發(fā)送測(cè)試指令；所述PC機(jī)用于在接收到所述測(cè)試指令之后，按照預(yù)設(shè)的測(cè)試邏輯啟動(dòng)預(yù)先存儲(chǔ)的測(cè)試算法，以對(duì)所述測(cè)試區(qū)的所述待測(cè)試SSD進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試。

優(yōu)選地，在一種可能的實(shí)施方式中，上述預(yù)設(shè)的所述放置區(qū)用于放置多個(gè)按照預(yù)設(shè)陣列排布的所述待測(cè)試SSD；所述測(cè)試區(qū)配置有用于固定所述待測(cè)試SSD的固定治具；所述固定治具包括互相配合的第一測(cè)試治具和第二測(cè)試治具，其中，所述第一測(cè)試治具用于固定所述待測(cè)試SSD，所述第二測(cè)試治具用于當(dāng)所述待測(cè)試SSD固定在所述第一測(cè)試治具時(shí)，使所述待測(cè)試SSD與對(duì)應(yīng)的所述PC機(jī)電連接。

優(yōu)選地，在一種可能的實(shí)施方式中，上述第一測(cè)試治具包括至少一個(gè)用于固定所述待測(cè)試SSD的測(cè)試槽；每個(gè)所述測(cè)試槽配置有第一測(cè)試接口，當(dāng)所述待測(cè)試SSD放置到所述測(cè)試槽時(shí)，所述第一測(cè)試接口與所述待測(cè)試SSD電連接。

優(yōu)選地，在一種可能的實(shí)施方式中，上述第二測(cè)試治具包括至少一個(gè)與所述第一測(cè)試接口對(duì)應(yīng)的第二測(cè)試接口；所述第二測(cè)試接口還與所述PC機(jī)的測(cè)試接口連接，以便于當(dāng)所述待測(cè)試SSD固定在所述第一測(cè)試治具時(shí)，通過(guò)所述第一測(cè)試接口和所述第二測(cè)試接口使所述待測(cè)試SSD與對(duì)應(yīng)的所述PC機(jī)電連接。